leica – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

Tag: leica

Zdjęcie produktu

Kategoria:
Blog

Zdjęcie produktu

Kategoria:
Produkt

Tagi:

UC Enuity leica laboratorium ultramikrotom mikroskopia elektronowa preparatyka próbek Thermo Scientific mikroskopia materiałowa XL G2 szybkie obrazowanie phenom kontrola jakości automatyzacja EDS mikroskop SEM/TEM cyfrowy stereoskopowy mikroskop mikroskop świetlny Ivesta 3 Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek EM ACE200 TEMLeica sem TEM napylarka niskopróżniowa Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS badania in-situ IBSS Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T bruker spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D mikroskop materiałoznawczy Enuity Visoria UC skrawki biologiczne skrawki materiałowe mikrotomia innowacyjne narzędzia laboratoryjne. mikroskopia świetlna precyzyjne skrawki powtarzalne wyniki zautomatyzowana mikrotomia modułowa konstrukcja komora mrożeniowa kontrola temperatury komora kriogeniczna mikromanipulatory badania naukowe kriosfera elastyczna aktualizacja Leica Microsystems AFM ultramikrotomia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramanowski analiza spektralna przemysł RamanTouch obrazowanie 3D szybka i zautomatyzowana akwizycja danych analiza chemiczna praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne analiza materiałów analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR badania laboratoryjne stałych i gazowych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok badania materiałowe analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych DSS Cleanpartner kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa AXON farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MGA MATRIX-MF Raman spektrometr Ramanowski monitorowanie procesów Process Guardian ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna Cleanpart'ner sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 2.0 Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analiza wodoru wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g spektrometr iskrowy Q4 Tasman analiza stopów Q2 Ion S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw S1 TITAN analiza materiałów geologicznych Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive ParticleX AM analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskop świetlnyLeica DVM6A M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 pomiary A60 F inspekcja przemysłowa pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania Polo Q4 spektrometr Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON moduł FT-Raman analiza półprzewodników spektroskopia Raman analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II EM AFS2 Freeze Substitution DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M mikroskop inspekcyjny DM8000 M Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego analiza mikrostruktury EM TIC3X EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy EM ACE600 napylarka wysokopróżniowa ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp

Zdjęcie produktu

Ultramikrotom Leica Enuity

Nowa instalacja ultramikrotomu Leica Enuity w Białymstoku – precyzja, która wspiera nowoczesną diagnostykę

Zdjęcie produktu

Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M

Pierwsza w Polsce instalacja ultramikrotomu Leica Enuity

Zdjęcie produktu

Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Leica DM6 M LIBS do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Leica DVM6A Mikroskop cyfrowy z uchylną głowicą

Zdjęcie produktu

Leica M125 & M205 Mikroskopy stereoskopowe

Zdjęcie produktu

Mikroskopy stereoskopowe Leica M50, M60, M80

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://micro-shop.pl

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl

Odnośnik

https://mikroskopiaswietlna.pl

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions