Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5

LVEM5

Transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5

Mikroskop elektronowy LVEM5 firmy Delong Instruments to jedyny na rynku nastołowy skaningowo-transmisyjny mikroskop elektronowy (S/TEM). Umożliwia on obrazowanie w trybach: transmisyjnym (TEM), skaningowym transmisyjnym (STEM), dyfrakcji elektronów (ED) oraz skaningowym (SEM). LVEM5 charakteryzuje się wyjątkowo kompaktową budową i jest 0 około 90% mniejszy niż klasyczne transmisyjne mikroskopy elektronowe. Zapewnia to niespotykaną łatwość implementacji tego mikroskopu w wielu miejscach, niedostępnych dla pełnowymiarowych mikroskopów TEM.

Podobnie jak wiele zaawansowanych transmisyjnych mikroskopów elektronowych, system Delong Instruments LVEM5 jest urządzeniem wyposażonym w polowe źródło elektronów. Zastosowany rodzaj katody (emiter polowy Schottky’ego) zapewnia wysoki poziom jasności oraz stabilności prądu wiązki elektronowej. Gwarantuje ponadto kilka tysięcy godzin pracy na pojedynczym źródle.

Delong Instruments LVEM5 to niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy umożliwiający obrazowanie przy napięciach przyspieszających elektrony  do  5kV. Praca przy tak niskich energiach wiązki elektronowej  jest możliwa dzięki nowatorskiej konstrukcji niezwykle kompaktowej kolumny elektronowej. Zastosowanie tak niskiego napięcia przyspieszającego elektrony, powoduje wzrost udziału elektronów rozproszonych, co skutkuje zwiększonym kontrastem generowanych obrazów TEM. Pozwala to m.in. na badania niekontrastowanych preparatów biologicznych. Zdecydowanie ułatwia także obrazowanie preparatów inżynierskich, charakteryzujących się niskim poziomem kontrastu – takich jak np. preparaty polimerowe. Mikroskop ten przeznaczony jest do obrazowania próbek o grubości z zakresu około 20-80 nm.

Mikroskop Instruments LVEM5 wyposażony jest ponadto w detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED), pozwalający na wydajne obrazowanie w trybie SEM. Zastosowanie detektora BSED, o geometrii bazującej na kształcie pierścienia, pozwala na detekcję elektronów wstecznie rozproszonych pod dużymi kątami. Zapewnia to wyśmienity kontrast Z, zależny od masy atomowej, dla każdego skanowanego punktu próbki  W ten sposób zostaje utworzona przestrzenna mapa intensywności elektronów BSE, która jest wykorzystywana w rekonstrukcji obrazu SEM w dedykowanym oprogramowaniu komputerowym. Rozdzielczość tego typu obrazów sięga nawet 3 nm.

Mikroskop Delong Instruments LVEM5 wyposażony jest w kompletnie bezolejowy układ próżniowy.  Zastosowane są w nim m.in. pompy jonowe –  z natury bezwibracyjne i pozwalające osiągnąć poziom próżni rzędu 10­­­-9 mBar. Zastosowany rodzaj układu próżniowego eliminuje problem niepożądanej kontaminacji przestrzeni komory próbki, co w praktyce skutkuje stabilnymi warunkami obrazowania i nieobecnością artefaktów związanych z zanieczyszczeniami. Dzięki zastosowaniu soczewek z magnesami trwałymi, mikroskop LVEM5 nie wymaga stosowania żadnych substancji chłodzących. Gwarantuje to długą, bezproblemową oraz bezawaryjną pracę tego instrumentu.

  • unikalna koncepcja nastołowego mikroskopu S/TEM o kompaktowych rozmiarach
  • mikroskop niezwykle łatwy w obsłudze – idealnie sprawdza się w celach badawczych oraz dydaktycznych;
  • umożliwia wysokowydajne obrazowanie w trybach TEM, STEM, ED, SEM;
  • zapewnia wysoki kontrast uzyskiwanych obrazów próbek -przy braku konieczności barwienia próbek biologicznych;
  • mikroskop tani w eksploatacji – dzięki zastosowanemu zaawansowanemu układowi próżniowemu oraz emiterowi S-FEG o długiej żywotności, czynności serwisowe przy urządzeniu są ograniczone do minimum
  • doskonałe rozwiązanie do obrazowania nanocząstek, barwionych i niebarwionych próbek biologicznych i polimerowych, proszków, włókien czy też nanorurek;
  • polowe źródło elektronów z katodą Schottky’ego ( S-FEG ) o czasie życia >>2 000 godzin;
  • napięcie przyspieszające 5kV;
  • czas od włożenia próbki do momentu uzyskania pierwszego zdjęcia elektronowego ≤ 3 minuty;
  • w trybie obrazowania TEM:
    • zdolność rozdzielcza ≤ 1,2 nm;
    • maksymalne powiększenie ≥ 700 000x;
    • zapisywane obrazy o rozdzielczości do 2 048 x 2048 pikseli;
  • w trybie obrazowania STEM:
    • zdolność rozdzielcza ≤ 2,5 nm;
    • maksymalne powiększenie ≥ 250 000x;
    • zapisywane obrazy o rozdzielczości do 2 048 x 2048 pikseli;
  • w trybie dyfrakcji ED:
    • minimalna średnica wiązki ≤100nm
    • długość kamery 2100pix
  • w trybie obrazowania SEM:
    • zdolność rozdzielcza – 3 nm;
    • maksymalne powiększenie ≥ x 100 000;
    • zapisywane obrazy o rozdzielczości do 2 048 x 2048 pikseli;
  • mikroskop umożliwia instalację na stole o nośności od około 65kg
  • mikroskop nie wymaga zastosowania układów chłodzenia cieczą i sprężonego powietrza;
  • system znacznie mniejszy i lżejszy niż klasyczne mikroskopy TEM
LVEM5_1

LVEM5_2

LVEM5_3

 

 

 

 

 

 

 

 

LVEM5_4

LVEM5_5

LVEM5_6

 

 

 

 

 

×