Phenom XL
Opis
Skaningowy mikroskop elektronowy Phenom XL przesuwa granice możliwości nastołowych mikroskopów SEM. Cechuje go charakterystyczna dla pozostałych modeli mikroskopów Phenom łatwość obsługi i szybkość uzyskania zdjęć w trybie elektronowym. Ponadto jest on wyposażony w komorę próbki umożliwiającą badanie próbek o wymiarach do 100mm x 100mm x 65mm. Opatentowany mechanizm zapowietrzania/ładowania próbki zapewnia największą przepustowość na świecie. Nowo opracowany system przesuwu próbki umożliwia użytkownikowi przeskanowanie całego obszaru próbki. Pomimo nowych możliwości mikroskop Phenom XL jest mikroskopem SEM, który zajmuje małą przestrzeń i nie wymaga żadnych specjalistycznych udogodnień.
Podobnie jak w pozostałych mikroskopach Phenom najnowszy model posiada czterosegmentowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych. Gwarantuje on uzyskanie ostrych obrazów, których kontrast bazuje na informacji o składzie chemicznym próbki.
Mikroskop ten, od momentu umieszczenia próbki w komorze mikroskopu, do uzyskania pierwszego obrazu elektronowego – potrzebuje mniej niż 60 sekund.
Ponadto, tak jak w pozostałych modelach mikroskopów Phenom możemy zastosować wiele uchwytów próbek m.in. z eucentryczny z pięcioma stopniami swobody ruchu oraz uchwyt tensometryczny.
Wyposażenie może zostać uzupełnione również o oprogramowanie aplikacyjne m.in. do rekonstrukcji 3D oraz automatycznej analizy cząstek lub stopnia porowatości.
Korzystając z podstawowych funkcji takich jak automatyczne ustawianie ostrości czy korekcji astygmatyzmu, mikroskop Phenom XL oferuje wykonywanie wysokiej jakości zdjęć elektronowych w najkrótszym możliwym czasie.
Mikroskop ten charakteryzuje się bardzo wydajnym źródłem elektronów CeB6 gwarantującym duży stosunek sygnału do szumu oraz wysoką zdolność rozdzielczą. Oprogramowanie sterujące przyjazne dla użytkownika umożliwia rozbudowę o szereg dodatkowych programów do analizy obrazu.
Kolejną unikalną cechą mikroskopu Phenom XL jest możliwość rozbudowania o system ParticleX umożliwiający automatyczne rozpoznawanie i analizę cząstek.
Specyfikacja
Łatwy w obsłudze, intuicyjny interfejs użytkownika
Czas niezbędny do uzyskania obrazu:
- Optycznego: 5 sekund
- Elektronowego: do 60 sekund
Powiększenie do 200 000x
Wyjątkowo łatwa nawigacja próbką do interesującego punktu
Długi czas życia źródła elektronów CeB6 (2000 godzin)
Źródło elektronów zoptymalizowane pod kątem możliwości osiągania wysokich rozdzielczości
Kompleksowy system autodiagnostyki
Dzięki zastosowaniu specjalnego uchwytu próbki – uzyskujemy brak ryzyka uszkodzenia elementów optyki elektronowej
Katoda CeB6 pracująca z napięciem przyspieszającym 5kV – 20kV, ograniczającym głębokość penetracji próbki przez wiązkę elektronową – polepszenie rozdzielczości
Kolorowa kamera nawigacji: idealny korelacja pomiędzy optycznymi i elektrono-optycznymi obrazami
Detektor elektronów wstecznie rozproszonych, z możliwością pracy w dwóch trybach:
- Podstawowym
- Topograficznym
Możliwość archiwizacji obrazów w następujących formatach:
- TIFF
- JPEG
- BMP
Możliwość zbierania obrazów optycznych
Podstawowy system – świetny stosunek jakości do ceny
Bardzo niskie zużycie energii
Zdolność rozdzielcza: < 10nm
Mikroskop wyposażony jest w kamerę CCD służącą do przeglądu oraz pozycjonowania próbki w mikroskopie.
Doposażenie
- ParticleX – System do automatycznego rozpoznawania i analizy cząstek
- Detektor elektronów wtórnych (SED)
- Spektrometr EDS (typu SDD)
- Zmotoryzowany eucentryczny uchwyt, 5 stopni swobody ruchu (X, Y, Z, obrót i pochył)
- Uchwyt tensometryczny
- Wkłady do umieszczania zgładów metalograficznych
- Wkłady do umieszczania filtrów
- Oprogramowanie do automatycznego rozpoznawania i analizy włókien
- Oprogramowanie do automatycznego rozpoznawania i analizy cząstek
- Oprogramowanie do automatycznego rozpoznawania i analizy porów
- Oprogramowanie do rekonstrukcji 3D powierzchni próbki
- Oprogramowanie do mapowania oraz analizy liniowej EDS
- Biblioteki funkcji sterujących mikroskopem, do wykorzystania w środowisku .NET oraz Python