Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego Leica EM TIC3X
Opis
Leica EM TIC 3X to system ścieniania wiązką jonową, wykorzystujący trzy działa jonowe, dostosowany do potrzeb nowych aplikacji w mikroskopii świetlnej i mikroskopii SEM. Pozwala użytkownikowi na przygotowanie wielu rodzajów próbek oraz dostosowanie w szybki sposób urządzenia do zmieniających się potrzeb, m.in. dzięki zastosowaniu stolika rotacyjnego lub stolika z chłodzeniem, dedykowanego dla próbek termicznie wrażliwych.
Specyfikacja
System Leica EM TIC3X zapewnia największy obszar przekroju, aby zaoferować najwyższą wydajność analiz. Cechą unikalną jest najwyższa prędkość i największy jednolity obszar dla techniki płaskiego polerowania (polerowanie wiązką jonową). Dodatkowo urządzenie zapewnią szybki przepływ pracy wykorzystując synergię z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje zminimalizowany.
- Energia jonów: 1 keV do 10 keV
- Prąd źródła: 0,5 do 4,5 mA / 0,1 mA (na źródło jonów)
- Gęstość prądu 10 mA/cm² (na źródło jonów)
- Średnica wiązki jonów: 0,8 mm (przy 10 keV), 2,5 mm (przy 2 keV)
- Żywotność katody > 350 h dla 8 kV, 3 mA
Doposażenie
- Stolik STANDARD (największy rozmiar próbek: 50x50x10mm)
- COOLING STAGE (chłodzenie uchwytu próbki oraz maski; zakres temperaturowy 30° do -160°C)
- MULTIPLE STAGE (stolik trzypozycyjny)
- ROTARY STAGE (stolik rotacyjny, max. rozmiar próbki Ø 38mm / 12mm grubość)
- Doposażenie w port VCT do transferu próbek w próżni lub aplikacji cryo.
Materiały eksploatacyjne
Po więcej materiałów eksploatacyjnych zapraszamy do naszego sklepu internetowego Micro-Shop.