PicoMill® łączy ultraniskoenergetyczne źródło jonów gazu obojętnego z kolumną elektronową i wieloma detektorami, tworząc zaawansowany system do końcowej preparatyki próbek TEM. Został opracowany jako uzupełnienie technologii FIB, pozwalające na wykonanie finalnego ścieniania próbki poza systemem FIB.
PicoMill® umożliwia jednoczesne wykorzystanie obrazowania jonowego i elektronowego, dzięki czemu operator może kontrolować proces preparatyki oraz obserwować przygotowywany obszar. Rozwiązanie pozwala ograniczyć typowe problemy związane z preparatyką FIB, takie jak amorfizacja powierzchni czy implantacja galu, i uzyskać próbki o wysokiej jakości do zaawansowanej analizy TEM/STEM.
Istotną zaletą PicoMill® jest możliwość przeniesienia końcowego etapu preparatyki poza urządzenie FIB. Pozwala to zwiększyć dostępność FIB dla innych zadań oraz poprawić przepustowość całego procesu przygotowania próbek. System oferuje również połączenie z mikroskopem, wspierające bezpieczne obchodzenie się z próbką.

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions