Detektor Quantax EDS dla mikroskopii transmisyjnej TEM

  • Opis
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

Opis

Detektor Quantax EDS wykracza poza obecne standardy wykonania i funkcjonalności spektrometrów energodyspersyjnych promieniowania X (EDS) stosowanych w mikroskopii transmisyjnej. W nowej generacji detektorów Quantax EDS, nazwanej XFlash® 6T, użytkownik ma możliwość zakupu detektora o powierzchni aktywnej od 30 do 60mm2. Detektor zostaje dostarczany do użytkownika wraz z oprogramowaniem gwarantującym uzyskanie niezwykle szybko rzetelnych wyników analizy. Podstawowe właściwości detektora Quantax EDS:

  1. Szybkość uzyskiwania wyników
    Nowa technologia ultra cienkich detektorów SDD o dużej powierzchni aktywnej i dużej wydajności przetwarzania impulsów pozwala na szybkie uzyskanie rzetelnych wyników analiz.
  2. Łatwość obsługi
    Zmotoryzowany ruch detektora oraz przyjazna użytkownikowi konstrukcja detektora i oprogramowania sprawia, że obsługa nie wymaga od użytkownika dużego nakładu pracy.
  3. Dokładność wyników
    Najwyższa rozdzielczość detektora zapewnia najlepszą jakość spektrum w precyzyjnych analizach. W zależności od wybranej przez użytkownika wersji, detektor pozwala na uzyskanie wyników z rozdzielczością nawet 126 eV.
  4. Zwiększona wiarygodność wyników

Najbardziej kompleksowa na świecie baza danych atomowych gwarantuje najbardziej niezawodną identyfikację niskoenergetycznych pików spektrum.

5. Zwiększona dokładność
Najbardziej zaawansowane algorytmy identyfikacji i unikalne połączenie metod standardowych z nieszablonowymi dostarcza najdokładniejsze wyniki.

Specyfikacja

Szeroki zakres wielkości aktywnej detektorów:
30 i 60 mm2 powierzchni aktywnej detektora oferuje idealne rozwiązanie dla nanoanalizy.

Najlepsza rozdzielczość dla lekkich pierwiastków oraz analizy niskoenergetycznej:

  • 126 eV premium
  • 129 eV standard
  • Wszystkie rozdzielczości określonej wg. ISO 15632:2012

Ultra wysoka wydajność dla najszybszych pomiarów:
• Nowa jednostka przetwarzania sygnału z technologią hybrydową

  • Ponad 1,500 kcps liczba zliczeń na wejściu
  • Do 600 kcps liczba zliczeń na wyjściu

Technologia slim-line dla jeszcze większej liczby zliczeń i niższych prądów wiązki:

  • Najmniejszy na rynku odległość detektora do próbki dla maksymalnego kąta bryłowego w mikroskopach TEM

Kompaktowy design oraz niska waga:

  • Wysoko precyzyjny slider z całkowicie zintegrowanym silnikiem do dokładniejszego pozycjonowania
  • Ulepszona geometria radiatora dla stabilnych warunków pomiarów

Doposażenie

1.Upgrade Oprogramowania Esprit:
ESPRIT 2 – Niezawodne oprogramowanie 4-in-1 dla mikroanalizy

Esprit 2 jest  kompletnym nowo zaprojektowanym  oprogramowaniem dla analizy micro- oraz nano- dla mikroskopii SEM i TEM. Pakiet oprogramowania łączy 4 metody pod jednym interfejsem dla użytkownika, EDS,WDS, EBSD oraz Micro-XRF dla SEM. To sprawia, że łatwość operowania dla użytkownika może być dokonana przez jedno kliknięcie myszki. Ponadto ułatwia łączenie różnych wyników metod z tego samego obszaru próbki i uzyskanie w ten sposób większej ilości informacji o materiale.

Materiały eksploatacyjne

Pudełka na siatki TEM

Siatki TEM specjalne – tytanowe

Siatki z pokryciem: Carbon, miedziane


Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop