Logo
  • Nauka
    • Preparatyka
      • Leica Microsystems
        • Napylarka niskopróżniowa EM ACE 200
        • Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
        • Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
        • Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
        • System witryfikacji próbek Leica EM GP2
        • System zamrażania próbek EM ICE
        • Łamarka do noży szklanych EM KMR3
        • Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
        • Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
        • Trymer do próbek Leica EM TRIM2
        • Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
        • Ultramikrotom Leica EM UC7
      • Fischione
        • Stacja pompująca turbo – Model 9030
        • Urządzenie do dimplowania próbek TEM
        • Automatyczna elektropolerka z podwójną dyszą
        • Uchwyt do tomografii TEM Fischione 2020
        • Model 2021 – Uchwyt o niskim tle tomografii
        • Kontener do próżniowego przechowywania holderów TEM model 9010
        • Manualny ścieniacz próbek Model 160
        • Nanościeniarka jonowa do mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Model 1063- System do ścieniania jonowego WaferMill – delayering solution
        • System przygotowania próbek TEM Picomill 1080
        • Model 2030 – Uchwyt o wąskiej szczelinie do Tomografii TEM
        • Model 2040 – Uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
        • Model 2045 – Zmotoryzowany uchwyt dwuosiowy do Tomografii TEM
        • Model 2050 Uchwyt rotacyjny w osi do Tomografii TEM
        • Uchwyt mrożeniowy do tomografii TEM
        • Model 2560 – Uchwyt do próżniowego transferu dla tomografi TEM
        • System czyszczenia plazmą Fischione 1070 NanoClean
        • Narzędzie do mechanicznego wycinania próbek TEM
        • System oczyszczania plazmą – model 1020
        • Próżniowa stacja pompująca model 9020
        • Urządzenie do ultradźwiękowego wycinania próbek
        • Zestaw do przygotowania sekcji xtem
      • IBSS
        • Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro
        • System oczyszczania plazmą GV10X Asher
        • System oczyszczania plazmą GV/GA
        • Mobilny system oczyszczania plazmą MCA
      • 3D MICROMAC
        • Urządzenie do laserowej mikroobróbki microPrep™ PRO
      • Kammrath-Weiss
        • Moduł rozciągający w skali mikro
        • Moduł rozciągający do włókien
        • Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok z góry)
        • Moduł zginający 200N dla 3 i 4 punktowego zginania
        • Moduł zginający 200N- 5000N dla 3 i 4 punktowego zginania (widok boczny)
        • Moduł rotacja pochył
        • Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
        • Moduł XYRT
        • Stolik dedykowany do dużych komór mikroskopowych
        • Stoliki grzewcze/ chłodzące
        • Sytem Lift-out
        • System przenoszenia próbek SEM
        • Urządzenie do testu pełzania i ścinania układów elektronicznych na płytkach PCB
        • Uchwyt do próbek o niestandardowych kształtach
        • Uchwyt próbki do mikrosondy laserowej
        • Uniwersalny uchwyt do próbek
        • Urządzenie do łączenia włókien szklanych
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia elektronowa
      • ThermoFisher Scientific
        • Axia chemiSEM
        • Phenom Pro
        • Phenom ProX
        • Phenom Pure
        • Phenom XL
        • Phenom ParticleX TC
        • Phenom GSR
        • Phenom Pharos
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
      • Bruker
        • System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Detektor Quantax WDS
        • System Quantax Micro-XRF
      • Delmic
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
        • SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
      • Protochips
        • Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
        • Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
        • Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
        • System in-situ Atmosphere
      • Nanomegas
        • Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
        • Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
      • Imina
        • Manipulator MiBot
        • Micromanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
        • Nanoomanipulatory – rozwiązania z mikroskopem optycznym
      • Materiały eksploatacyjne
    • Analizatory składu chemicznego
      • IXRF
        • Atlas Micro-XRF – model X
        • Atlas Micro-XRF – model M
      • Spektrometry przenośne XRF
        • S1 Tracer 5
        • Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
        • Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
      • Spektrometry iskrowe
        • Spektrometr iskrowy Q2 Ion
        • Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
        • Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
      • Analizatory elementarne ONH/CS
        • Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
        • G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
        • Analizator elementarny G8 Galileo ONH
        • Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
    • Mikroskopia cyfrowa
      • Tagarno
        • Tagarno FHD ZIP
        • Tagarno FHD ZAP
        • Tagarno FHD Trend
        • Tagarno FHD Prestige
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia sił atomowych
      • Nanosurf
        • Alphacen 300 AFM
        • CoreAFM
        • FlexAFM (AXIOM)
        • FlexAFM (BIO)
        • FlexANA
        • Lens AFM
        • NaioAFM
        • NaioSTM
        • DriveAFM
      • Molecular Vista
        • VistaScope
      • KM Labs
      • Materiały eksploatacyjne
    • Biomechanika
      • Cell Scale
        • Univert
        • MicroTester LT
        • MicroTester G2
        • BioTester-Biaxial Tester
    • Metalografia
      • LamPlan
        • Polerka manualna SMARTLAM 2.0
        • Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym SMARTLAM 3.0
        • MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
        • MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
        • MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
        • Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
        • Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 1.1
        • Przecinarka precyzyjna metalograficzna CUTLAM MICRO 2.0
        • Cutlam Micro 3.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
      • Materiały eksploatacyjne
    • Materiały eksploatacyjne
  • Przemysł
    • Metalografia
      • LamPlan
        • SMARTLAM 2.0 Polerka manualna
        • SMARTLAM 3.0 , Półautomatyczna szlifierko-polerka z dociskiem indywidualnym.
        • MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym
        • MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do nacisku centralnego.
        • MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym.
        • Prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1
        • Przecinarka Cutlam Micro 1.1
        • Przecinarka laboratoryjna Cutlam Micro 2.0
        • Automatyczna przecinarka Cutlam Micro 3.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 1.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 3.1
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 4.0
        • Przecinarka abrazyjna metalograficzna CUTLAM 5.0
      • Materiały eksploatacyjne
    • Czystość Techniczna
      • Cleanpart’ner
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS1- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS2- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS3- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS4- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS5- CLEANPART’NER
        • Stacja do ekstrakcji zanieczyszczeń na filtrach DSS6- CLEANPART’NER
      • SITA
        • CleanoSpector
        • Conspector
        • Dynotester+
        • FoamTester
        • SurfaSpector
    • Wideoskopy
      • Mitcorp
        • Mitcorp X-500
        • Mitcorp MX-1000
        • Mitcorp X-1000 PLUS
        • Mitcorp X-2000
    • Analizatory składu chemicznego
      • Spektrometry przenośne XRF
        • S1 Tracer 5
        • Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX
        • Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan
      • Spektrometry iskrowe
        • Spektrometr iskrowy Q2 Ion
        • Spektrometr iskrowy Q4 Tasman
        • Spektrometr iskrowy Q8 Magellan
      • Analizatory elementarne ONH/CS
        • Analizator elementarny G6 Leonardo ONH
        • G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki
        • Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH
        • Analizator elementarny G8 Galileo ONH
    • Analizatory nanocząstek
      • Cordouan Technologies
        • Vasco
        • Vasco Kin
        • Amerigo
        • Wallis
    • Mikroskopia elektronowa
      • ThermoFisher Scientific
        • Axia chemiSEM
        • Phenom Pro
