Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa

Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Wideoskopy
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

mikrotom microTec CUT4060 E laboratorium CUT4060 CUT4055 CUT4050 spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych bruker ATLAS APEX M iXRF SYSTEMS Spektrometr microXRF Atlas APEX X EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO Cordouan Technologies VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS automatyzacja badania in-situ IBSS wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur PRSL300T Mitcorp kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) Dr. Heinrich Schneider Messtechnik maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS ThermoFisher Scientific analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D mikroskop materiałoznawczy Visoria leica analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni przemysł RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle obrazowanie chemiczne analiza materiałów mikroskop FTIR QCL analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące badania materiałowe kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel X2000 inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X750 ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego SITA OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych ParSens 4.0 DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Cleanpart'ner Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana AXON mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa analiza cząstek mikroskop świetlny Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń XRF CTX 800 spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego środowisko analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym MultiRAM czystość techniczna Stacja DSR Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 LAMPLAN CUTLAM automatyczna przecinarka Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 analiza pierwiastków kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza wodoru wodór analiza metali wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g analiza stopów spektrometr iskrowy Q4 Tasman Q2 Ion analiza geologiczna analiza żywności analiza paliw S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling S1 TITAN analiza materiałów geologicznych interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive Particle X Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa phenom analiza czystości wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM XL G2 szybkie obrazowanie mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 mikroskop cyfrowy pomiary Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów EM AFS2 Freeze Substitution mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny Poseidon AX analiza in-situ TEM Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym Atmosphere AX System gazowy in-situ napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica ac20 kontrastowanie kontrastowania txp preparatyka
Zdjęcie produktu Mikroskopy polaryzacyjne Leica DM750P, DM2700P, DM4P
Zdjęcie produktu Mikroskopy pomiarowe Dr. Schneider serii WM1
Zdjęcie produktu Mikroskopy stereoskopowe Leica M50, M60, M80
Zdjęcie produktu Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro - IBSS Group
Zdjęcie produktu Moduł FT-Ramana RAM II - Bruker
Zdjęcie produktu ParSens 4.0 Mikroskop do pomiarów zanieczyszczeń na linii mycia - OMT Solutions
Zdjęcie produktu Phenom Pro G7 Mikroskop elektronowy - ThermoFisher Scientific
Zdjęcie produktu Poseidon AX System cieczowy in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu PRESSLAM 1.1 Praska do inkludowania na gorąco - Lam Plan
1 ... 7 8 9 10 11 12 13 ...

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn