W dniach 3–6 czerwca 2025 roku, firma PIK Instruments uczestniczyła w targach ITM Industry Europe w Poznaniu – jednym z największych wydarzeń technologicznych w Polsce, dedykowanym automatyzacji, kontroli jakości, mikroskopii i innowacjom w duchu Przemysłu 4.0. Nasze stoisko odwiedziło setki specjalistów z branży przemysłowej i naukowej, a my z dumą zaprezentowaliśmy nowoczesne rozwiązania z zakresu: Mikroskopia optyczna i elektronowa (SEM, TEM) – do precyzyjnej analizy powierzchni, struktury i składu materiałów, 🧪 Spektrometria i analiza chemiczna (EDS, WDS, XRF, RAMAN) – szybkie i dokładne oznaczanie pierwiastków, 🛠️ Preparatyka próbek – profesjonalne cięcie, zatapianie, polerowanie i mikrotomia, 📊 Systemy do automatycznej kontroli jakości i R&D – wspierające cyfrową transformację produkcji. Dlaczego warto było nas odwiedzić? ➡️ Pokazaliśmy, jak mikroskopy przemysłowe i technologie pomiarowe wspierają nowoczesne zakłady produkcyjne, laboratoria badawcze i działy kontroli jakości. ➡️ Rozmawialiśmy o praktycznym zastosowaniu analizy materiałowej i mikroskopii elektronowej w przemyśle. ➡️ Dzieliliśmy się wiedzą na temat najnowszych trendów i rozwiązań dla firm działających zgodnie z ideą Smart Industry / Industry 4.0. Dziękujemy! Dziękujemy wszystkim odwiedzającym za inspirujące rozmowy i zainteresowanie naszą ofertą. Jeśli nie mogliście być z nami na ITM 2025, zapraszamy do kontaktu – chętnie zaprezentujemy nasze rozwiązania również Twojej firmie.

Mieliśmy przyjemność wziąć udział w wydarzeniu Technical Cleanliness Forum, które zgromadziło ekspertów, inżynierów jakości oraz przedstawicieli przemysłu zainteresowanych nowoczesnymi metodami analizy czystości technicznej komponentów. Spotkanie stanowiło doskonałą okazję do zaprezentowania najnowocześniejszych technologii do kontroli zanieczyszczeń stałych, zgodnych z normami ISO 16232 oraz VDA 19.1, które mają kluczowe znaczenie dla jakości i niezawodności procesów produkcyjnych w branżach takich jak automotive, lotnictwo, elektronika precyzyjna, czy produkcja medyczna. 🔬 Co zaprezentowaliśmy? 🧪 ThermoFisher ParticleX TC – skaningowy mikroskop elektronowy SEM,który umożliwia szybkie zliczanie cząstek zanieczyszczeń oraz analizę ich składu chemicznego. To rozwiązanie idealne dla działów jakości i laboratoriów analizujących czystość komponentów technicznych. 🔍 Leica DM6 M Cleanliness Expert – mikroskop optyczny do analizy czystości technicznej,stworzony z myślą o pełnej zgodności z wymaganiami VDA 19 i ISO 16232. Uczestnicy mogli przekonać się, jak intuicyjna obsługa i wbudowane oprogramowanie usprawniają codzienną kontrolę jakości. 💧 CleanPArt'ner DSS2 – stacja ekstrakcyjna,która umożliwia wydajne pozyskiwanie cząstek zanieczyszczeń z powierzchni komponentów i przygotowanie ich do dalszej analizy. Rozwiązanie cieszyło się dużym zainteresowaniem ze względu na praktyczne zastosowanie w kontroli procesów produkcyjnych. 📈 SITA Messtechnik GmbH – urządzenia do monitorowania skuteczności procesów mycia,wspierające utrzymanie stabilnych parametrów czyszczenia, pozwalające spełnić najwyższe standardy czystości w branży. Podczas wydarzenia uczestnicy wymieniali doświadczenia i najlepsze praktyki dotyczące: poprawy efektywności i powtarzalności analiz czystości w liniach produkcyjnych. spełniania norm czystości technicznej (ISO/VDA), wdrażania systemów kontroli jakości komponentów przemysłowych, integracji mikroskopii elektronowej SEM i analizy optycznej w ramach codziennych procedur kontroli, Technical Cleanliness Forum potwierdziło, jak ogromne znaczenie ma dziś precyzyjna analiza zanieczyszczeń technicznych w zapewnianiu jakości i niezawodności produktów. Jako PIK Instruments mieliśmy przyjemność zaprezentować światowej klasy rozwiązania, które realnie wspierają naszych klientów w spełnianiu coraz bardziej rygorystycznych wymagań. Dziękujemy wszystkim uczestnikom za inspirujące rozmowy i duże zainteresowanie prezentowanymi technologiami!

Z przyjemnością informujemy, że do oferty PIK Instruments dołączył nowy, innowacyjny mikroskop materiałoznawczy Leica Visoria M – najnowszy przedstawiciel linii mikroskopów Visoria od renomowanego producenta Leica Microsystems. Mikroskop Visoria M to idealne rozwiązanie dla specjalistów pracujących w przemyśle metalowym, elektronicznym, polimerowym oraz w laboratoriach nauk o materiałach. Został zaprojektowany z myślą o codziennej pracy – zapewnia nie tylko wysoką jakość obrazu, ale także wyjątkową wygodę użytkowania. Kluczowe zalety mikroskopu Visoria M: Zwiększona efektywność pracy – dzięki funkcjom z kodowaniem i zoptymalizowanym ustawieniom oświetlenia, Komfort użytkownika – ergonomiczna konstrukcja pozwala na długotrwałą pracę bez nadmiernego obciążenia, Nowoczesna technologia – dostosowana do wymagań współczesnych laboratoriów i linii produkcyjnych. Dzięki Visoria M możesz usprawnić swoje procesy kontrolne i badawcze, a także poprawić komfort codziennej pracy z mikroskopem. Więcej informacji na: https://pik-instruments.pl/mikroskop-materialoznawczy-leica-visoria-m/