Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Mikroskopy świetlne (optyczne)
Zdjęcie produktu Kategoria:
Metalografia

Producent:

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria sterowanie programowalne posuw automatyczny komora cięcia bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów CutLam 4.0 CutLam 5.0 kontrola jakości Lam Plan przecinarka metalograficzna laboratorium materiałowe cięcie próbek CUTLAM automatyczna przecinarka LAMPLAN przecinarka laboratoryjna cięcie precyzyjne metalurgia laboratorium Micro 2.0 Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 mikroskop inspekcyjno-badawczy cyfrowy mikroskop mikroskopia materiałowa mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica DVM6A M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M125 M50 M60 M80 Emspira 3 cyfrowy pomiary mikroskop analiza materiałów stereoskopowy Ivesta 3 A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica Lam PlanMASTERLAM 1.0 SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka SMARTLAM 2.0 polerka manualna PRESSLAM 1.1 prasa do inkludowania DM2700 P DM750 P mikroskopia polaryzacyjna badania materiałowe mikroskop polaryzacyjny DM4 P DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej automatyzacja analiza cząstek DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny DM500 DM750 DM750M edukacja FS M FS C mikroskopia polaryzacyjna porównawcza oprogramowanie kamera mikroskopowa analiza materiałowa mikroskop odwrócony DMi8 metalografia oprogramowanie LAS X mikrostruktura wtrącenia niemetaliczne analiza czystości technicznej LIBS identyfikacja zanieczyszczeń mikroskop badawczy klasyfikacja cząstek DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M mikroskop inspekcyjny DM8000 M system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TIC3X EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM ACE200 TEMLeica TEM preparatyka próbek napylarka niskopróżniowa
Zdjęcie produktu Leica EM ACE200 Napylarka niskopróżniowa
Zdjęcie produktu Leica EM KMR3 Łamarka do noży szklanych
Zdjęcie produktu Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego
Zdjęcie produktu CUTLAM 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM 3.1 Przecinarka automatyczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CutLam 4.0 i CutLam 5.0 Przecinarki podłogowe automatyczne metalograficzne - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 1.1 Przecinarka ręczna metalograficzna z dużą komorą - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 2.0 Mała przecinarka precyzyjna metalograficzna - Lam Plan
Zdjęcie produktu CUTLAM Micro 3.0 Laboratoryjna przecinarka automatyczna metalograficzna - Lam Plan
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn