Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 LAMPLAN CUTLAM automatyczna przecinarka metalurgia laboratorium Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop M125 M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 mikroskop analiza materiałów Emspira 3 cyfrowy pomiary Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania badania materiałowe mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna automatyzacja analiza cząstek DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych TEM preparatyka próbek napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica
Zdjęcie produktu Leica DM6 M LIBS do badania czystości technicznej
Zdjęcie produktu Leica FS M i FS C Mikroskop porównawczy
Zdjęcie produktu Leica DMi8 Mikroskop odwrócony
Zdjęcie produktu Leica DM4 M oraz DM6 M Mikroskopy badawcze
Zdjęcie produktu Leica DM8000 oraz DM12000 Mikroskopy do mikroelektroniki
Zdjęcie produktu Leica DVM6A Mikroskop cyfrowy z uchylną głowicą
Zdjęcie produktu Leica M125 & M205 Mikroskopy stereoskopowe
Zdjęcie produktu Mikroskopy stereoskopowe Leica M50, M60, M80
Zdjęcie produktu Mikroskop cyfrowy Leica Emspira 3
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn