NaioAFM
Opis
Mikroskop sił atomowych NAIO AFM to idealna platforma edukacyjna o zwartej konstrukcji o niespotykanej wytrzymałości wobec codziennej pracy ze studentami.
Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz duża elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy systemu NaioAFM wynosi 70 x 70 x 14 µm, system posiada kontroler zintegrowany z podstawą mikroskopu wraz z układem antywibracyjnym
Specyfikacja
Maksymalna wielkość próbki do 12 mm średnicy
Wysokość próbki do 3,5mm
Zmotoryzowane zbliżanie sondy do powierzchni 4mm
Zakres skanowania w soi X i Y 70×70 µm
Zakres skanowania w osi Z do 14 µm
Dwa widoki. kamera patrzące od góry odraz od boku.
Wymiary 204 mm x 204 mm x 160 mm
Waga 6,55 Kg
Łatwy z transporcie dzięki dedykowanej walizce
Doposażenie
Brak
Materiały eksploatacyjne
Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop