Strony
- Phenom Pro
- Phenom ProX
- Phenom Pure
- Prezentacja Phenom Pharos G2
- Prezentacja Phenom Pharos G2
- Prezentacja Phenom Pharos G2
- Specjalista aplikacyjny
- Aktualności
- Kontakt
- Home
- Medite- testy COVID-19
- Medycyna
- Barwienie
- Biodrukarki 3D
- Biomechanika
- Histopatologia
- Medite
- Automat do zaklejania szkiełek taśmą Twister
- Automatyczny mikrotom rotacyjny A550
- Elektryczny pisak grawerski EDS 20
- Jednostka chłodząca TKF 22
- Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 35
- Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 45
- Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 55
- Manualny mikrotom rotacyjny M380
- Modułowy system do zatapiania tkanek TES 99
- Modułowy system do zatapiania w parafinie TES Valida®
- Pinceta podgrzewana eCep
- Płyta chłodząca COP 30
- Płyta chłodząca TES 99
- Płyta chłodząca TES VALIDA
- Płyty rozciągające OTS 40
- Pół-automatyczny mikrotom rotacyjny M530
- Pół-automatyczny wolnostojący kriostat M630
- Procesor tkankowy SureThin
- Procesor tkankowy TPC 15 Duo/Trio
- Programowalna automatyczna barwiarka TST 44
- Stołowy pochłaniacz oparów TAZ 19
- Suszarka do szkiełek TDO Sahara
- Ultradźwiękowy automat do odwapniania USE 33
- Urządzenie do filtrowania parafiny L15
- Medite
- Immunohistochemia
- Mikroskopia FT-IR
- Mikroskopia optyczna
- Leica Microsystems
- Mikroskop cyfrowy Emspira 3
- Mikroskop Leica DM6 M do badania czystości technicznej z laserowym analizatorem składu chemicznego (LIBS)
- Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3
- Mikroskopy DM4 i DM6
- Mikroskopy i makroskopy porównawcze
- Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
- Mikroskopy stereoskopowe klasy badawczej Leica M125C, M205C
- Stereomikroskopy Leica M50, M60 i M80
- Leica Microsystems
- Obrazowanie
- Preparatyka próbek
- Denton Vacuum
- Leica Microsystems
- Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
- Łamarka do noży szklanych EM KMR3
- Napylarka niskorpóżniowa EM ACE 200
- Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
- Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
- System do Freeze Fracture Leica EM ACE900
- System trymujący RAPID
- System witryfikacji próbek Leica EM GP2
- System zamrażania próbek EM ICE
- Ultramikrotom Leica EM UC7
- Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
- Urządzenie do kontrastowania Leica AC20
- Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
- Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
- Spektrometry FT-IR
- Testy na przeciwciała SARS-CoV-2
- Nauka
- Analiza komórkowa
- Analizatory gazów
- Analizatory nanocząstek
- Analizatory składu chemicznego
- Biodrukarki 3D
- Biomechanika
- Materiały eksploatacyjne
- Metalografia
- LamPlan
- Cutlam Micro 3.0
- MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
- MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
- MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
- Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym SMARTLAM 3.0
- Polerka manualna SMARTLAM 2.0
- Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
- Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 1.1
- Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 2.0
- Materiały eksploatacyjne
- LamPlan
- Mikroskopia elektronowa
- Mikroskopia FT-IR
- Mikroskopia optyczna
- Leica Microsystems
- Mikroskop cyfrowy Emspira 3
- Mikroskop Leica DM6 M do badania czystości technicznej z laserowym analizatorem składu chemicznego (LIBS)
- Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3
- Mikroskopy badawcze DM4 i DM6
- Mikroskopy i makroskopy porównawcze
- Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
- Mikroskopy stereoskopowe klasy badawczej Leica M125C, M205C
- Mikroskopy stereoskopowe M50, M60 i M80
- Leica Microsystems
- Mikroskopia sił atomowych
- Preparatyka
- 3D MICROMAC
- Fischione
- Automatyczna elektropolerka z podwójną dyszą
- Kontener do próżniowego przechowywania holderów TEM model 9010
- Manualny ścieniacz próbek Model 160
- Model 1063- System do ścieniania jonowego WaferMill – delayering solution
- Model 2021 – Uchwyt o niskim tle tomografii
- Model 2030 – Uchwyt o wąskiej szczelinie do Tomografii TEM
- Model 2040 – Uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
- Model 2045 – Zmotoryzowany uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
- Model 2050 Uchwyt rotacyjny w osi do Tomografii TEM
- Model 2560 – Uchwyt do próżniowego transferu dla tomografi TEM
- Nanościeniarka jonowa do mikroskopii transmisyjnej TEM
- Narzędzie do mechanicznego wycinania próbek TEM
- Próżniowa stacja pompująca model 9020
- Stacja pompująca turbo – Model 9030
- System czyszczenia plazmą Fischione 1070 NanoClean
- System oczyszczania plazmą – model 1020
- System przygotowania próbek TEM Picomill 1080
- Uchwyt do tomografii TEM Fischione 2020
- Uchwyt mrożeniowy do tomografii TEM – Fischione model 2550
- Urządzenie do dimplowania próbek TEM