        • Phenom ProX
        • Phenom Pure
        • Phenom XL
        • Phenom ParticleX TC
        • Phenom GSR
        • Phenom Pharos
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
      • Bruker
        • System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
        • Detektor Quantax EDS dla mikroskopii SEM
        • Detektor Quantax WDS
        • System Quantax Micro-XRF
      • Delmic
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI SPARC
        • DETEKTOR KATODOLUMINESCENCJI JOLT
        • SECOM – moduł detekcji fluorescencji do mikroskopu SEM
      • Protochips
        • Poseidon – System in-situ z przepływem cieczy
        • Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
        • Axon – Oprogramowanie do systemów środowiskowych AXON
        • System in-situ Atmosphere
      • Nanomegas
        • Mapowanie naprężeń w nanoskali TEM Autostrain
        • Urządzenie do dyfrakcyjnej tomografii 3D metodą precesji digistar
      • Materiały eksploatacyjne
    • Mikroskopia cyfrowa
      • Tagarno
        • Tagarno FHD ZIP
        • Tagarno FHD ZAP
        • Tagarno FHD Trend
        • Tagarno FHD Prestige
      • Materiały eksploatacyjne
    • Materiały eksploatacyjne
  • Medycyna
    • Obrazowanie
      • Delong
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5
        • Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM25
      • Precipoint
        • PreciPoint M8
        • Precipoint O8
      • Cytosmart
        • CytoSMART Omni
        • CytoSMART LUX2
        • CytoSMART LUX3 FL
    • Histopatologia
      • Medite
        • Automatyczny mikrotom rotacyjny A550
        • Barwiarka liniowa COT 20
        • Elektryczny pisak grawerski EDS 20
        • Jednostka chłodząca TKF 22
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 55
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 45
        • Łaźnia flotacyjna do tkanek TFB 35
        • Manualny mikrotom rotacyjny M380
        • Modułowy system do zatapiania tkanek TES 99
        • Modułowy system do zatapiania w parafinie TES Valida®
        • Nakrywarka RCM 9000
        • Pinceta podgrzewana eCep
        • Płyta chłodząca COP 30
        • Płyty rozciągające OTS 40
        • Pół-automatyczny mikrotom rotacyjny M530
        • Pół-automatyczny wolnostojący kriostat M630
        • Procesor tkankowy SureThin
        • Procesor tkankowy TPC 15 Duo/Trio
        • Programowalna automatyczna barwiarka TST 44
        • Stołowy pochłaniacz oparów TAZ 19
        • Suszarka do szkiełek TDO Sahara
        • Urządzenie do filtrowania parafiny L15
        • Medite- testy COVID-19
      • Medite – MicroShop
    • Biomechanika
      • CellScale
    • Preparatyka próbek
      • Leica Microsystems
        • Napylarka niskorpóżniowa EM ACE 200
        • Napylarka wysokopróżniowa EM ACE 600
        • Urządzenie do freeze-substitution Leica EM AFS2
        • Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD300
        • System witryfikacji próbek Leica EM GP2
        • System zamrażania próbek EM ICE
        • Łamarka do noży szklanych EM KMR3
        • Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
        • Automatyczny procesor tkankowy Leica EM TP
        • Trymer do próbek Leica EM TRIM2
        • Urządzenie do precyzyjnego przygotowania próbek Leica EM TXP
        • Ultramikrotom Leica EM UC7
    • Materiały eksploatacyjne
  • Serwis
  • MICRO-SHOP
  • Laboratorium B+R
  • Aktualności
  • Projekty B+R
  • Partnerzy
  • Kontakt
Unia Europejska - Europejski Fundusz Rozwoje Regionalnego
Zadzwoń: +48 22 726 74 96
  • PL
  • ENG
TWORZYMY PIĄTY WYMIAR MIKROSKOPII
ALL RIGHTS RESERVED
COPYRIGHT 2021
PIK INSTRUMENTS

Analizatory składu chemicznego

Przemysł / Analizatory składu chemicznego
Analizator elementarny G6 Leonardo ONH

Analizator elementarny G6 Leonardo ONH

Analizator elementarny G8 Galileo ONH

Analizator elementarny G8 Galileo ONH

Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH

Analizator wodoru dyfundującego G4 Phoenix DH

G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki

G4 Icarus CS – analizator węgla i siarki

Spektrometr iskrowy Q2 Ion

Spektrometr iskrowy Q2 Ion

Spektrometr iskrowy Q4 Tasman

Spektrometr iskrowy Q4 Tasman

Spektrometr iskrowy Q8 Magellan

Spektrometr iskrowy Q8 Magellan

S1 Tracer 5

S1 Tracer 5

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej CTX

Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan

Spektrometry przenośne fluorescencji rentgenowskiej S1 Titan