Producent:
Model 1040 NanoMill® – system do precyzyjnej preparatyki jonowej TEM - Fischione Instruments
Model 1051 TEM Mill – system do jonowego ścieniania i polerowania próbek TEM - Fischione Instruments
Model 1070 NanoClean - kompaktowy system do plazmowego czyszczenia - Fischione Instruments
Model 1080 PicoMill® – system do precyzyjnej preparatyki jonowej TEM - Fischione Instruments
Model 110 Automatic Twin-Jet Electropolisher – automatyczny system do elektropolerowania próbek TEM - Fischione Instruments
Model 130 Specimen Punch - precyzyjny wycinak do próbek TEM - Fischione Instruments
Model 160 Specimen Grinder - system do mechanicznego ścieniania próbek - Fischione Instruments
Model 170 Ultrasonic Disk Cutter - ultradźwiękowy wycinak do krążków TEM - Fischione Instruments
Model 180 XTEM Prep Kit - zestaw do przygotowania próbek XTEM - Fischione Instruments
Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions
