Nauka
Preparatyka
Leica Microsystems
Napylarka niskopróżniowa EM ACE 200
Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
System witryfikacji próbek Leica EM GP2
System zamrażania próbek EM ICE
Łamarka do noży szklanych EM KMR3
Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
Trymer do próbek Leica EM TRIM2
Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
Ultramikrotom Leica EM UC7
Fischione
Stacja pompująca turbo – Model 9030
Urządzenie do dimplowania próbek TEM
Automatyczna elektropolerka z podwójną dyszą
Uchwyt do tomografii TEM Fischione 2020
Model 2021 – Uchwyt o niskim tle tomografii
Kontener do próżniowego przechowywania holderów TEM model 9010
Manualny ścieniacz próbek Model 160
Nanościeniarka jonowa do mikroskopii transmisyjnej TEM
Model 1063- System do ścieniania jonowego WaferMill – delayering solution
System przygotowania próbek TEM Picomill 1080
Model 2030 – Uchwyt o wąskiej szczelinie do Tomografii TEM
Model 2040 – Uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
Model 2045 – Zmotoryzowany uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
Model 2050 Uchwyt rotacyjny w osi do Tomografii TEM
Uchwyt mrożeniowy do tomografii TEM
Model 2560 – Uchwyt do próżniowego transferu dla tomografi TEM
System czyszczenia plazmą Fischione 1070 NanoClean
Narzędzie do mechanicznego wycinania próbek TEM
System oczyszczania plazmą – model 1020
Próżniowa stacja pompująca model 9020
Urządzenie do ultradźwiękowego wycinania próbek
Zestaw do przygotowania sekcji xtem
IBSS
Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro
System oczyszczania plazmą GV10X Asher
System oczyszczania plazmą GV/GA
Mobilny system oczyszczania plazmą MCA
3D MICROMAC
Urządzenie do laserowej mikroobróbki microPrep™ PRO
Kammrath-Weiss
Moduł rozciągający w skali mikro
Moduł rozciągający do włókien
Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok z góry)
Moduł zginający 200N dla 3 i 4 punktowego zginania
Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok boczny)
Moduł rotacja pochył
Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
Moduł XYRT
Stolik dedykowany do dużych komór mikroskopowych
Stoliki grzewcze/ chłodzące
Sytem Lift-out
System przenoszenia próbek SEM
Urządzenie do testu pełzania i ścinania układów elektronicznych na płytkach PCB
Uchwyt do próbek o niestandardowych kształtach
Uchwyt próbki do mikrosondy laserowej
Uniwersalny uchwyt do próbek
Urządzenie do łączenia włókien szklanych
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia elektronowa
ThermoFisher Scientific
Axia chemiSEM
Phenom Pro
Phenom ProX
Phenom Pure
Phenom XL
Phenom ParticleX TC
Phenom GSR
Phenom Pharos
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Bruker
System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
Detektor Quantax WDS
System Quantax Micro-XRF
Delmic
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
Protochips
Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
System in-situ Atmosphere
Nanomegas
Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
Imina
Manipulator MiBot
Micromanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
Nanoomanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
Materiały eksploatacyjne
Analizatory składu chemicznego
IXRF
Atlas Micro-XRF – model X
Atlas Micro-XRF – model M
Spektrometry przenośne XRF
S1 Tracer 5
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
Spektrometry iskrowe
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizatory elementarne ONH/CS
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
Mikroskopia cyfrowa
Tagarno
Tagarno FHD ZIP
Tagarno FHD ZAP
Tagarno FHD Trend
Tagarno FHD Prestige
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia sił atomowych
Nanosurf
Alphacen 300 AFM
CoreAFM
FlexAFM (AXIOM)
FlexAFM (BIO)
FlexANA
Lens AFM
NaioAFM
NaioSTM
DriveAFM
Molecular Vista
VistaScope
KM Labs
Materiały eksploatacyjne
Biomechanika
Cell Scale
Univert
MicroTester LT
MicroTester G2
BioTester-Biaxial Tester
Metalografia
LamPlan
Polerka manualna SMARTLAM 2.0
Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym SMARTLAM 3.0
MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 1.1
Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 2.0
Cutlam Micro 3.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
Materiały eksploatacyjne
Materiały eksploatacyjne
Przemysł
Metalografia
LamPlan
SMARTLAM 2.0 Polerka manualna
SMARTLAM 3.0 , Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym.
MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
Przecinarka Cutlam Micro 1.1
Przecinarka laboratoryjna Cutlam Micro 2.0
Automatyczna przecinarka Cutlam Micro 3.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
Materiały eksploatacyjne
Czystość Techniczna
Cleanpart’ner
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS1- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS2- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS3- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS4- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS5- CLEANPART’NER
Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS6- CLEANPART’NER
SITA
CleanoSpector
Conspector
Dynotester+
FoamTester
SurfaSpector
Wideoskopy
Mitcorp
Mitcorp X-500
Mitcorp MX-1000
Mitcorp X-1000 PLUS
Mitcorp X-2000
Analizatory składu chemicznego
Spektrometry przenośne XRF
S1 Tracer 5
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
Spektrometry iskrowe
Spektrometr iskrowy Q2 Ion
Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
Analizatory elementarne ONH/CS
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
Analizator elementarny G8 Galileo ONH
Analizatory nanocząstek
Cordouan Technologies
Vasco
Vasco Kin
Amerigo
Wallis
Mikroskopia elektronowa
ThermoFisher Scientific
Axia chemiSEM
Phenom Pro
Phenom ProX
Phenom Pure
Phenom XL
Phenom ParticleX TC
Phenom GSR
Phenom Pharos
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Bruker
System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
Detektor Quantax WDS
System Quantax Micro-XRF
Delmic
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
Protochips
Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
System in-situ Atmosphere
Nanomegas
Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
Materiały eksploatacyjne
Mikroskopia cyfrowa
Tagarno
Tagarno FHD ZIP
Tagarno FHD ZAP
Tagarno FHD Trend
Tagarno FHD Prestige
Materiały eksploatacyjne
Materiały eksploatacyjne
Medycyna
Obrazowanie
Delong
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
Precipoint
PreciPoint M8
Precipoint O8
Cytosmart
CytoSMART Omni
CytoSMART LUX2
CytoSMART LUX3 FL
Histopatologia
Medite
Automatyczny mikrotom rotacyjny A550
Barwiarka liniowa COT 20
Elektryczny pisak grawerski EDS 20
Jednostka chłodząca TKF 22
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 55
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 45
Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 35
Manualny mikrotom rotacyjny M380
Modułowy system do zatapiania tkanek TES 99
Modułowy system do zatapiania w parafinie TES Valida®
Nakrywarka RCM 9000
Pinceta podgrzewana eCep
Płyta chłodząca COP 30
Płyty rozciągające OTS 40
Pół-automatyczny mikrotom rotacyjny M530
Pół-automatyczny wolnostojący kriostat M630
Procesor tkankowy SureThin
Procesor tkankowy TPC 15 Duo/Trio
Programowalna automatyczna barwiarka TST 44
Stołowy pochłaniacz oparów TAZ 19
Suszarka do szkiełek TDO Sahara
Urządzenie do filtrowania parafiny L15
Medite- testy COVID-19
Medite – MicroShop
Biomechanika
CellScale
Preparatyka próbek
Leica Microsystems
Napylarka niskorpóżniowa EM ACE 200
Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
System witryfikacji próbek Leica EM GP2
System zamrażania próbek EM ICE
Łamarka do noży szklanych EM KMR3
Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
Trymer do próbek Leica EM TRIM2
Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
Ultramikrotom Leica EM UC7
Materiały eksploatacyjne
Serwis
MICRO-SHOP
Laboratorium B+R
Aktualności
Projekty B+R
Partnerzy
Kontakt
Nanosurf
Nauka
/
Mikroskopia sił atomowych
/
Nanosurf
Alphacen 300 AFM
CoreAFM
DriveAFM
FlexAFM (AXIOM)
FlexAFM (BIO)
FlexANA
Lens AFM
NaioAFM
NaioSTM
