Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM
Opis
Detektor Quantax EDS wykracza poza obecne standardy wykonania i funkcjonalności spektrometrów energodyspersyjnych promieniowania X (EDS) stosowanych w mikroskopii transmisyjnej. W nowej generacji detektorów Quantax EDS, nazwanej XFlash® 6T, użytkownik ma możliwość zakupu detektora o powierzchni aktywnej od 30 do 60mm2. Detektor zostaje dostarczany do użytkownika wraz z oprogramowaniem gwarantującym uzyskanie niezwykle szybko rzetelnych wyników analizy. Podstawowe właściwości detektora Quantax EDS:
- Szybkość uzyskiwania wyników
Nowa technologia ultra cienkich detektorów SDD o dużej powierzchni aktywnej i dużej wydajności przetwarzania impulsów pozwala na szybkie uzyskanie rzetelnych wyników analiz. - Łatwość obsługi
Zmotoryzowany ruch detektora oraz przyjazna użytkownikowi konstrukcja detektora i oprogramowania sprawia, że obsługa nie wymaga od użytkownika dużego nakładu pracy. - Dokładność wyników
Najwyższa rozdzielczość detektora zapewnia najlepszą jakość spektrum w precyzyjnych analizach. W zależności od wybranej przez użytkownika wersji, detektor pozwala na uzyskanie wyników z rozdzielczością nawet 126 eV. - Zwiększona wiarygodność wyników
Najbardziej kompleksowa na świecie baza danych atomowych gwarantuje najbardziej niezawodną identyfikację niskoenergetycznych pików spektrum.
5. Zwiększona dokładność
Najbardziej zaawansowane algorytmy identyfikacji i unikalne połączenie metod standardowych z nieszablonowymi dostarcza najdokładniejsze wyniki.
Specyfikacja
Szeroki zakres wielkości aktywnej detektorów:
30 i 60 mm2 powierzchni aktywnej detektora oferuje idealne rozwiązanie dla nanoanalizy.
Najlepsza rozdzielczość dla lekkich pierwiastków oraz analizy niskoenergetycznej:
- 126 eV premium
- 129 eV standard
- Wszystkie rozdzielczości określonej wg. ISO 15632:2012
Ultra wysoka wydajność dla najszybszych pomiarów:
• Nowa jednostka przetwarzania sygnału z technologią hybrydową
- Ponad 1,500 kcps liczba zliczeń na wejściu
- Do 600 kcps liczba zliczeń na wyjściu
Technologia slim-line dla jeszcze większej liczby zliczeń i niższych prądów wiązki:
- Najmniejszy na rynku odległość detektora do próbki dla maksymalnego kąta bryłowego w mikroskopach TEM
Kompaktowy design oraz niska waga:
- Wysoko precyzyjny slider z całkowicie zintegrowanym silnikiem do dokładniejszego pozycjonowania
- Ulepszona geometria radiatora dla stabilnych warunków pomiarów
Doposażenie
1.Upgrade Oprogramowania Esprit:
ESPRIT 2 – Niezawodne oprogramowanie 4-in-1 dla mikroanalizy
Esprit 2 jest kompletnym nowo zaprojektowanym oprogramowaniem dla analizy micro- oraz nano- dla mikroskopii SEM i TEM. Pakiet oprogramowania łączy 4 metody pod jednym interfejsem dla użytkownika, EDS,WDS, EBSD oraz Micro-XRF dla SEM. To sprawia, że łatwość operowania dla użytkownika może być dokonana przez jedno kliknięcie myszki. Ponadto ułatwia łączenie różnych wyników metod z tego samego obszaru próbki i uzyskanie w ten sposób większej ilości informacji o materiale.
Materiały eksploatacyjne
Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop