Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia elektronowa

Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe SEM
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe TEM
Zdjęcie produktu Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Zdjęcie produktu Preparatyka

Producent:

Tagi:

mikrotom microTec CUT4060 E laboratorium CUT4060 CUT4055 CUT4050 EDS Detektor Quantax bruker EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS automatyzacja badania in-situ IBSS mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS ThermoFisher Scientific analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM SEM desktop rutynowe analizy próbek analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel kontrola jakości mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM obrazowanie 3D rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana AXON mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity leica interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive Particle X Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa phenom analiza czystości analiza pierwiastkowa wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM XL G2 szybkie obrazowanie pure EM AFS2 Freeze Substitution Poseidon AX analiza in-situ TEM Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym Atmosphere AX System gazowy in-situ napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica ac20 kontrastowanie kontrastowania txp preparatyka
Zdjęcie produktu Leica EM RAPID Trymer do próbek
Zdjęcie produktu Kammrath & Weiss Moduły do rozciągania / ściskania
Zdjęcie produktu Leica EM TP Automatyczny procesor tkankowy
Zdjęcie produktu Mikromanipulatory MICRO / NANO - Imina Technologies
Zdjęcie produktu Poseidon AX System cieczowy in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu Triton AX System cieczowy in-situ z grzaniem i chłodzeniem - Protochips
Zdjęcie produktu Atmosphere AX System gazowy in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu Fusion AX System grzewczy/elektryczny in-situ - Protochips
Zdjęcie produktu AXON Platforma do badań in-situ - Protochips
1 2 3 4 5

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn