Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia elektronowa

Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe SEM
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe TEM
Zdjęcie produktu Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Zdjęcie produktu Preparatyka

Producent:

Tagi:

laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 bruker EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS automatyzacja badania in-situ IBSS ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek kontrola jakości analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM obrazowanie 3D rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek analiza materiałowa AXON mikroskop TEM Protochips leica ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive phenom Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa analiza czystości ChemiSEM analiza pierwiastkowa wysokorozdzielcze obrazowanie Axia szybkie obrazowanie XL G2 pure EM AFS2 Freeze Substitution TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Mikroskop elektronowy ParticleX Steel - ThermoFisher Scientific
Zdjęcie produktu Delong LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy
Zdjęcie produktu Delong LVEM 25E Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy
Zdjęcie produktu Leica EM ACE200 Napylarka niskopróżniowa
Zdjęcie produktu Leica EM ACE600 Napylarka wysokopróżniowa
Zdjęcie produktu Mikrotom rotacyjny ręczny CUT4060 E – microTec
Zdjęcie produktu Mikrotom rotacyjny ręczny CUT4060 – microTec
Zdjęcie produktu Mikrotom rotacyjny ręczny CUT4055 – microTec
Zdjęcie produktu Mikrotom rotacyjny ręczny CUT4050 – microTec
1 2 3 4 5

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn