bruker – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

Tag: bruker

Zdjęcie produktu

Kategoria:
Blog

Zdjęcie produktu

Kategoria:
Produkt

Tagi:

preparatyka próbek UC Enuity leica laboratorium ultramikrotom mikroskopia elektronowa mikroskop SEM/TEM Thermo Scientific mikroskopia materiałowa XL G2 szybkie obrazowanie phenom kontrola jakości automatyzacja EDS Ivesta 3 cyfrowy stereoskopowy mikroskop mikroskop świetlny Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica sem TEM Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS badania in-situ IBSS PRSL300T Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych bruker spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D mikroskop materiałoznawczy Enuity Visoria AFM ultramikrotomia UC skrawki biologiczne skrawki materiałowe mikrotomia innowacyjne narzędzia laboratoryjne. mikroskopia świetlna precyzyjne skrawki powtarzalne wyniki zautomatyzowana mikrotomia modułowa konstrukcja komora mrożeniowa kontrola temperatury komora kriogeniczna mikromanipulatory badania naukowe kriosfera elastyczna aktualizacja Leica Microsystems geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna przemysł RamanTouch szybka i zautomatyzowana akwizycja danych analiza chemiczna szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle analiza materiałów mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek w różnych zakresach spektralnych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok próbki przewodzące badania materiałowe analiza powierzchni i powłok badania powłok i profili głębokości kontrola jakości i analiza powierzchni Steel PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny energetyce i bezpieczeństwie X2000 inspekcja w transporcie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych DSS Cleanpartner kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa AXON do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MATRIX-MF Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski monitorowanie procesów laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline medycznym i elektronicznym Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna Cleanpart'ner cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków kontrola jakości metali analiza wodoru wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali analiza ceramiki analiza szkła Tracer 5g analiza pierwiastkowa spektrometr iskrowy Q4 Tasman analiza stopów Q2 Ion analiza paliw S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności S1 TITAN analiza materiałów geologicznych Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive ParticleX AM analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskop świetlnyLeica M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 pomiary A60 F inspekcja przemysłowa pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników MATRIX-F II analiza procesowa INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II EM AFS2 Freeze Substitution DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop polaryzacyjny DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego analiza mikrostruktury EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy EM ACE600 napylarka wysokopróżniowa ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp

Zdjęcie produktu

Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker

Zdjęcie produktu

Ręczny spektrometr XRF S1 Titan 500S - Bruker

Zdjęcie produktu

Analizator gazów OMEGA 5 - Bruker

Zdjęcie produktu

Mikroskop Ramana RAMANwalk - Bruker

Zdjęcie produktu

Mikroskop do obrazowania Ramanowskiego RAMANtouch – Bruker

Zdjęcie produktu

Mikroskop Ramana SENTERRA II - Bruker

Zdjęcie produktu

Analizator Ramana SUPERFLUX - Bruker

Zdjęcie produktu

Ręczny spekrometr Ramana BRAVO - Bruker

Zdjęcie produktu

Mikroskop FTIR QCL HYPERION II - Bruker

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://micro-shop.pl

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl

Odnośnik

https://mikroskopiaswietlna.pl

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions