Atlas Micro-XRF – model X
Opis
SYSTEM ATLAS MICRO-XRF
Urządzenie ATLAS Micro-XRF jest systemem wyposażonym w spektrometr (uXRF) wprowadzającym całkowicie nowe rozwiązania w mapowaniu promieniowaniem X oraz jego automatyzacji. Szczyci się ono komorą o największej na rynku objętości oraz detektorem SDD o powierzchni aż do 150mm2. Dodatkowo wyróżnia go najmniejszy na rynku spot size – 5um. Cały system jest uzupełniony przez najbardziej wszechstronny pakiet oprogramowania, w tym analizę wielopunktową, nienadzorowaną automatyzacją, analizy w głębi cech/obrazu, bezprecedensowe funkcje mapowania i raportowania, oraz wiele innych. Urządzenia mogą być wykorzystywane w ciśnieniu atmosferycznym, pod próżnią, a do analiz cieczy i lekkich pierwiastków istnieje możliwość pracy w środowisku Helu.
Specyfikacja
Typ próbki: stałe, ciecze, cząstki, proszki
Rozmiar komory: 950x650x365mm
Źródło wzbudzające: 12-50W, 0-60kV, 0,4mA-1mA
Media pomiarów: powietrze, próżnia, hel
Wielkość plamki (spot size): ≤5μm-1000μm
Geometria wiązki: prostopadła (Top-down beam)
Filtry: do 8
Rozdzielczość detektora:130-145eV
Detektor: SDD ( Si-Pin na życzenie)
Obszar aktywny detektorów: 50-150mm2
Ruch próbki: 600x300x150mm(całkowity) 400x300mm (mapping)
1-3ms.piksel (szybkość skanowania podczas mapowania)
Do 300 mm/s ( szybkość przesuwu próbki)
Podgląd próbki: 3 kamery pozycjonowania próbki i analiz
Sterowanie urządzeniem: Komputer PC Win10, całkowita kontrola nad parametrami, filtrami, kamerami, mikroskopami optycznymi, oświetleniem próbki i pozycjonowaniem oraz media pomiarowe
Zasilanie 100-240V, 50/60Hz
Certyfikaty: CE, RoHS, Radiation
Zakres pierwiastków: Na-U
Wymiary: 1690x787x1630mm
Doposażenie
Oprogramowanie umożliwiające wielowarstwową analizę cienkich warstw i powłok- do 10 warstw
Oprogramowanie do analiz kryminalistycznych oraz szkieł ASTM E2926-13