Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Aparatura badawcza i przemysłowa Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Kategoria:
Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Kategoria:
Analizatory wielkości cząstek
Zdjęcie produktu Kategoria:
Wideoskopy
Zdjęcie produktu Kategoria:
Materiały eksploatacyjne

Producent:

Tagi:

LDE AMERGIO Cordouan Technologies Analizator potencjału Zeta Analizator wielkości cząstek DLS VASCO KIN VASCO THETIS WALLIS IBSS laboratorium automatyzacja badania in-situ inspekcja rur PRSL300T Mitcorp wideoskop przemysłowy inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach analiza przemysłowa szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych bruker kontrola jakości spektrometr FT-NIR Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM rutynowe analizy próbek SEM desktop Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria grubość powłok geologia kontrola RoHS/WEEE analiza żywności i paliw analiza stopów metali Przenośny spektrometr XRF monitorowanie gazów przemysłowych analiza ilościowa związków gazowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR analiza chemiczna 2D/3D obrazowanie topografii powierzchni mikroskop Ramana szybka akwizycja danych RamanTouch obrazowanie 3D mikroskop Ramanowski analiza spektralna przemysł analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych i stałych mikroskop FTIR analiza próbek ciekłych stałych i gazowych automatyzacja pomiarów pomiary wysokorozdzielcze i szybkie analiza próbek w różnych zakresach spektralnych spektrometr FT-IR badania analityczne i naukowe analiza profilu warstw i powłok ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma spektrometr GDOES kontrola jakości i badania materiałowe badania R&D i analiza powłok próbki przewodzące i nieprzewodzące analiza powierzchni i powłok próbki przewodzące badania materiałowe kontrola jakości i analiza powierzchni badania powłok i profili głębokości EDS Steel PhenomXL PerticleX Steel analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny inspekcja w transporcie energetyce i bezpieczeństwie X2000 X750 monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego SITA ConSpector analizator czystości kąpieli kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych ParSens 4.0 OMT Solutions mobilny analizator cząstek kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej DSS Cleanpartner kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń ceramicznych i szklanych Surfaspector pomiar zwilżalności powierzchni metalowych Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX AXON mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa analiza cząstek mikroskop świetlny Emspira 3 M125 DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy spektrometr ręczny do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego spożywczego polimerowego XRF CTX 800 analizator gazów MGA monitoring powietrza gazy cieplarniane środowisko MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski monitoring procesów online/inline laboratoria i przemysł ATEX/IECEx wysoka czułość i szybka akwizycja danych precyzyjna analiza chemiczna preparatyka próbek UC Enuity ultramikrotom kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym medycznym i elektronicznym Cleanospector lotniczym MultiRAM Stacja DSR czystość techniczna Cleanpart'ner laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 Lam Plan przecinarka metalograficzna CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analizator spalania analiza węgla analiza siarki analiza pierwiastków analiza wodoru analiza metali wysoka precyzja G8 GALILEO ONH fuzja gazu ekstrakcja gazów tlen azot automatyczny pomiar wodór analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g analiza stopów spektrometr iskrowy Q4 Tasman Q2 Ion analiza żywności analiza paliw S1 Titan 800 analiza powłok kontrola zgodności recykling analiza geologiczna S1 TITAN analiza materiałów geologicznych badanie czystości technicznej w przemyśle automotive Particle X interfejs analityczny Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa phenom analiza czystości wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM XL G2 szybkie obrazowanie mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 cyfrowy pomiary mikroskop Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania spektrometr Polo Q4 Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON spektroskopia Raman moduł FT-Raman analiza półprzewodników analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM MATRIX MG II analiza gazów EM AFS2 Freeze Substitution mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny analiza in-situ TEM Poseidon AX Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny System grzewczy/elektryczny Fusion AX LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy Delong analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy LVEM5 EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym System gazowy in-situ Atmosphere AX napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica kontrastowania ac20 kontrastowanie preparatyka txp
Zdjęcie produktu Analizator wielkości cząstek DLS VASCO - Cordouan Technologies
Zdjęcie produktu Analizator wielkości cząstek DLS VASCO KIN - Cordouan Technologies
Zdjęcie produktu Analizator wodoru dyfundujacego - G4 Phoenix - Bruker
Zdjęcie produktu Analizator węgla i siarki - G4 Icarus - Bruker
Zdjęcie produktu Atmosphere AX System gazowy in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu AXON Platforma do badań in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu Analizator gazów OMEGA 5 - Bruker
Zdjęcie produktu CUTLAM 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM 3.1 Przecinarka automatyczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
1 2 3 4 5 6 ...

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn