Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria laboratorium materiałowe cięcie próbek sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia laboratorium Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 mikroskop świetlnyLeica DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny M125 M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 analiza materiałów Emspira 3 cyfrowy pomiary mikroskop Ivesta 3 stereoskopowy inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna A60 F MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna badania materiałowe analiza cząstek DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej automatyzacja DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa wtrącenia niemetaliczne mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura klasyfikacja cząstek analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy DM6 polaryzacyjnaDM4 DM8000 M DM12000 M mikroskop inspekcyjny analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem EM KMR3 Łamarka do noży szklanych preparatyka próbek napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica TEM
Zdjęcie produktu Leica DM4 M oraz DM6 M Mikroskopy badawcze
Zdjęcie produktu Leica DM6 M LIBS do badania czystości technicznej
Zdjęcie produktu Leica DM8000 oraz DM12000 Mikroskopy do mikroelektroniki
Zdjęcie produktu Leica DMi8 Mikroskop odwrócony
Zdjęcie produktu Leica DVM6A Mikroskop cyfrowy z uchylną głowicą
Zdjęcie produktu Leica FS M i FS C Mikroskop porównawczy
Zdjęcie produktu Leica M125 & M205 Mikroskopy stereoskopowe
Zdjęcie produktu MASTERLAM 1.0 Szlifierko-polerka automatyczna z dociskiem centralnym - Lam Plan
Zdjęcie produktu MASTERLAM 1.1 Szlifierko-polerka automatyczna do docisku centralnego - Lam Plan
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn