Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa

Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Wideoskopy
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

QuantoLux Spektrometr mobilny laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 analiza próbek w różnych zakresach spektralnych bruker spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie Spektrometr microXRF ATLAS APEX M iXRF SYSTEMS Atlas APEX X EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS LDE AMERGIO VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS automatyzacja badania in-situ IBSS PRSL300T Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach inspekcja rur szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych kontrola jakości spektrometr FT-NIR analiza przemysłowa Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF grubość powłok analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramana szybka akwizycja danych analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna przemysł RamanTouch badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych analiza chemiczna szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle analiza materiałów mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe analiza profilu warstw i powłok próbki przewodzące i nieprzewodzące badania R&D i analiza powłok próbki przewodzące badania materiałowe analiza powierzchni i powłok badania powłok i profili głębokości kontrola jakości i analiza powierzchni Steel PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny energetyce i bezpieczeństwie X2000 inspekcja w transporcie X750 SITA ConSpector analizator czystości kąpieli monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych Cleanpart'ner DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych ceramicznych i szklanych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa AXON mikroskop świetlny Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej analiza cząstek klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 spektrometr ręczny MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko analizator gazów MATRIX-MF Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski monitorowanie procesów laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna monitoring procesów online/inline preparatyka próbek UC Enuity ultramikrotom medycznym i elektronicznym Cleanospector lotniczym kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków kontrola jakości metali analiza wodoru wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza metali analiza ceramiki analiza szkła Tracer 5g analiza pierwiastkowa spektrometr iskrowy Q2 Ion analiza paliw S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna analiza żywności S1 TITAN analiza materiałów geologicznych Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive ParticleX AM mikroskopia materiałowa phenom Thermo Scientific analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie XL G2 szybkie obrazowanie DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskop świetlnyLeica M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 cyfrowy pomiary mikroskop Ivesta 3 stereoskopowy mikroskopia świetlna A60 F inspekcja przemysłowa pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania spektrometr Polo Q4 analiza stopów Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników MATRIX-F II analiza procesowa INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II EM AFS2 Freeze Substitution DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna mikroskop polaryzacyjny DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy EM ACE600 napylarka wysokopróżniowa napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Mobilny spektrometr laser-OES  QLX1 - QuantoLux
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX NEO R - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-IR VERTEX NEO Ultra - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR do analizy online MATRIX-F II – Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR MPA III - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-Ramana MultiRam - Bruker
Zdjęcie produktu Spektrometr GDOES - GDA 150 HR - Spectruma
Zdjęcie produktu Spektrometr GDOES - GDA 550 HR - Spectruma
1 ... 11 12 13 14 15 16

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn