Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa

Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Wideoskopy
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

NanoMEGAS Analiza dyfrakcyjna obrrazownie SEM/STEM bruker automatyzacja pomiarów obrazowanie chemiczne mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw QuantoLux Spektrometr mobilny laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych Spektrometr microXRF ATLAS APEX M iXRF SYSTEMS Atlas APEX X EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS automatyzacja badania in-situ IBSS Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok badania materiałowe analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych Cleanpart'ner DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek analiza materiałowa AXON mikroskop TEM Protochips analiza cząstek mikroskop świetlny Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego środowisko analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 LAMPLAN CUTLAM automatyczna przecinarka metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza wodoru wodór analiza metali wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g spektrometr iskrowy Q2 Ion Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive phenom Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa analiza czystości wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM XL G2 szybkie obrazowanie mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 mikroskop cyfrowy pomiary Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania analiza stopów spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów EM AFS2 Freeze Substitution mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Leica DM4 M oraz DM6 M Mikroskopy badawcze
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR INVENIO - Bruker
Zdjęcie produktu ODEMIS – oprogramowanie do automatyzacji mikroskopii - Delmic
Zdjęcie produktu The Clean Station Stanowisko do ochrony i obsługi próbek kriogenicznych przed kontaminacją - Delmic
Zdjęcie produktu Ice Shield System ograniczający kontaminację lodem podczas preparatyki lameli cryo-ET - Delmic
Zdjęcie produktu LAB Cube Moduł czasowo-rozdzielczej katodoluminescencji do systemu SPARC Spectral - Delmic
Zdjęcie produktu Jolt 2.0 Kompaktowy detektor katodoluminescencji - Delmic
Zdjęcie produktu SPARC Compact System katodoluminescencji do mapowania intensywności emisji w SEM - Delmic
Zdjęcie produktu SPARC Spectral 3.0 Zaawansowany system katodoluminescencji do SEM - Delmic
1 2 3 4 5 ...

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn