Model 1051 TEM Mill – system do jonowego ścieniania i polerowania próbek TEM – Fischione Instruments

TEM Mill jest kompaktowym systemem wykorzystującym szeroką wiązkę jonową do przygotowania cienkich, transparentnych dla elektronów próbek TEM. Rozwiązanie umożliwia zarówno szybkie usuwanie materiału przy wyższych energiach, jak i końcowe polerowanie przy niższych energiach.

Model 1051 wykorzystuje dwa niezależnie regulowane źródła jonów TrueFocus, zapewniające precyzyjną kontrolę procesu. Szeroki zakres energii pracy źródła – od 100 eV do 10 keV – pozwala dopasować proces zarówno do szybkiego ścieniania, jak i delikatnego polerowania końcowego.

Niskokątowe polerowanie ogranicza uszkodzenia radiacyjne i nagrzewanie próbki, a jednocześnie umożliwia równomierne ścienianie materiałów o różnym składzie. Jest to szczególnie korzystne przy przygotowaniu materiałów wielowarstwowych, kompozytów oraz próbek XTEM. System może być wyposażony m.in. w chłodzony ciekłym azotem stolik, bezpośredni pomiar prądu wiązki oraz automatyczne zakończenie procesu na podstawie czasu, temperatury lub detekcji laserowej.

Najważniejsze cechy:

• dwa niezależne źródła jonów TrueFocus,
• zakres energii wiązki 100 eV–10 keV,
• szybkie ścienianie i niskoenergetyczne polerowanie,
• regulowany kąt padania wiązki −15° do +10°,
• ograniczenie uszkodzeń radiacyjnych i nagrzewania,
• możliwość chłodzenia próbki ciekłym azotem,
• bezpośredni pomiar prądu każdego źródła jonów,
• obserwacja próbki i rejestracja obrazu podczas procesu,
• automatyczne zakończenie procesu – opcjonalnie na podstawie czasu, temperatury lub detekcji laserowej.