FlexAFM (AXIOM)

  • Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Mikroskop sił atomowych FlexAXIOM to idealna wydajna platforma do badań materiałów inżynierskich. Niskoszumowa wysokorozdzielcza głowica zapewnia najwyższy stosunek wartości dodanej do ceny, natomiast modułowa budowa mikroskopu umożliwia rozbudowę w kierunku, zgodnym z realizowanym programem badawczym.

W zależności od aplikacji system FlexAXIOM może zostać skonfigurowany do pracy w temperaturze od -35 do +250°C, w próżni lub w atmosferze gazu obojętnego. System umożliwia również badanie powierzchni materiałów w środowisku kontrolowanym elektrochemicznie na płaskich próbkach oraz na prętach.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania, która umożliwia pomiary  próbek każdego rodzaju. Zakres skanowania powierzchni wynosi 100 x 100 x 10 µm, z opcją rozszerzenia zakresu w osi Z do 15µm lub nawet 115 µm, dla głowicy FlexAFM 100µm, lub 10 x 10 x 3 µm dla głowicy FlexAFM 10µm, ciekawą opcją jest również możliwość łączenia ze sobą kolejnych obszarów skanowania w celu powiększenia analizowanej powierzchni.

Najnowszy model mikroskopu FlexAFM posiada nowoczesny całkowicie cyfrowy kontroler C3000 umożliwiający osiągniecie pełnej 24 bitowej precyzji sterowania układu skanowania i akwizycji, niezależnie od pozycji oraz zakresu skanowania.

Mikroskop FlexAFM pracuje w oparci o autonomiczne oprogramowanie C3000, które zawiera standardowe moduły akwizycji danych oraz podstawowe opcje analizy.

Specyfikacja

Wielkość próbki <50mm

Maksymalna wysokość próbki 5-10mm

Z automatycznego przesuwu w osi Z 10 mm

Zmotoryzowany zakres zbliżania sondy do powierzchni  5 mm

Zakres skanowania w osi X-Y 100 x 100µm lub 10×10 µm

Zakres skanowania w osi Z 10 µm  lub 3 µm

Szum detektora podczas pomiaru (RMS, tryb dynamiczny w powietrzu) 40 pm

Przetworniki cyfrowo-analogowe 3 x 24 bit DAC (200 kHz) dla każdej osi (X,Y,Z)

Przetworniki analogowo – cyfrowe 3 x 24 bit ADC (200 kHz) dla każdej osi (X,Y,Z)

Wymiary mikroskopu 145 mm x 158 mm x 53 mm

Waga  <2 kg

Doposażenie

Uchwyt do szalek Petriego

Uchwyt próbek z grzaniem w zakresie od RT do 250 °C

Uchwyt próbek z grzaniem i chłodzeniem w zakresie od -35 °C do 180 °C

Uchwyt próbki z generatorem zmiennego pola magnetycznego

Uchwyt próbki do pomiarów elektrycznych C-AFM, KPFM, SSRM

Komórka atmosferyczna / środowiskowa pozwalająca na pracę w kontrolowanej atmosferze i wilgotności.

Uchwyt do pracy w środowisku kontrolowanym elektrochemicznie

Materiały eksploatacyjne

Wzorzec referencyjny AFM 145nm

Płytki z miki

PPP-NCL-Au – Nanosensors

Pudełka Agar do przechowywania metalowych dysków do AFM&SPM

 

Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.