• Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Mikroskop sił atomowych NAIO AFM to idealna platforma edukacyjna  o zwartej konstrukcji o niespotykanej wytrzymałości wobec codziennej pracy ze studentami.

Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz duża elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy systemu NaioAFM wynosi 70 x 70 x 14 µm, system posiada kontroler zintegrowany z podstawą mikroskopu wraz z układem antywibracyjnym

Specyfikacja

Maksymalna wielkość próbki do 12 mm średnicy

Wysokość próbki do 3,5mm
Zmotoryzowane zbliżanie sondy do powierzchni 4mm

Zakres skanowania w soi X i Y 70×70 µm

Zakres skanowania w osi Z do 14 µm

Dwa widoki. kamera patrzące od góry odraz od boku.

Wymiary 204 mm x 204 mm x 160 mm

Waga 6,55 Kg

Łatwy z transporcie dzięki dedykowanej walizce

Doposażenie

Brak