FAST-EM Wielowiązkowy mikroskop elektronowy – Delmic

Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia elektronowa ≻ Mikroskopy elektronowe TEM / STEM
Jednoczesne obrazowanie z wykorzystaniem 64 wiązek elektronowych
Rozdzielczość obrazowania na poziomie 4 nm
Krótki czas przebywania wiązki na pikselu, od 400 ns
Detekcja sygnału za pomocą matrycy 64 fotopowielaczy SiPM
Specjalistyczne podłoża scyntylacyjne do montażu seryjnych skrawków
Zautomatyzowana akwizycja oraz łączenie obrazów dużych obszarów
Dwa groty strzał
Jednoczesne obrazowanie z wykorzystaniem 64 wiązek elektronowych
Rozdzielczość obrazowania na poziomie 4 nm
Krótki czas przebywania wiązki na pikselu, od 400 ns
Detekcja sygnału za pomocą matrycy 64 fotopowielaczy SiPM
Specjalistyczne podłoża scyntylacyjne do montażu seryjnych skrawków
Zautomatyzowana akwizycja oraz łączenie obrazów dużych obszarów
Dwa groty strzał
Zapytaj o produkt
×

    Zapytaj o ten produkt

    Jeżeli jesteś zainteresowany tym produktem, wypełnij poniższy formularz, a my wyślemy do Ciebie ofertę.

    Partnerzy

    Dwa groty strzał Dwa groty strzał

    Informacje
    kontaktowe

    Kartka papieru

    NIP: 1231377998

    KRS: 0000705300

    REGON: 368854010

    Certyfikacja
    ISO 9001

    Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

    Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

    Logo serwisu YouTube
    Logo serwisu LinkedIn