System do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Quantax

  • OPIS
  • Specyfikacja
  • Doposażenie
  • Materiały eksploatacyjne

OPIS

System Quantax EBSD jest profesjonalnym narzędziem badawczym EBSD przyjaznym dla użytkowników o wszystkich stopniach zaawansowania. Może być wykorzystywany do badań wszystkich materiałów o strukturze krystalicznej. Urządzenie może być również używane w połączeniu z systemem Quantax EDS tworząc w ten sposób najbardziej zaawansowany zintegrowany system EBSD/EDS wspomagany przez oprogramowanie ESPRIT2.

 Detektor z serii e–Flash – najbardziej zaawansowanej linii detektorów EBSD

  • detektory serii e–FlashFS umożliwiają prowadzenie szybkich pomiarów nawet do 945 wzorców/s (grupowanie sygnałów 8×8); poprawiona dokładność przy prędkości 630 wzorców/s (grupowanie sygnałów 4×4)
  • detektory serii e–FlashHD cechuje wysoka rozdzielczość natywna wynosząca 1600×1200 pikseli; maksymalna prędkość to 170 wzorców/s (grupowanie sygnałów 20×20). Wspiera to pomiary przy niskim napięciu przyspieszającym (aż do 5kV) oraz  niskich prądów wiązki (aż do 0,1nA)
  • Możliwość pozycjonowania ekranu w pionie w trybie „in situ” w celu uzyskania najlepszej jakości sygnału EBSD

Specyfikacja

1.Detektor:

  • e–FlashFSumożliwiają prowadzenie szybkich pomiarów nawet do 945 wzorców/s (grupowanie sygnałów 8×8); poprawiona dokładność przy prędkości 630 wzorców/s (grupowanie sygnałów 4×4)

 

  • e–FlashHDcechuje wysoka rozdzielczość natywna wynosząca 1600×1200 pikseli; maksymalna prędkość to 170 wzorców/s (grupowanie sygnałów 20×20). Wspiera to pomiary przy niskim napięciu przyspieszającym
  • Możliwość pozycjonowania ekranu w pionie w trybie „in situ” w celu uzyskania najlepszej jakości sygnału EBSD
  • Wysoka dokładność pozycjonowania ekranu fosforowego wynosząca <10µm
  • Ekran oraz detektory FSE/BSE łatwo wymieniane przez użytkownika
  • Unikalna automatyka wycofania detektora po zakończeniu pomiarów

 

  1. Unikalny system obrazowania ARGUS™ FSE/BSE
  • Średni kontrast atomowy próbek silnie pochylonych
  • Obrazy o kontraście zakodowanym w kolorze uzyskane przy wykorzystaniu trzech niezależnych detektorów
  • W pełni zintegrowana elektronika w celu uzyskania wysokiego stosunku sygnału do szumu
  1. Duże wsparcie techniki TKD (Transsmision Kikuchi Diffraction)
  • Zestaw narzędzi TKD w skład, których wchodzi dedykowany uchwyt próbek TKD
  • Głowica detektora OPTIMUS™ TKD umożliwia analizy w optymalnych warunkach geometrycznych
  1.  Wsparcie i automatyzacja konfiguracji ułatwiająca korzystanie
  • Asysta sygnału w procesie automatycznej konfiguracji kamery
  • Automatyzacja procesu kalibracji detektora umożliwiająca dokładne pomiary
  • Punktowa inspekcja jakości danych w dowolnej lokalizacji mapy
  1. Wysoka prędkość i niezawodność akwizycji i oceny
  • Przetwarzanie danych w czasie rzeczywistym
  • Solidne indeksowanie wzdłuż granic ziaren i granic faz
  • Wykluczanie niepożądanych fragmentów próbki z pomiarów poprzez definiowanie obszarów
  1. Unikalne połączenie danych z EBSD i EDS
  • Zaawansowana integracja z systemem Quantax EDS
  • Obydwa detektory mogą znajdować się jednocześnie w optymalnej pozycji pomiarowej
  • Kompletne dane do powtórnej analizy w dowolnym czasie
  1.  Niezrównana użyteczność, elastyczność i szybkość oprogramowania
  • Przechowywanie w pamięci wielu pozycji i rozwiązań; możliwość przechowywania wzorców
  • Szybki dostęp do wszystkich pomiarów i danych post procesowych poprzez przełączanie pomiędzy dwiema platformami pracy
  • Olbrzymia liczba możliwości prezentacji wyników m.in. dane z punktów, mapy, histogramy, tekstury
  •  Natychmiastowy dostęp do wszystkich zmierzonych danych
  1. Zaawansowana identyfikacja fazy – doskonałe rozwiązanie dla próbek wielofazowych i mineralogicznych
  • Identyfikacja danej fazy na podstawie porównania z fazami dostępnymi w obszernej bazie danych
  • Możliwość identyfikacji faz zarówno w trybie online jak i offline

Doposażenie

1.Głowica detektora OPTIMUS™ TKD

 

Seria detektorów EBSD Bruker może być doposażona w dodatkową głowicę OPTIMUS™ TKD, która została specjalnie zaprojektowana dla najlepszej geometrii próbka- detektor. Głowica detektora nie tylko pozwala na uzyskanie linii Kikuchiego, ale pozwala też na dyfrakcję z wybranego obszaru próbki.

 

  1. Unikalny system obrazowania ARGUS™ FSE/BSE
  • Średni kontrast atomowy próbek silnie pochylonych
  • Obrazy o kontraście zakodowanym w kolorze uzyskane przy •wykorzystaniu trzech niezależnych detektorów
  • W pełni zintegrowana elektronika w celu uzyskania wysokiego stosunku sygnału do szumu

Materiały eksploatacyjne

Cylindryczny stolik z zaciskami i gwintem M4, nachylony

Kompaktowy pochylony ruchomy stolik, M4

Uchwyt o regulowanym kącie do stoliczków pinowych

Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.