Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X

  • Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Leica EM TIC 3X to system ścieniania wiązką jonową, wykorzystujący trzy działa jonowe, dostosowany do potrzeb nowych aplikacji w mikroskopii świetlnej i mikroskopii SEM. Pozwala użytkownikowi na przygotowanie wielu rodzajów próbek oraz dostosowanie w szybki sposób urządzenia do zmieniających się potrzeb, m.in. dzięki zastosowaniu stolika rotacyjnego lub stolika z chłodzeniem, dedykowanego dla próbek termicznie wrażliwych.

Specyfikacja

System Leica EM TIC3X zapewnia największy obszar przekroju, aby zaoferować najwyższą wydajność analiz. Cechą unikalną jest najwyższa prędkość i największy jednolity obszar dla techniki płaskiego polerowania (polerowanie wiązką jonową). Dodatkowo urządzenie zapewnią szybki przepływ pracy wykorzystując synergię z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje zminimalizowany.

  • Energia jonów: 1 keV do 10 keV
  • Prąd źródła: 0,5 do 4,5 mA / 0,1 mA (na źródło jonów)
  • Gęstość prądu 10 mA/cm² (na źródło jonów)
  • Średnica wiązki jonów: 0,8 mm (przy 10 keV), 2,5 mm (przy 2 keV)
  • Żywotność katody > 350 h dla 8 kV, 3 mA

Doposażenie

  • Stolik STANDARD (największy rozmiar próbek: 50x50x10mm)
  • COOLING STAGE (chłodzenie uchwytu próbki oraz maski; zakres temperaturowy 30° do -160°C)
  • MULTIPLE STAGE (stolik trzypozycyjny)
  • ROTARY STAGE (stolik rotacyjny, max. rozmiar próbki Ø 38mm / 12mm grubość)
  • Doposażenie w port VCT do transferu próbek w próżni lub aplikacji cryo.

 

 

Materiały eksploatacyjne

Przewodząca taśma metalowa

TAŚMA MIEDZIANA DWUSTRONNA

Plastikowe pudełka do przechowywania próbek

Plastikowe pudełka do przechowywania próbek


Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.