Mikroskopia świetlna (optyczna) – Strona 4 – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

Mikroskopia świetlna (optyczna) Aparatura badawcza ≻ Mikroskopia świetlna (optyczna)

Zdjęcie produktu

Zdjęcie produktu

Mikroskopy świetlne (optyczne)

Producent:

Leica Microsystems

Lam Plan

Tagi:

leica mikroskop materiałoznawczy Visoria bezpieczeństwo pracy cięcie dużych komponentów cięcie próbek CutLam 4.0 CutLam 5.0 komora cięcia kontrola jakości laboratorium materiałowe Lam Plan posuw automatyczny przecinarka metalograficzna sterowanie programowalne automatyczna przecinarka CUTLAM LAMPLAN cięcie precyzyjne laboratorium metalurgia Micro 2.0 przecinarka laboratoryjna Micro 1.1 3.1 cięcie automatyczne CUTLAM 1.1 cyfrowy mikroskop DVM6A mikroskop inspekcyjno-badawczy mikroskop świetlny mikroskop świetlnyLeica mikroskopia materiałowa M125 M205 mikroskop stereoskopowy stereoskop M50 M60 M80 analiza materiałów cyfrowy Emspira 3 mikroskop pomiary Ivesta 3 stereoskopowy A60 F inspekcja przemysłowa mikroskopia świetlna MASTERLAM 1.1 szlifierko-polerka MASTERLAM 3.0 polerka automatyczna Lam PlanMASTERLAM 1.0 MASTERLAM 1.0 polerka automatycznaLeica SMARTLAM 3.0 szlifierko-polarka polerka manualna SMARTLAM 2.0 prasa do inkludowania PRESSLAM 1.1 badania materiałowe DM2700 P DM4 P DM750 P mikroskop polaryzacyjny mikroskopia polaryzacyjna analiza cząstek automatyzacja DM4 DM6 M mikroskop do czystości technicznej DM500 DM750 DM750M DM750P EZ4 mikroskop edukacyjny mikroskop optyczny analiza materiałowa edukacja FS C FS M kamera mikroskopowa mikroskopia oprogramowanie polaryzacyjna porównawcza DMi8 metalografia mikroskop odwrócony mikrostruktura oprogramowanie LAS X wtrącenia niemetaliczne analiza czystości technicznej identyfikacja zanieczyszczeń klasyfikacja cząstek LIBS mikroskop badawczy DM6 polaryzacyjnaDM4 DM12000 M DM8000 M mikroskop inspekcyjny analiza mikrostruktury EM TIC3X sem system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM ACE200 napylarka niskopróżniowa preparatyka próbek TEM TEMLeica

Zdjęcie produktu

Leica EM ACE200 Napylarka niskopróżniowa

Zdjęcie produktu

Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego

Zdjęcie produktu

Leica EM KMR3 Łamarka do noży szklanych

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://micro-shop.pl

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl

Odnośnik

https://mikroskopiaswietlna.pl

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions