Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia laboratorium Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M125 M50 M60 M80 Emspira 3 cyfrowy pomiary mikroskop analiza materiałów Ivesta 3 stereoskopowy mikroskopia świetlna A60 F inspekcja przemysłowa MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna badania materiałowe mikroskop polaryzacyjny DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej automatyzacja analiza cząstek DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM KMR3 Łamarka do noży szklanych napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica TEM preparatyka próbek
Zdjęcie produktu Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej
Zdjęcie produktu Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M
Zdjęcie produktu CutLam 4.0 i CutLam 5.0 Przecinarki podłogowe automatyczne metalograficzne - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 3.0 Laboratoryjna przecinarka automatyczna metalograficzna - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 2.0 Mała przecinarka precyzyjna metalograficzna - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM 3.1 Przecinarka automatyczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu Mikroskopy polaryzacyjne Leica DM750P, DM2700P, DM4P
Zdjęcie produktu Mikroskopy edukacyjne Leica
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn