Alphacen 300 AFM

  • Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Nanosurf jest liderem na rynku w zakresie niestandardowych systemów dostosowanych dla dużych i ciężkich próbek. W ciągu ostatnich lat nasz zespół zgromadził olbrzymia wiedzę, opracowując wiele niestandardowych rozwiązań dla naszych  klientów.

Wykorzystując nasze doświadczenia, opracowaliśmy nowy produkt przeznaczony dla dużych oraz ciężkich próbek 300 mm średnicy o wadze nawet do 45 kg.

Alphacen 300 zawiera potężne oprogramowanie do automatyzacji, które pozwala użytkownikowi wstępnie wybrać interesujące miejsca, na obrazie optycznym lub na mapie ideowej próbki, oraz zebrać dane bez interwencji użytkownika.

Większość AFM pozwalających na obrazowanie dużych próbek jest wstanie poprawnie pracować jedynie z płaską próbką, zwykle nastawione są na analizę podłoży półprzewodnikowych. Jednak jednym z ograniczeń tych systemów jest ciężar próbki, z którym mogą sobie poradzić, Alphacen 300 zaspokaja potrzebę standardowego mikroskopu obrazowania dużych i ciężkich próbek o wadze do 45 kg. Przesuw głowicy mikroskopu w osi Z wynoszący aż 50 mm pozwala również na obrazowanie grubszych próbek.

Na życzenie mikroskop można skonfigurować w opcji pozwalającej na pomiary podróbek o wielkości 300 x 500 mm

System napędzany jest przez najnowszy kontroler CX opracowany przez firmę Nansourf, jest to najszybszy i najbardziej niezawodny kontroler na rynku, oferujący 28-bitową rozdzielczość podczas pomiarów niezależnie od wielkości pola skanowanie, miejsca oraz szybkości skanowania.

Specyfikacja

Maksymalny wymiar próbki 300x300mm (300×500 mm na życzenie)

Maksymalna wysokość próbki 50 mm

Maksymalna waga próbki 45 kg

Zmotoryzowany przesuw w osi Z  60mm

Zmotoryzowane zbliżanie od powierzchni 5 mm

Zakres skanowania w osi X-Y 100 x 100µm

Zakres skanowania w osi Z 10 µm  

Szum detektora podczas pomiaru (RMS, tryb dynamiczny w powietrzu) 25 pm

Wymiary mikroskopu 1008 mm x 1887 mm x 1208 (całkowite wymiary wraz komorą akustyczną

Waga  833 kg (wraz z komorą akustyczną oraz innymi peryferiami

Doposażenie

Uchwyt do szalek Petriego

Uchwyt próbek z grzaniem w zakresie od RT do 250 °C

Uchwyt próbek z grzaniem i chłodzeniem w zakresie od -35 °C do 180 °C

Uchwyt próbki z generatorem zmiennego pola magnetycznego

Uchwyt próbki do pomiarów elektrycznych C-AFM, KPFM, SSRM

Komórka atmosferyczna / środowiskowa pozwalająca na pracę w kontrolowanej atmosferze i wilgotności.

Uchwyt do pracy w środowisku kontrolowanym elektrochemicznie