Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E

Mikroskop LVEM 25E to wyjątkowa i kompaktowa konstrukcja niskonapięciowego transmisyjnego mikroskopu elektronowego (TEM), będąca następcą mikroskopu LVEM 25. 

Wysokorozdzielczy mikroskop Delong LVEM 25E to urządzenie typu „all-in-one”  łączące 3 tryby obrazowania z 2 trybami analitycznymi w jednym instrumencie. Takie rozwiązanie, w połączeniu z imponującą mocą rozdzielczą sprawia, że ​​LVEM 25E jest wyjątkowym partnerem dla wszystkich wymagań dotyczących obrazowania w skali nano, znajdując swoje zastosowanie nie tylko badaniach z zakresu inżynierii materiałowej, ale również w naukach biologicznych. Możliwość pracy z niskimi dawkami wiązki elektronowej przekłada się na nieporównywalnie wysoki i naturalny kontrast oraz  brak ryzyka zniszczenia próbki radiacyjne, w trakcie naświetlania elektronami.

• Wysoki kontrast i rozdzielczość 
  • polowe źródło elektronów z katodą Schottky’ego ( S-FEG) gwarantujące obrazowanie wysokorozdzielcze
  • Naturalnie wysoki kontrast dzięki niskiemu napięciu przyśpieszającemu 

• 5 trybów obrazowania w jednym instrumencie
  • Wyposażony w tryby TEM, STEM, SEM, EDS i ED
  • Łatwe przełączanie między trybami obrazowania za pomocą intuicyjnego oprogramowania
  • Detektor EDS do analizy pierwiastkowej

• W pełni zintegrowana i przenośna konstrukcja
  • kompaktowa i przenośna konstrukcja zajmująca niewiele miejsca w laboratorium
  • Instalacja typu plug & play, możliwa w praktycznie każdym środowisku laboratoryjnym
  • Brak specjalnych wymagań dotyczących obiektu (nie jest wymagane chłodzenie czy specjalistyczne zasilanie)

Obszary zastosowań

• Nauki biologiczne
  • Patologia i neurologia
  • Wirusologia
  • Badania leków
  • Biologia komórki
  • Biochemia
  • Immunologia i Onkologia

• Inżynieria materiałowa
  • Materiały kompozytowe
  • Nanomateriały
  • Polimery
  • i więcej

Źródło elektronów: działo z emisją polową Schottky’ego

Rozmiar próbki: standardowe siatki TEM Ø 3,05 mm

Soczewki magnetyczne: stałe

Ruch próbki x, y: ± 1 mm z: ± 0,5 mm

Pochył ± 6°

Tryb obrazowania TEM:

• zdolność rozdzielcza ≤ 1 nm;
• maksymalne powiększenie ≤ 1 300 000x;

Tryb obrazowania STEM oraz SEM (detektor VSE):

• Napięcie przyśpieszjące: 10 kV lub 15 kV
• zdolność rozdzielcza ≤ 1 nm (dla 10 kV) ≤ 1,3 nm (dla 15 kV) ;
• maksymalne powiększenie  ≤ 940 000x (dla 10 kV) lub ≤ 750 000x (dla 15 kV) ;

Tryb dyfrakcji ED:

• minimalna średnica wiązki 500 – 8 000 nm

Analiza składu pierwiastkowego EDS:

• Typ detektora: SSD
• Obszar aktywny: 30 mm2
• Rozdzielczość dla Mn Kα ≤ 129 eV

Siatki TEM z bardzo cienką strukturą – złote

Pudełka na siatki TEM

Pudełko BEEM na siatki do TEM

Pudełko na 96 siatek do TEM

https://micro-shop.pl/page/6/?s=siatki+TEM&post_type=product