Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny LAMPLAN CUTLAM automatyczna przecinarka metalurgia laboratorium Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop stereoskop M125 M205 mikroskop stereoskopowy M60 M80 M50 pomiary mikroskop analiza materiałów Emspira 3 cyfrowy Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania mikroskopia polaryzacyjna badania materiałowe mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej automatyzacja analiza cząstek mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa edukacja metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej polaryzacyjnaDM4 DM6 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych TEM preparatyka próbek napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica
Zdjęcie produktu MASTERLAM 3.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym i indywidualnym - Lam Plan
Zdjęcie produktu Mikroskop cyfrowy Leica Emspira 3
Zdjęcie produktu Mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M
Zdjęcie produktu Mikroskop stereoskopowy Leica A60 F
Zdjęcie produktu Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3
Zdjęcie produktu Mikroskopy edukacyjne Leica
Zdjęcie produktu Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej
Zdjęcie produktu Mikroskopy polaryzacyjne Leica DM750P, DM2700P, DM4P
Zdjęcie produktu Mikroskopy stereoskopowe Leica M50, M60, M80
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn