Nauka
Preparatyka
Leica Microsystems
Ultramikrotom Leica EM UC7
Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
Trymer do próbek Leica EM TRIM2
Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
Łamarka do noży szklanych EM KMR3
System zamrażania próbek EM ICE
System witryfikacji próbek Leica EM GP2
Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
Napylarka niskopróżniowa EM ACE 200
System do Freeze Fracture Leica EM ACE900
Leica EM RES102
System trymujący EM RAPID
Urządzenie do kontrastowania Leica AC20
Fischione
Stacja pompująca turbo – Model 9030
Urządzenie do dimplowania próbek TEM
Automatyczna elektropolerka z podwójną dyszą
Uchwyt do tomografii TEM Fischione 2020
Model 2021 – Uchwyt o niskim tle tomografii
Kontener do próżniowego przechowywania holderów TEM model 9010
Manualny ścieniacz próbek Model 160
Nanościeniarka jonowa do mikroskopii transmisyjnej TEM
Model 1063- System do ścieniania jonowego WaferMill – delayering solution
System przygotowania próbek TEM Picomill 1080
Model 2030 – Uchwyt o wąskiej szczelinie do Tomografii TEM
Model 2040 – Uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
Model 2045 – Zmotoryzowany uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
Model 2050 Uchwyt rotacyjny w osi do Tomografii TEM
Uchwyt mrożeniowy do tomografii TEM – Fischione model 2550
Model 2560 – Uchwyt do próżniowego transferu dla tomografi TEM
System czyszczenia plazmą Fischione 1070 NanoClean
Narzędzie do mechanicznego wycinania próbek TEM
System oczyszczania plazmą – model 1020
Próżniowa stacja pompująca model 9020
Urządzenie do ultradźwiękowego wycinania próbek
Zestaw do przygotowania sekcji xtem
IBSS
Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro
System oczyszczania plazmą GV10X Asher
System oczyszczania plazmą GV/GA
Mobilny system oczyszczania plazmą MCA
3D MICROMAC
Urządzenie do laserowej mikroobróbki microPrep™ PRO
Kammrath-Weiss
Moduł rozciągający w skali mikro
Moduł rozciągający do włókien
Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok z góry)
Moduł zginający 200N dla 3 i 4 punktowego zginania
Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok boczny)
Moduł rotacja pochył
Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
Moduł XYRT
Stolik dedykowany do dużych komór mikroskopowych
Stoliki grzewcze/ chłodzące
Sytem Lift-out
System przenoszenia próbek SEM
Urządzenie do testu pełzania i ścinania układów elektronicznych na płytkach PCB
Uchwyt do próbek o niestandardowych kształtach
Uchwyt próbki do mikrosondy laserowej
Uniwersalny uchwyt do próbek
Urządzenie do łączenia włókien szklanych
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia elektronowa
ThermoFisher Scientific
Phenom Pharos
Phenom GSR
Phenom ParticleX TC
Phenom XL
Phenom Pure
Phenom ProX
Phenom Pro
Axia chemiSEM
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Bruker
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
Detektor Quantax WDS
System Quantax Micro-XRF
S1 Tracer 5
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
Delmic
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
Ultraszybki zautomatyzowany wielowiązkowy mikroskop elektronowy – FAST -EM
Protochips
Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
System in-situ Atmosphere
Nanomegas
Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
Imina
Manipulator MiBot
Micromanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
Nanoomanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
Materiały eksploatacyjne
Analizatory składu chemicznego
IXRF
Atlas Micro-XRF – model M
Atlas Micro-XRF – model X
Spektrometry przenośne XRF
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
S1 Tracer 5
Spektrometry iskrowe
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizatory elementarne ONH/CS
Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
Mikroskopia sił atomowych
Nanosurf
Alphacen 300 AFM
CoreAFM
FlexAFM (AXIOM)
FlexAFM (BIO)
FlexANA
Lens AFM
NaioAFM
NaioSTM
DriveAFM
Molecular Vista
VistaScope
KM Labs
Hyperion VUV – vacuum ultraviolet source
Platforma Pantheon ™ pulsacyjne źródło fotonów EUV
Laser Ti: szafir
źródła KUUAB ™ XUUS ™ Extreme UV
