• Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Mikroskop sił atomowych LENS AFM to idealne rozwiązanie, które rozszerza możliwości mikroskopii optycznej.

Mikroskop LENS AFM można zamontować na każdym mikroskopie optycznym w układzie prostym. Urządzenie pozwala na obserwacje powierzchni z nanometryczną zdolnością rozdzielczą, która wcześniej była zarezerwowana tylko dla wysokorozdzielczych skaningowych mikroskopów elektronowych.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy zależy od wybranej wersji dla LENS AFM 110u jest to 110 x 110 x 22 µm, natomiast dla LENS AFM 70u jest to 70 x 70 x 14 µm.

Mikroskop LENS AFM dzięki wykorzystaniu technologii automatycznego pozycjonowania sondy (Auto Align) pozwala na pracę nawet niedoświadczonym użytkownikom.

Specyfikacja

Wielkość próbki jak w mikroskopie optycznym

Maksymalna wysokość próbki jak w mikroskopie optycznym

Automatyczny przesuw w osi Z jak w mikroskopie optycznym

Zmotoryzowany zakres zbliżania sondy do powierzchni  4,5 mm

Zakres skanowania w osi X-Y 100 x 100µm lub 70×70 µm

Zakres skanowania w osi Z 22 µm  lub 14 µm

Szum detektora podczas pomiaru (RMS, tryb dynamiczny w powietrzu) 90 pm

Przetworniki cyfrowo-analogowe 3 x 24 bit DAC (200 kHz) dla każdej osi (X,Y,Z)

Przetworniki analogowo – cyfrowe 3 x 24 bit ADC (200 kHz) dla każdej osi (X,Y,Z)

Doposażenie

Brak