Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Aparatura badawcza i przemysłowa Aparatura badawcza i przemysłowa
Zdjęcie produktu Czystość techniczna
Zdjęcie produktu Materiały eksploatacyjne
Zdjęcie produktu Metrologia (urządzenia pomiarowe)
Zdjęcie produktu Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Spektrometry do analizy składu pierwiastkowego
Zdjęcie produktu Spektroskopia w podczerwieni, bliskiej podczerwieni oraz Ramana
Zdjęcie produktu Wideoskopy

Producent:

Tagi:

automatyzacja badania in-situ IBSS laboratorium inspekcja rur inspekcja techniczna i kontrola jakości w trudnych warunkach Mitcorp PRSL300T wideoskop przemysłowy analiza przemysłowa bruker kontrola jakości spektrometr FT-NIR szybkie pomiary próbek ciekłych i stałych Dr. Heinrich Schneider Messtechnik PMS Współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM) maszyny pomiarowe 3D Projektor pomiarowy 2D Mikroskop pomiarowy multisensorowy X600HD X600 Plus PRM-2830 X3000 analiza składu chemicznego EDS mikroskop SEM/TEM ThermoFisher Scientific analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM rutynowe analizy próbek SEM desktop Projektor pomiarowy / maszyna 2D leica mikroskop materiałoznawczy Visoria analiza stopów metali analiza żywności i paliw geologia grubość powłok kontrola RoHS/WEEE Przenośny spektrometr XRF analiza ilościowa związków gazowych analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza chemiczna 2D/3D mikroskop Ramana obrazowanie topografii powierzchni szybka akwizycja danych analiza spektralna mikroskop Ramanowski obrazowanie 3D przemysł RamanTouch analiza chemiczna badania naukowe szybka i zautomatyzowana akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych analiza materiałów w laboratoriach i przemyśle Ręczny spektrometr Ramana szybka identyfikacja surowców analiza materiałów mikroskop FTIR QCL obrazowanie chemiczne analiza próbek ciekłych i stałych analizator FT-NIR badania laboratoryjne analiza próbek ciekłych automatyzacja pomiarów mikroskop FTIR stałych i gazowych analiza próbek w różnych zakresach spektralnych badania analityczne i naukowe pomiary wysokorozdzielcze i szybkie spektrometr FT-IR analiza profilu warstw i powłok kontrola jakości i badania materiałowe ocena pierwiastkowa powierzchni przewodzących spectruma spektrometr GDOES badania R&D i analiza powłok próbki przewodzące i nieprzewodzące analiza powierzchni i powłok badania materiałowe próbki przewodzące badania powłok i profili głębokości kontrola jakości i analiza powierzchni analiza wtrąceń EDS PerticleX Steel PhenomXL przemysł metalurgiczny Steel energetyce i bezpieczeństwie inspekcja w transporcie X2000 X750 analizator czystości kąpieli ConSpector monitorowanie zanieczyszczeń w procesach mycia przemysłowego SITA kontrola zanieczyszczeń i klasyfikacja cząstek w liniach produkcyjnych i transportowych mobilny analizator cząstek OMT Solutions ParSens 4.0 Cleanpartner DSS kabinety do ekstrakcji zanieczyszczeń kontrola czystości komponentów w branży motoryzacyjnej i lotniczej ceramicznych i szklanych pomiar zwilżalności powierzchni metalowych Surfaspector Dynotester pomiar napięcia powierzchniowego i stężenia surfaktantów w kąpielach przemysłowych i laboratoryjnych analiza komórek i tkanek badania biologiczne ConnectomX Katana mikroskopia elektronowa mikrotom ultramikrotom do SEM rekonstrukcja modeli 3D analiza materiałowa AXON mikroskop TEM Protochips analiza cząstek DM4 DM6 M Emspira 3 M125 mikroskop do czystości technicznej mikroskop świetlny analiza czystości technicznej identyfikacja zanieczyszczeń klasyfikacja cząstek LIBS mikroskop badawczy CTX 800 do przemysłu wydobywczego farmaceutycznego metalurgicznego polimerowego spektrometr ręczny spożywczego XRF analizator gazów gazy cieplarniane MGA monitoring powietrza