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia optyczna
Leica Microsystems
Stereomikroskopy Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A
Stereomikroskopy Leica M50, M60 i M80
Stereomikroskopy Greenough serii S9
Mikroskop cyfrowy Emspira 3
Makroskop Z16 APO
Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
Mikroskopy DM4 i DM6
Biomechanika
Cell Scale
BioTester-Biaxial Tester
MicroTester G2
MicroTester LT
Univert
Metalografia
LamPlan
Polerka manualna SMARTLAM 2.0
Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym SMARTLAM 3.0
MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 1.1
Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 2.0
Cutlam Micro 3.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia FT-IR
Bruker
Mikroskop FT-IR LUMOS II
Mikroskop badawczy FTIR HYPERION
Spektrometry FT-IR
Bruker
Spektrometr FT-IR Alpha II
Spektrometr FT-IR Invenio
Spektrometr FT-IR VERTEX
Źródła promieniowania i optyka rentgenowska
Optyka DCC (Double Curved Crystal)
fleX-Beam
Optyka polikapilarna
DCC X-Beam
Optyka monokapilarna
Spektrometry FT-NIR
Bruker
Spektrometry i mikroskopy Ramana
Moduł FT-Raman RAM II
Ręczny spekrometr Ramana BRAVO
Spektrometr FT-Raman MultiRAM
Mikroskop Raman SENTERRA II
Analizatory gazów
OMEGA 5
Matrix MG
Materiały eksploatacyjne
Przemysł
Metalografia
LamPlan
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
Przecinarka Cutlam Micro 1.1
Przecinarka laboratoryjna Cutlam Micro 2.0
Automatyczna przecinarka Cutlam Micro 3.0
MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
SMARTLAM 2.0 Polerka manualna
SMARTLAM 3.0 , Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym.
Materiały eksploatacyjne
Czystość Techniczna
Cleanpart’ner
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS1- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS2- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS3- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS4- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS5- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS6- CLEANPART’NER
SITA
FoamTester
Dynotester+
CleanoSpector
Conspector
SurfaSpector
Thermofisher Scientfic
Phenom ParticleX TC
Phenom Pharos
Phenom ProX
Phenom XL
MicroVision Instruments
Wideoskopy
Mitcorp
Mitcorp X-500
Mitcorp MX-1000
Mitcorp X-1000 PLUS
Mitcorp X-2000
Mitcorp X750
Spektrometry FT-NIR
Bruker
Spektrometr FT-NIR TANGO
Spektrometr FT-NIR Matrix-F
Analizatory składu chemicznego
Spektrometry przenośne XRF
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
S1 Tracer 5
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
Spektrometry iskrowe
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizatory elementarne ONH/CS
Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
Analizatory nanocząstek
XIGO
Analizator AcornArea
Cordouan Technologies
Vasco
Vasco Kin
Amerigo
Wallis
Mikroskopia elektronowa
ThermoFisher Scientific
Phenom Pharos
Phenom GSR
Phenom ParticleX TC
Phenom XL
Phenom Pure
Phenom ProX
Phenom Pro
Axia chemiSEM
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Bruker
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
Detektor Quantax WDS
System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
System Quantax Micro-XRF
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
S1 Tracer 5
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
Delmic
Ultraszybki zautomatyzowany wielowiązkowy mikroskop elektronowy – FAST -EM
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
Protochips
Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
System in-situ Atmosphere
Nanomegas
Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia optyczna
Leica Microsystems
Stereomikroskopy Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A
Stereomikroskopy Leica M50, M60 i M80
Stereomikroskopy Greenough serii S9
Mikroskop cyfrowy Emspira 3
Makroskop Z16 APO
Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
Mikroskopy DM4 i DM6
Mikroskopia FT-IR
Bruker
Mikroskop badawczy FTIR HYPERION
Mikroskop FT-IR LUMOS II
Spektrometry FT-IR
Bruker
Spektrometr FT-IR Alpha II
Spektrometr FT-IR Invenio
Spektrometr FT-IR VERTEX
