Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa

Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Wideoskopy
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 bruker spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych Spektrometr microXRF ATLAS APEX M iXRF SYSTEMS Atlas APEX X EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS automatyzacja badania in-situ IBSS Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramanowski analiza spektralna przemysł RamanTouch obrazowanie 3D szybka i zautomatyzowana akwizycja danych analiza chemiczna badania naukowe praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne analiza materiałów analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR badania laboratoryjne stałych i gazowych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok badania materiałowe analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych Cleanpart'ner DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa AXON Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek mikroskop świetlny analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MGA MATRIX-MF Raman spektrometr Ramanowski monitorowanie procesów Process Guardian ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł UC Enuity ultramikrotom preparatyka próbek Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 2.0 Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analiza wodoru wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g spektrometr iskrowy Q4 Tasman analiza stopów Q2 Ion S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw S1 TITAN analiza materiałów geologicznych Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive mikroskopia materiałowa phenom Thermo Scientific ParticleX AM analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie XL G2 szybkie obrazowanie mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskop świetlnyLeica DVM6A M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 cyfrowy pomiary mikroskop stereoskopowy Ivesta 3 A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania Polo Q4 spektrometr Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON moduł FT-Raman analiza półprzewodników spektroskopia Raman analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II EM AFS2 Freeze Substitution DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M mikroskop inspekcyjny DM8000 M TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TIC3X EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy EM ACE600 napylarka wysokopróżniowa EM ACE200 TEMLeica napylarka niskopróżniowa ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Ręczny spektrometr XRF S1 Titan 500S - Bruker
Zdjęcie produktu Ręczny spektrometr XRF S1 Titan 500 - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR ALPHA II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR MATRIX MF - Bruker 
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX NEO R - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX NEO Ultra - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR do analizy online MATRIX-F II – Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR MPA III - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker
1 2 3 4 5

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn