Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Metalografia
Zdjęcie produktu Mikroskopy świetlne (optyczne)

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów cięcie próbek CutLam 4.0 CutLam 5.0 komora cięcia kontrola jakości laboratorium materiałowe Lam Plan posuw automatyczny przecinarka metalograficzna sterowanie programowalne automatyczna przecinarka CUTLAM LAMPLAN cięcie precyzyjne laboratorium metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 cyfrowy mikroskop DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica mikroskopia materiałowa M125 M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 analiza materiałów cyfrowy Emspira 3 mikroskop pomiary Ivesta 3 stereoskopowy A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka polerka manualna SMARTLAM 2.0 prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1 badania materiałowe DM2700 P DM4 P DM750 P mikroskop polaryzacyjny mikroskopia polaryzacyjna analiza cząstek automatyzacja DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny analiza materiałowa edukacja FS C FS M kamera mikroskopowa mikroskopia oprogramowanie polaryzacyjna porównawcza DMi8 metalografia mikroskop odwrócony mikrostruktura oprogramowanie LAS X wtrącenia niemetaliczne analiza czystości technicznej identyfikacja zanieczyszczeń klasyfikacja cząstek LIBS mikroskop badawczy DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M DM8000 M mikroskop inspekcyjny analiza mikrostruktury EM TIC3X sem system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM ACE200 napylarka niskopróżniowa preparatyka próbek TEM TEMLeica
Zdjęcie produktu Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M
Zdjęcie produktu CutLam 4.0 i CutLam 5.0 Przecinarki podłogowe automatyczne metalograficzne - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 3.0 Laboratoryjna przecinarka automatyczna metalograficzna - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 2.0 Mała przecinarka precyzyjna metalograficzna - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM 3.1 Przecinarka automatyczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu Leica DVM6A Mikroskop cyfrowy z uchylną głowicą
Zdjęcie produktu Leica M125 & M205 Mikroskopy stereoskopowe
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn