Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne automatyczna przecinarka LAMPLAN CUTLAM cięcie precyzyjne metalurgia laboratorium Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna Micro 1.1 cięcie automatyczne 3.1 CUTLAM 1.1 cyfrowy mikroskop mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy mikroskop stereoskopowy stereoskop M125 M205 M50 M60 M80 cyfrowy pomiary mikroskop analiza materiałów Emspira 3 stereoskopowy Ivesta 3 A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania DM750 P mikroskopia polaryzacyjna badania materiałowe mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej automatyzacja analiza cząstek EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa edukacja DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej DM6 polaryzacyjnaDM4 mikroskop inspekcyjny DM8000 M DM12000 M Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek EM KMR3 Łamarka do noży szklanych TEMLeica TEM preparatyka próbek napylarka niskopróżniowa EM ACE200
Zdjęcie produktu MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym - Lam Plan
Zdjęcie produktu Mikroskop cyfrowy Leica Emspira 3
Zdjęcie produktu Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M
Zdjęcie produktu Mikroskop stereoskopowy Leica A60 F
Zdjęcie produktu Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3
Zdjęcie produktu Mikroskopy edukacyjne Leica
Zdjęcie produktu Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej
Zdjęcie produktu Mikroskopy polaryzacyjne Leica DM750P, DM2700P, DM4P
Zdjęcie produktu Mikroskopy stereoskopowe Leica M50, M60, M80
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn