Fusion – System in-situ z regulacją temperatury i odprowadzeniami elektrycznymi
Opis
Uchwyt Fusion to uchwyt posiadający możliwość regulacji temperatury i odprowadzenia elektryczne. Pozwala on na obserwację materiałów i reakcji w nich zachodzących z atomową rozdzielczością. Umożliwia podanie na próbki napięcia elektrycznego podczas procesu obrazowania oraz podgrzewanie próbek nawet do temperatury 1200 °C.
Zaawansowany układ kontroli temperatury zastosowany w uchwycie Fusion, nazwany został SmartTemp™ jednocześnie monitoruje i reguluje temperaturę w celu utrzymywania stabilnej, dokładnie ustawionej temperatury. Gwarantuje to możliwość uzyskania optymalnych warunków obrazowania.
Najlepszym sposobem na poznanie właściwości materiałów i zachodzących reakcji jest ich obserwacja. Uchwyt Fusion umożliwia szybkie i łatwe uzyskanie wysokorozdzielczych obrazów zachodzących w próbce procesów termicznych i elekrycznych. Pozwala użytkownikom zobaczyć, w rzeczywistym czasie reakcji, skutki zmian temperatury próbki i poddania jej napięciom elektrycznym. Dzięki Fusion użytkownicy moją możliwość szybkiego poznania właściwości próbek.
Specyfikacja
- Możliwość ustawienia temperatury grzania nawet do 1200ºC
Uchwyt umożliwia zbieranie danych z próbki w temperaturach, w których występują określone reakcje. Szeroki zakres temperatur jest doskonały do obserwacji spiekania, szybkich zmian temperaturowych, rozrostu ziaren, zmian fazowych i innych wysokotemperaturowych aplikacji.
- Pomiary ultraniskich prądów
W badaniach in situ właściwości elektrycznych nanomateriałów wymagany jest pomiar ultraniskich natężeń prądów. Budowa uchwytu Fusion umożliwia prowadzenie tego typu pomiarów w sposób nie wprowadzający błędów.
- Regulacja temperatury
Dzięki zastosowaniu zaawansowanego układu regulacji temperatury wystawiona na próbkę temperatura jest stała pomimo dynamicznych zmian środowiska próbki. Zintegrowane oprogramowanie automatycznie reaguje na zmiany środowiskowe, co umożliwia utrzymanie stałej, ustawionej przez użytkownika temperatury.
- Możliwość pochyłu próbki
Uchwyt umożliwia pochył próbki do 10º zapewniając kontrolę położenia próbki w mikroskopie, co pozwala uzyskać najwyższej jakości obrazy i większą ilość danych.
Materiały eksploatacyjne
Siatki C-Flat miedziane, pokrycie 20nm, średnica otworu 1,2 μm
Siatki C-Flat miedziane, pokrycie 20nm, średnica otworu 1,2 μm
Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.