SPARC Spectral 3.0 Zaawansowany system katodoluminescencji do SEM – Delmic

SPARC Spectral 3.0 firmy Delmic to zaawansowany system detekcji katodoluminescencji (CL), umożliwiający kompleksową charakterystykę właściwości optycznych i elektronowych materiałów z wykorzystaniem skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM). System rejestruje promieniowanie emitowane przez próbkę pod wpływem oddziaływania wiązki elektronowej, dostarczając informacji niedostępnych w konwencjonalnym obrazowaniu elektronowym.

Rozwiązanie umożliwia prowadzenie pomiarów intensywności emisji, obrazowania hiperspektralnego, analizy rozkładu kątowego i polaryzacji promieniowania oraz badań czasowo-rozdzielczych w odpowiedniej konfiguracji. Szeroki zakres spektralny, obejmujący ultrafiolet, światło widzialne i bliską podczerwień, pozwala na analizę półprzewodników, nanostruktur fotonicznych, materiałów optoelektronicznych oraz próbek geologicznych.

Modułowa konstrukcja SPARC Spectral 3.0 umożliwia dostosowanie konfiguracji do wymagań aplikacyjnych i późniejszą rozbudowę systemu. Wysokowydajny układ zbierania światła z wymiennymi zwierciadłami parabolicznymi zapewnia skuteczną detekcję sygnału CL, również w przypadku materiałów o niewielkiej intensywności emisji.

Cechy charakterystyczne

• Do ośmiu trybów obrazowania i analizy optycznej.
• Obrazowanie intensywnościowe, monochromatyczne i hiperspektralne.
• Analiza rozkładu kątowego emisji oraz jej polaryzacji.
• Obrazowanie energii i pędu (energy-momentum).
• Możliwość prowadzenia pomiarów czasowo-rozdzielczych.
• Szeroki zakres spektralny od głębokiego UV do bliskiej podczerwieni.
• Wymienne zwierciadła i moduły detekcyjne.
• Możliwość rozbudowy bez konieczności wymiany całego systemu.

Specyfikacja techniczna