Moduł rozciągający/ściskający do 10 kN
Opis
Moduł rozciągający ( opcjonalnie również moduł ściskający oraz kompatybilny z EBSD)
dedykowany jest do zastosowań w mikroskopii SEM (oraz określonych modelach mikroskopów AFM). Umieszczany jest na stoliku próbki w taki sam sposób jak większa próbka. Badany w module obiekt powinien mieć od 20 do 60 mm długości i nie powinien być grubszy niż 5 mm. Śruby za pomocą których rozciągana jest próbka są nagwintowane gwintem prawo- i lewo-stronnym z przeciwnych stron. Tak więc środek rozciąganej próbki pozostaje perfekcyjnie w punkcie początkowym.
Sterowany komputerowo mikroprocesor DDS-2 z rozbudowanym pakietem oprogramowania (DDS) jest elementem standardowo dostarczanego urządzenia. Pomimo dużej liczby parametrów testowych i możliwych sposobów przeprowadzenia doświadczenia dzięki intuicyjności interfejsu użytkownika urządzenie jest proste w obsłudze. Oprogramowanie jest niezwykle praktyczne w wykonywaniu testów cyklicznych. Wiele podprogramów, takich jak kompensacja sztywności urządzenia oraz nagrywanie online modułów elastyczności, jest w pełni zintegrowane z urządzeniem. Ponadto w zestawie z urządzeniem jest wiele różnych funkcji takich jak rozpoznawanie złamań czy skręceń.
Alternatywnie dostępny jest również system podstawowy z manualnym kontrolerem.
Kontroler manualny posiada podręczną jednostkę z wyświetlaczem oraz klawiaturę z potencjometrem do płynnej regulacji prędkości procesu. Przyciski górny i dolny z zaznaczonymi strzałkami przeznaczone są do przemieszczania śrub rozciągająco-ściskających. W tylnej części kontrolera znajduje się port USB.
Aplikacje:
Statyczne lub dynamiczne obserwacje zmian powierzchni pod kontrolowanym obciążeniem mechanicznym, wzrost pęknięć, zjawiska rozwarstwiania, tworzenie płaszczyzn poślizgu itp.
Metale, ceramika, szkło, ceramiczne materiały sypkie lub warstwy, powłoki galwaniczne, połączenia lutowane lub spawane, minerały, drewno, materiały organiczne.
To urządzenie do testowania materiałów pasuje do większości współczesnych mikroskopów SEM. Cztery małe występy pozwalają na umieszczenie go pod mikroskopem świetlnym, AFM, mikroskopem laserowym lub ramanowskim.
Specyfikacja
Właściwości:
Zakresy obciążeń: od 10µN do 5000 N (opcja 10kN)
Wymiary próbki w mm (maks. Rozmiary): 60 x 10 x 5
Zakres prędkości deformacji: 0,1 do 20 µm / sek. Inne zakresy prędkości na zamówienie.
Przemieszczenie: Moduł jest wyposażony w liniowy miernik przemieszczenia enkodera. Wskaźnik ten obejmuje całkowity zakres przemieszczenia do 45 mm, z rozdzielczością 100 nm.
Podłączenie elektryczne: 230/110 VAC.
Wymiary modułu w mm (szer. X wys. X dł.): 150 x 55 x 220.
Doposażenie
Opcje
• głowice obciążeniowe: 10N, 20N, 50N, 100N, 200N, 500N, 1kN, 2kN, 5kN, 10kN
• Tensometr: Zakres: +/- 1 mm, rozdzielczość: <100 nm; inne na zamówienie • Ogrzewanie / chłodzenie: od temperatury pokojowej do 1000 ° C lub +/- 100 ° C, w tym. Sterownik PID. • Zaciskanie próbek: dla obciążeń> 500N, <500N, próbka w kształcie okrągłym, wybierz spośród ponad 30 różnych niestandardowych, dopasowanych zacisków
• Dostosowanie do: EBSP, dyfraktometru, AFM lub aplikacji Synchotron.
• Ekstensometr wideo: odkształcenie VEDDAC
• Przechwytywanie obrazu: przeglądanie obrazu wzdłuż bazy danych
• Interfejs oprogramowania do zdalnego sterowania, np. LabView
• …
Kontrolery
Wybór pomiędzy sterownikiem ręcznym (system Starter) a sterownikiem mikroprocesorowym (DDS-3) z interfejsem i oprogramowaniem (MDS) do obsługi komputera.
Modułowość / elastyczność
Systemy można dostosować do dzisiejszych potrzeb. Możliwość wyboru wielu element spośród dodatków, ale też dostosowania do nowych aplikacji, a także istniejących.
Materiały eksploatacyjne
Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.