Logo
  • Nauka
    • Preparatyka
      • Leica Microsystems
        • Napylarka niskopróżniowa EM ACE 200
        • Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
        • Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
        • Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
        • System witryfikacji próbek Leica EM GP2
        • System zamrażania próbek EM ICE
        • Łamarka do noży szklanych EM KMR3
        • Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
        • Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
        • Trymer do próbek Leica EM TRIM2
        • Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
        • Ultramikrotom Leica EM UC7
      • Fischione
        • Stacja pompująca turbo – Model 9030
        • Urządzenie do dimplowania próbek TEM
        • Automatyczna elektropolerka z podwójną dyszą
        • Uchwyt do tomografii TEM Fischione 2020
        • Model 2021 – Uchwyt o niskim tle tomografii
        • Kontener do próżniowego przechowywania holderów TEM model 9010
        • Manualny ścieniacz próbek Model 160
        • Nanościeniarka jonowa do mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Model 1063- System do ścieniania jonowego WaferMill – delayering solution
        • System przygotowania próbek TEM Picomill 1080
        • Model 2030 – Uchwyt o wąskiej szczelinie do Tomografii TEM
        • Model 2040 – Uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
        • Model 2045 – Zmotoryzowany uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
        • Model 2050 Uchwyt rotacyjny w osi do Tomografii TEM
        • Uchwyt mrożeniowy do tomografii TEM
        • Model 2560 – Uchwyt do próżniowego transferu dla tomografi TEM
        • System czyszczenia plazmą Fischione 1070 NanoClean
        • Narzędzie do mechanicznego wycinania próbek TEM
        • System oczyszczania plazmą – model 1020
        • Próżniowa stacja pompująca model 9020
        • Urządzenie do ultradźwiękowego wycinania próbek
        • Zestaw do przygotowania sekcji xtem
      • IBSS
        • Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro
        • System oczyszczania plazmą GV10X Asher
        • System oczyszczania plazmą GV/GA
        • Mobilny system oczyszczania plazmą MCA
      • 3D MICROMAC
        • Urządzenie do laserowej mikroobróbki microPrep™ PRO
      • Kammrath-Weiss
        • Moduł rozciągający w skali mikro
        • Moduł rozciągający do włókien
        • Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok z góry)
        • Moduł zginający 200N dla 3 i 4 punktowego zginania
        • Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok boczny)
        • Moduł rotacja pochył
        • Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
        • Moduł XYRT
        • Stolik dedykowany do dużych komór mikroskopowych
        • Stoliki grzewcze/ chłodzące
        • Sytem Lift-out
        • System przenoszenia próbek SEM
        • Urządzenie do testu pełzania i ścinania układów elektronicznych na płytkach PCB
        • Uchwyt do próbek o niestandardowych kształtach
        • Uchwyt próbki do mikrosondy laserowej
        • Uniwersalny uchwyt do próbek
        • Urządzenie do łączenia włókien szklanych
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia elektronowa
      • ThermoFisher Scientific
        • Axia chemiSEM
        • Phenom Pro
        • Phenom ProX
        • Phenom Pure
        • Phenom XL
        • Phenom ParticleX TC
        • Phenom GSR
        • Phenom Pharos
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
      • Bruker
        • System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Detektor Quantax WDS
        • System Quantax Micro-XRF
      • Delmic
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
        • SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
      • Protochips
        • Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
        • Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
        • Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
        • System in-situ Atmosphere
      • Nanomegas
        • Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
        • Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
      • Imina
        • Manipulator MiBot
        • Micromanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
        • Nanoomanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
      • Materiały eksploatacyjne
    • Analizatory składu chemicznego
      • IXRF
        • Atlas Micro-XRF – model X
        • Atlas Micro-XRF – model M
      • Spektrometry przenośne XRF
        • S1 Tracer 5
        • Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
        • Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
      • Spektrometry iskrowe
        • Spektrometr iskrowy Q2 Ion
        • Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
        • Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
      • Analizatory elementarne ONH/CS
        • Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
        • G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
        • Analizator elementarny G8 Galileo ONH
        • Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
    • Mikroskopia cyfrowa
      • Tagarno
        • Tagarno FHD ZIP
        • Tagarno FHD ZAP
        • Tagarno FHD Trend
        • Tagarno FHD Prestige
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia sił atomowych
      • Nanosurf
        • Alphacen 300 AFM
        • CoreAFM
        • FlexAFM (AXIOM)
        • FlexAFM (BIO)
        • FlexANA
        • Lens AFM
        • NaioAFM
        • NaioSTM
        • DriveAFM
      • Molecular Vista
        • VistaScope
      • KM Labs
      • Materiały eksploatacyjne
    • Biomechanika
      • Cell Scale
        • Univert
        • MicroTester LT
        • MicroTester G2
        • BioTester-Biaxial Tester
    • Metalografia
      • LamPlan
        • Polerka manualna SMARTLAM 2.0
        • Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym SMARTLAM 3.0
        • MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
        • MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
        • MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
        • Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
        • Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 1.1
        • Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 2.0
        • Cutlam Micro 3.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
      • Materiały eksploatacyjne
    • Materiały eksploatacyjne
  • Przemysł
    • Metalografia
      • LamPlan
        • SMARTLAM 2.0 Polerka manualna
        • SMARTLAM 3.0 , Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym.
        • MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
        • MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
        • MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
        • Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
        • Przecinarka Cutlam Micro 1.1
        • Przecinarka laboratoryjna Cutlam Micro 2.0
        • Automatyczna przecinarka Cutlam Micro 3.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
      • Materiały eksploatacyjne
    • Czystość Techniczna
      • Cleanpart’ner
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS1- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS2- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS3- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS4- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS5- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS6- CLEANPART’NER
      • SITA
        • CleanoSpector
        • Conspector
        • Dynotester+
        • FoamTester
        • SurfaSpector
    • Wideoskopy
      • Mitcorp
        • Mitcorp X-500
        • Mitcorp MX-1000
        • Mitcorp X-1000 PLUS
        • Mitcorp X-2000
    • Analizatory składu chemicznego
      • Spektrometry przenośne XRF
        • S1 Tracer 5
        • Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
        • Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
      • Spektrometry iskrowe
        • Spektrometr iskrowy Q2 Ion
        • Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
        • Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
      • Analizatory elementarne ONH/CS
        • Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
        • G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
        • Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
        • Analizator elementarny G8 Galileo ONH
    • Analizatory nanocząstek
      • Cordouan Technologies
        • Vasco
        • Vasco Kin
        • Amerigo
        • Wallis
    • Mikroskopia elektronowa
      • ThermoFisher Scientific
        • Axia chemiSEM
        • Phenom Pro
        • Phenom ProX
        • Phenom Pure
        • Phenom XL
        • Phenom ParticleX TC
        • Phenom GSR
        • Phenom Pharos
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
      • Bruker
        • System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
        • Detektor Quantax WDS
        • System Quantax Micro-XRF
      • Delmic
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
        • SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
      • Protochips
        • Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
        • Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
        • Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
        • System in-situ Atmosphere
      • Nanomegas
        • Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
        • Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia cyfrowa
      • Tagarno
        • Tagarno FHD ZIP
        • Tagarno FHD ZAP
        • Tagarno FHD Trend
        • Tagarno FHD Prestige
      • Materiały eksploatacyjne
    • Materiały eksploatacyjne
  • Medycyna
    • Obrazowanie
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
      • Precipoint
        • PreciPoint M8
        • Precipoint O8
      • Cytosmart
        • CytoSMART Omni
        • CytoSMART LUX2
        • CytoSMART LUX3 FL
    • Histopatologia
      • Medite
        • Automatyczny mikrotom rotacyjny A550
        • Barwiarka liniowa COT 20
        • Elektryczny pisak grawerski EDS 20
        • Jednostka chłodząca TKF 22
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 55
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 45
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 35
        • Manualny mikrotom rotacyjny M380
        • Modułowy system do zatapiania tkanek TES 99
        • Modułowy system do zatapiania w parafinie TES Valida®
        • Nakrywarka RCM 9000
        • Pinceta podgrzewana eCep
        • Płyta chłodząca COP 30
        • Płyty rozciągające OTS 40
        • Pół-automatyczny mikrotom rotacyjny M530
        • Pół-automatyczny wolnostojący kriostat M630
        • Procesor tkankowy SureThin
        • Procesor tkankowy TPC 15 Duo/Trio
        • Programowalna automatyczna barwiarka TST 44
        • Stołowy pochłaniacz oparów TAZ 19
        • Suszarka do szkiełek TDO Sahara
        • Urządzenie do filtrowania parafiny L15
        • Medite- testy COVID-19
      • Medite – MicroShop
    • Biomechanika
      • CellScale
    • Preparatyka próbek
      • Leica Microsystems
        • Napylarka niskorpóżniowa EM ACE 200
        • Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
        • Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
        • Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
        • System witryfikacji próbek Leica EM GP2
        • System zamrażania próbek EM ICE
        • Łamarka do noży szklanych EM KMR3
        • Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
        • Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
        • Trymer do próbek Leica EM TRIM2
        • Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
        • Ultramikrotom Leica EM UC7
    • Materiały eksploatacyjne
  • Serwis
  • MICRO-SHOP
  • Laboratorium B+R
  • Aktualności
  • Projekty B+R
  • Partnerzy
  • Kontakt
Unia Europejska - Europejski Fundusz Rozwoje Regionalnego
Zadzwoń: +48 22 726 74 96
  • PL
  • ENG
TWORZYMY PIĄTY WYMIAR MIKROSKOPII
ALL RIGHTS RESERVED
COPYRIGHT 2021
PIK INSTRUMENTS

Nanosurf

Nauka / Mikroskopia sił atomowych / Nanosurf
Alphacen 300 AFM

Alphacen 300 AFM

CoreAFM

CoreAFM

DriveAFM

DriveAFM

FlexAFM (AXIOM)

FlexAFM (AXIOM)

FlexAFM (BIO)

FlexAFM (BIO)

FlexANA

FlexANA

Lens AFM

Lens AFM

NaioAFM

NaioAFM

NaioSTM

NaioSTM