środowisko MATRIX-MF monitorowanie procesów Process Guardian Raman spektrometr Ramanowski ATEX/IECEx laboratoria i przemysł monitoring procesów online/inline precyzyjna analiza chemiczna wysoka czułość i szybka akwizycja danych preparatyka próbek UC Enuity ultramikrotom Cleanospector kontrola czystości powierzchni i monitorowanie procesów mycia w przemyśle motoryzacyjnym lotniczym medycznym i elektronicznym MultiRAM Cleanpart'ner czystość techniczna Stacja DSR bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów cięcie próbek CutLam 4.0 CutLam 5.0 komora cięcia laboratorium materiałowe Lam Plan posuw automatyczny przecinarka metalograficzna sterowanie programowalne automatyczna przecinarka CUTLAM LAMPLAN cięcie precyzyjne metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 analiza pierwiastków analiza siarki analiza węgla analizator spalania kontrola jakości metali laboratoria przemysłowe analiza wodoru analiza metali automatyczny pomiar azot ekstrakcja gazów fuzja gazu G8 GALILEO ONH tlen wodór wysoka precyzja analiza ceramiki analiza szkła analiza pierwiastkowa Tracer 5g analiza stopów Q4 Tasman spektrometr iskrowy Q2 Ion analiza geologiczna analiza paliw analiza powłok analiza żywności kontrola zgodności recykling S1 Titan 800 analiza materiałów geologicznych S1 TITAN badanie czystości technicznej w przemyśle automotive interfejs analityczny Particle X mikroskopia materiałowa ParticleX AM phenom Thermo Scientific analiza czystości Axia ChemiSEM wysokorozdzielcze obrazowanie szybkie obrazowanie XL G2 cyfrowy mikroskop DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy mikroskop świetlnyLeica M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 cyfrowy mikroskop pomiary Ivesta 3 stereoskopowy A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna pure MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka polerka manualna SMARTLAM 2.0 prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1 Polo Q4 spektrometr Q8 MAGELLAN Q6 NEWTON analiza półprzewodników moduł FT-Raman spektroskopia Raman analiza procesowa MATRIX-F II INVENIO ALPHA II BEAM analiza gazów MATRIX MG II EM AFS2 Freeze Substitution DM2700 P DM4 P DM750 P mikroskop polaryzacyjny mikroskopia polaryzacyjna DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny edukacja FS C FS M kamera mikroskopowa mikroskopia oprogramowanie polaryzacyjna porównawcza DMi8 metalografia mikroskop odwrócony mikrostruktura oprogramowanie LAS X wtrącenia niemetaliczne DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M DM8000 M mikroskop inspekcyjny analiza in-situ Poseidon AX TEM Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy analiza mikrostruktury EM TIC3X sem system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego automatyczny procesor tkankowy EM TP EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym EM CPD300 Atmosphere AX in-situ System gazowy EM ACE600 napylarka wysokopróżniowa EM ACE200 napylarka niskopróżniowa TEMLeica ac20 kontrastowania kontrastowanie preparatyka txp
Zdjęcie produktu Mikromanipulatory MICRO / NANO - Imina Technologies
Zdjęcie produktu Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro - IBSS Group
Zdjęcie produktu Mobilny system oczyszczania plazmą Chiaro - IBSS Group
Zdjęcie produktu Wideoskop PRSL300T do inspekcji rur - Mitcorp
Zdjęcie produktu Spektrometr FT-NIR TANGO II - Bruker
Zdjęcie produktu Seria PMS – Trójwymiarowa precyzja bez kompromisów Dr. Schneider
Zdjęcie produktu Seria WMM – Wielosensorowe maszyny do pomiaru wałków 3D - Dr. Schneider
Zdjęcie produktu Seria WMX – Szybki, optyczny pomiar wałków 3D - Dr. Schneider
Zdjęcie produktu Seria V-CAD – Szybkość pomiaru w najwyższej rozdzielczości - Dr. Schneider
1 2 3 4 ... 14

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn