+48 22 726 74 96
kontakt@pik-instruments.pl
Wpisz wyszukiwaną frazę...
×
Wpisz wyszukiwaną frazę...
×
❯
Aparatura badawcza i przemysłowa
❯
Mikroskopia elektronowa
❯
Mikroskopy elektronowe SEM
❯
Mikroskopy elektronowe TEM
❯
Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
❯
Preparatyka
❯
Mikroskopia świetlna (optyczna)
❯
Mikroskopy świetlne (optyczne)
❯
Metalografia
❯
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
❯
Spektrometry FT-IR
❯
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
❯
Spektrometry FT-NIR
❯
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
❯
Spektrometry Ramana
❯
Mikroskopy Ramana
❯
Analizatory gazów
❯
Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
❯
Analizatory ONH i CS
❯
Ręczne/przenośne spektrometry XRF
❯
Metrologia (urządzenia pomiarowe)
❯
Pomiary 2D
❯
Pomiary wałów
❯
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM)
❯
Czystość techniczna
❯
Mikroskopia świetlna w czystości technicznej
❯
Analizatory do czystości technicznej
❯
Analizatory wielkości cząstek
❯
Myjki precyzyjne
❯
Metalografia
❯
Preparatyka
❯
Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
❯
Wideoskopy
❯
Materiały eksploatacyjne
❯
Laboratorium usługowe
❯
Serwis
❯
Sklep internetowy MICRO-SHOP
❯
Wydarzenia
❯
Partnerzy
❯
O nas
PIK Instruments
Aparatura badawcza i przemysłowa
Laboratorium usługowe
Serwis
Sklep internetowy MICRO-SHOP
Wydarzenia
Partnerzy
O nas
Kontakt
Mikroskopia elektronowa
Mikroskopy elektronowe SEM
Mikroskopy elektronowe TEM
Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Preparatyka
Mikroskopia świetlna (optyczna)
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Metalografia
Czystość techniczna
Mikroskopia świetlna w czystości technicznej
Analizatory do czystości technicznej
Myjki precyzyjne
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Spektrometry FT-IR
Mikroskopy FT-IR oraz QCL-IR
Spektrometry FT-NIR
Spektrometry procesowe FT-IR/NIR
Spektrometry Ramana
Mikroskopy Ramana
Analizatory gazów
—
Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Spektrometry iskrowe (OES)
Spektrometry GDOES
Analizatory ONH i CS
Ręczne/przenośne spektrometry XRF
Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Pomiary 2D
Pomiary wałów
Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM)
Czystość techniczna
Mikroskopia świetlna w czystości technicznej
Analizatory do czystości technicznej
Myjki precyzyjne
Metalografia
Materiały zużywalne do metalografii
Preparatyka
Analizatory wielkości cząstek
Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Wideoskopy
Materiały eksploatacyjne
Materiały eksploatacyjne
Materiały zużywalne do metalografii
