Czystość techniczna pod lupą – relacja z Technical Cleanliness Forum

Mieliśmy przyjemność wziąć udział w wydarzeniu Technical Cleanliness Forum, które zgromadziło ekspertów, inżynierów jakości oraz przedstawicieli przemysłu zainteresowanych nowoczesnymi metodami analizy czystości technicznej komponentów. Spotkanie stanowiło doskonałą okazję do zaprezentowania najnowocześniejszych technologii do kontroli zanieczyszczeń stałych, zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA 19.1, które mają kluczowe znaczenie dla jakości i niezawodności procesów produkcyjnych w branżach takich jak automotive, lotnictwo, elektronika precyzyjna, czy produkcja medyczna. 🔬 Co zaprezentowaliśmy? 🧪 ThermoFisher ParticleX TC – skaningowy mikroskop elektronowy SEM,który umożliwia szybkie zliczanie cząstek zanieczyszczeń oraz analizę ich składu chemicznego. To rozwiązanie idealne dla działów jakości i laboratoriów analizujących czystość komponentów technicznych. 🔍 Leica DM6 M Cleanliness Expert – mikroskop optyczny do analizy czystości technicznej,stworzony z myślą o pełnej zgodności z wymaganiami VDA 19 i ISO 16232. Uczestnicy mogli przekonać się, jak intuicyjna obsługa i wbudowane oprogramowanie usprawniają codzienną kontrolę jakości. 💧 CleanPArt'ner DSS2 – stacja ekstrakcyjna,która umożliwia wydajne pozyskiwanie cząstek zanieczyszczeń z powierzchni komponentów i przygotowanie ich do dalszej analizy. Rozwiązanie cieszyło się dużym zainteresowaniem ze względu na praktyczne zastosowanie w kontroli procesów produkcyjnych. 📈 SITA Messtechnik GmbH – urządzenia do monitorowania skuteczności procesów mycia,wspierające utrzymanie stabilnych parametrów czyszczenia, pozwalające spełnić najwyższe standardy czystości w branży. Podczas wydarzenia uczestnicy wymieniali doświadczenia i najlepsze praktyki dotyczące: poprawy efektywności i powtarzalności analiz czystości w liniach produkcyjnych. spełniania norm czystości technicznej (ISO/VDA), wdrażania systemów kontroli jakości komponentów przemysłowych, integracji mikroskopii elektronowej SEM i analizy optycznej w ramach codziennych procedur kontroli, Technical Cleanliness Forum potwierdziło, jak ogromne znaczenie ma dziś precyzyjna analiza zanieczyszczeń technicznych w zapewnianiu jakości i niezawodności produktów. Jako PIK Instruments mieliśmy przyjemność zaprezentować światowej klasy rozwiązania, które realnie wspierają naszych klientów w spełnianiu coraz bardziej rygorystycznych wymagań. Dziękujemy wszystkim uczestnikom za inspirujące rozmowy i duże zainteresowanie prezentowanymi technologiami!

[NOWOŚĆ] Leica Visoria M - Mikroskop materiałoznawczy

Z przyjemnością informujemy, że do oferty PIK Instruments dołączył nowy, innowacyjny mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M – najnowszy przedstawiciel linii mikroskopów Visoria od renomowanego producenta Leica Microsystems. Mikroskop Visoria M to idealne rozwiązanie dla specjalistów pracujących w przemyśle metalowym, elektronicznym, polimerowym oraz w laboratoriach nauk o materiałach. Został zaprojektowany z myślą o codziennej pracy – zapewnia nie tylko wysoką jakość obrazu, ale także wyjątkową wygodę użytkowania. Kluczowe zalety mikroskopu Visoria M: Zwiększona efektywność pracy – dzięki funkcjom z kodowaniem i zoptymalizowanym ustawieniom oświetlenia, Komfort użytkownika – ergonomiczna konstrukcja pozwala na długotrwałą pracę bez nadmiernego obciążenia, Nowoczesna technologia – dostosowana do wymagań współczesnych laboratoriów i linii produkcyjnych. Dzięki Visoria M możesz usprawnić swoje procesy kontrolne i badawcze, a także poprawić komfort codziennej pracy z mikroskopem. Więcej informacji na: https://pik-instruments.pl/mikroskop-materialoznawczy-leica-visoria-m/

Leica Ivesta 3 - szybka i precyzyjna inspekcja w zasięgu ręki

W dzisiejszym dynamicznym środowisku przemysłowym szybka i wiarygodna inspekcja to podstawa skutecznej kontroli jakości. Odpowiednie narzędzia potrafią znacząco przyspieszyć procesy, minimalizując ryzyko błędów i podnosząc efektywność całego systemu produkcyjnego. Właśnie z myślą o takich zastosowaniach powstała linia produktów Leica Enersight. Leica Ivesta 3 – nowy standard ergonomicznej inspekcji Sercem serii Enersight jest Leica Ivesta 3 – nowoczesne urządzenie łączące zaawansowaną optykę, wysoką głębię ostrości oraz intuicyjną obsługę. To rozwiązanie stworzone z myślą o szybkim i dokładnym obrazowaniu elementów w warunkach produkcyjnych. Co wyróżnia Ivesta 3? Obserwacja bez zakłóceń – wysokiej klasy optyka zapewnia ostry, czytelny obraz nawet przy dużych różnicach głębokości, Wysokorozdzielcza kamera – umożliwia szczegółową dokumentację i pomiary, Wbudowane oprogramowanie – pozwala na pracę bez komputera, co upraszcza i przyspiesza cały proces inspekcji. Dzięki Ivesta 3 proces kontroli jakości staje się nie tylko dokładny, ale też wygodny i wydajny – idealne rozwiązanie dla działów produkcyjnych, kontroli jakości czy laboratoriów inżynieryjnych. Więcej informacji na: https://pik-instruments.pl/mikroskop-stereoskopowy-leica-ivesta-3/