- Urządzenie do ultradźwiękowego wycinania próbek
- Zestaw do przygotowania sekcji xtem
- IBSS
- Kammrath-Weiss
- Moduł rotacja pochył
- Moduł rozciągający do włókien
- Moduł rozciągający w skali mikro
- Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
- Moduł XYRT
- Moduł zginający 200N dla 3 i 4 punktowego zginania
- Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok z góry)
- Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok boczny)
- Stolik dedykowany do dużych komór mikroskopowych
- Stoliki grzewcze/ chłodzące
- System przenoszenia próbek SEM
- Sytem Lift-out
- Uchwyt do próbek o niestandardowych kształtach
- Uchwyt próbki do mikrosondy laserowej
- Uniwersalny uchwyt do próbek
- Urządzenie do łączenia włókien szklanych
- Urządzenie do testu pełzania i ścinania układów elektronicznych na płytkach PCB
- Leica Microsystems
- Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
- Łamarka do noży szklanych EM KMR3
- Napylarka niskopróżniowa EM ACE 200
- Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
- Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
- System do Freeze Fracture Leica EM ACE900
- System trymujący EM RAPID
- System witryfikacji próbek Leica EM GP2
- System zamrażania próbek EM ICE
- Ultramikrotom Leica EM UC7
- Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
- Urządzenie do kontrastowania Leica AC20
- Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
- Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
- Materiały eksploatacyjne
- Spektrometry FT-IR
- Spektrometry FT-NIR
- Spektrometry i mikroskopy Ramana
- Tagarno
- Źródła promieniowania i optyka rentgenowska
- Obrazowanie
- Partnerzy
- Phenom Pharos
- Praca
- PROJEKTY B+R
- Przemysł
- Analizatory gazów
- Analizatory nanocząstek
- Analizatory składu chemicznego
- Czystość Techniczna
- Cleanpart’ner
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS1- CLEANPART’NER
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS2- CLEANPART’NER
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS3- CLEANPART’NER
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS4- CLEANPART’NER
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS5- CLEANPART’NER
- Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS6- CLEANPART’NER
- Leica Microsystems
- Microvision Instruments
- PMT MessTechnik
- SITA
- Thermofisher Scientfic
- Cleanpart’ner
- Metalografia
- LamPlan
- Automatyczna przecinarka Cutlam Micro 3.0
- MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
- MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
- MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
- Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
- Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
- Przecinarka Cutlam Micro 1.1
- Przecinarka laboratoryjna Cutlam Micro 2.0
- SMARTLAM 2.0 Polerka manualna
- SMARTLAM 3.0 , Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym.
- Materiały eksploatacyjne
- Prasy do inkludowania
- Przecinarki metalograficzne abrazyjne
- Przecinarki precyzyjne
- LamPlan
- Mikroskopia elektronowa
- Bruker
- Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
- Analizator elementarny G8 Galileo ONH
- Detektor EDS XFlash®7 dla mikroskopii elektronowej SEM oraz FIB
- Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
- Detektor Quantax WDS
- G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
- S1 Tracer 5
- Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
- Spektrometr iskrowy Q2 Ion
- Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
- Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
- Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
- Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
- System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
- System Quantax Micro-XRF
- Delmic
- Delong
- Nanomegas
- Protochips
- ThermoFisher Scientific
- Bruker
- Mikroskopia FT-IR
- Mikroskopia optyczna
- Leica Microsystems
- Mikroskop cyfrowy Emspira 3
- Mikroskop Leica DM6 M do badania czystości technicznej z laserowym analizatorem składu chemicznego (LIBS)
- Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3
- Mikroskopy badawcze DM4 i DM6
- Mikroskopy i makroskopy porównawcze
- Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
- Mikroskopy stereoskopowe klasy badawczej Leica M125C, M205C
- Mikroskopy stereoskopowe M50, M60 i M80
- Leica Microsystems
- Obrazowanie w przemyśle
- Spektrometry FT-IR
- Spektrometry FT-NIR
- Spektrometry i mikroskopy Ramana
- Tagarno
- Wideoskopy
- PRZYKŁADOWY PLIK DO POBRANIA
- Serwis
- Urządzenia próżniowe
- Mierniki próżni
- Pompa tłokowa Stokes Microvac
- Pompy dyfuzyjne
- Pompy i systemy suche (średnie i duże)
- Pompy i systemy suche do zastosowań niebezpiecznych
- POMPY OLEJOWE ( średnie i duże)
- Pompy olejowe (małe)
- Pompy próżniowe iXL
- Pompy suche (małe)
- Pompy suche iGX
- Pompy turbomolekularne
- Pompy turbomolekularne EPX
- Vacuum Pumps
- Phenom ParticleX TC
Archiwa
Kategorie
- Bez kategorii (28)