Spektrometry i mikroskopy Ramana
Ręczny spekrometr Ramana BRAVO
Moduł FT-Raman RAM II
Spektrometr FT-Raman MultiRAM
Mikroskop Raman SENTERRA II
Analizatory gazów
OMEGA 5
Matrix MG
Materiały eksploatacyjne
Medycyna
Obrazowanie
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Cytosmart
CytoSMART LUX2
CytoSMART Omni
CytoSMART Lux2 Duo Kit
CytoSMART LUX3 FL
Licznik komórek Exact FL
Precipoint
Precipoint O8
PreciPoint M8
Histopatologia
Medite
Urządzenie do filtrowania parafiny L15
Suszarka do szkiełek TDO Sahara
Stołowy pochłaniacz oparów TAZ 19
Programowalna automatyczna barwiarka TST 44
Procesor tkankowy TPC 15 Duo/Trio
Procesor tkankowy SureThin
Pół-automatyczny wolnostojący kriostat M630
Pół-automatyczny mikrotom rotacyjny M530
Płyty rozciągające OTS 40
Płyta chłodząca COP 30
Pinceta podgrzewana eCep
Nakrywarka RCM 9000
Modułowy system do zatapiania w parafinie TES Valida®
Modułowy system do zatapiania tkanek TES 99
Manualny mikrotom rotacyjny M380
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 35
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 45
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 55
Jednostka chłodząca TKF 22
Elektryczny pisak grawerski EDS 20
Barwiarka liniowa COT 20
Automatyczny mikrotom rotacyjny A550
Medite - MicroShop
Biomechanika
CellScale
BioTester-Biaxial Tester
MicroTester G2
MicroTester LT
Univert
Preparatyka próbek
Leica Microsystems
System do Freeze Fracture Leica EM ACE900
Leica EM RES102
System trymujący RAPID
Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
System witryfikacji próbek Leica EM GP2
System zamrażania próbek EM ICE
Łamarka do noży szklanych EM KMR3
Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
Trymer do próbek Leica EM TRIM2
Ultramikrotom Leica EM UC7
Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
Napylarka niskorpóżniowa EM ACE 200
Urządzenie do kontrastowania Leica AC20
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia FT-IR
Bruker
Mikroskop badawczy FTIR HYPERION
Mikroskop FT-IR LUMOS II
Spektrometry FT-IR
Bruker
Spektrometr FT-IR Invenio
Spektrometr FT-IR VERTEX
Spektrometr FT-IR Alpha II
Mikroskopia optyczna
Leica Microsystems
Stereomikroskopy Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A
Stereomikroskopy Leica M50, M60 i M80
Stereomikroskopy Greenough serii S9
Mikroskop cyfrowy Emspira 3
Makroskop Z16 APO
Mikroskopy odwrócone DMi8 dla przemysłu
Mikroskopy DM4 i DM6
Materiały eksploatacyjne
Urządzenia próżniowe
Pompy olejowe (małe)
Olejowe pompy łopatkowe rotacyjne
Pompy olejowe E2M0.7 & E2M1.5
Pompy olejowe E1M18, E2M18, E2M28
Pompy rotacyjne RV3, RV5, RV8, RV12
Pompy olejowe ( średnie i duże)
Pompy olejowe łopatkowe rotacyjne
Pompy nES
Pompy próżniowe seria E2M
Pompy olejowe łopatkowe rotacyjne z boosterem mechanicznym
Pompa łopatkowa EH ES
Pompy suche (małe)
Pompy spiralne (scroll)
Suche pompy nXDS6i, nXDS15i, nXDS10i & nXDS20i
XDS
Pompy membranowe
Pompa membranowa XDD1
Membranowe pompy D- LAB
Pompy dyfuzyjne
Pompy dyfuzyjne
Wysokoprzepustowe pompy nHT
Pompy dyfuzyjne z boosterem par
Pompy dyfuzyjne Diffstak
Pompy i systemy suche (średnie i duże)
Pompy śrubowe
Pompy śrubowe GXS160, GXS250, GXS450 & GXS750
Pompy pazurowe
Pompy pazurowe EDC 065, 150, 300
Pompy turbomolekularne
Z łożyskiem magnetycznym
Pompy turbomolekularne STP
Z łożyskiem hybrydowym
Pompy turbomolekularne nEXT
Stacje pompujące
Stacja pompująca TS85
Pompy i systemy suche do zastosowań niebezpiecznych
Pompy próżniowe suche
Pompy próżniowe CDX1000
Pompy chemiczne suche
Pompy chemiczne EDP
Mierniki próżni
Próżniomierze aktywne Pirani
Miernik próżni seria APG100
Próżniomierze magnetronowe AIM
Mierniki próżni AIM
Szerokozakresowe próżniomierze aktywne WRG
Mierniki próżni WRG
Próżniomierze Barocel
Mierniki próżni seria Barocel
POMPY SUCHE DLA PRZEMYSŁU PÓŁPRZEWODNIKÓW
Pompy suche
Pompy próżniowe iH
Pompy próżniowe GX
Materiały eksploatacyjne
Serwis
MICRO-SHOP
Laboratorium B+R
Aktualności
Projekty B+R
Partnerzy
Zapytania ofertowe
Praca
Kontakt
Nanosurf
Nauka
/
Mikroskopia sił atomowych
/
Nanosurf
Alphacen 300 AFM
CoreAFM
FlexAFM (AXIOM)
FlexAFM (BIO)
FlexANA
Lens AFM
NaioAFM
NaioSTM
DriveAFM
