Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa

Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Wideoskopy
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 bruker spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych Spektrometr microXRF ATLAS APEX M iXRF SYSTEMS Atlas APEX X EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS automatyzacja badania in-situ IBSS Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni analiza spektralna przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle obrazowanie chemiczne analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok badania materiałowe analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych Cleanpart'ner DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D Protochips analiza materiałowa AXON mikroskop TEM M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek mikroskop świetlny Emspira 3 LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MGA monitoring powietrza MATRIX-MF spektrometr Ramanowski monitorowanie procesów Process Guardian Raman wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne automatyczna przecinarka LAMPLAN CUTLAM cięcie precyzyjne metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna Micro 1.1 cięcie automatyczne 3.1 CUTLAM 1.1 analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza wodoru G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali wysoka precyzja analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g Q4 Tasman analiza stopów spektrometr iskrowy Q2 Ion S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw analiza materiałów geologicznych S1 TITAN Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive phenom Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie XL G2 szybkie obrazowanie cyfrowy mikroskop mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy mikroskop stereoskopowy stereoskop M205 M50 M60 M80 cyfrowy pomiary mikroskop stereoskopowy Ivesta 3 A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania Polo Q4 spektrometr Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON analiza półprzewodników spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów EM AFS2 Freeze Substitution DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa edukacja DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DM6 polaryzacyjnaDM4 mikroskop inspekcyjny DM8000 M DM12000 M TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 TEMLeica napylarka niskopróżniowa EM ACE200 ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Leica EM AC20 automatyczne urządzenie do kontrastowania
Zdjęcie produktu Leica EM ACE200 Napylarka niskopróżniowa
Zdjęcie produktu Leica EM AFS2 Urządzenie do Freeze Substitution
Zdjęcie produktu Leica EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym
Zdjęcie produktu Leica EM GP2 Urządzenie do witryfikacji
Zdjęcie produktu Leica EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego
Zdjęcie produktu Leica EM KMR3 Łamarka do noży szklanych
Zdjęcie produktu Leica EM RAPID Trymer do próbek
Zdjęcie produktu Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn