Dyfrakcja z precesją wiązki (PED)

• Precesja wiązki elektronowej – kontrolowana precesja wiązki wokół osi optycznej podczas rejestracji obrazu dyfrakcyjnego, umożliwiająca uzyskanie bardziej użytecznych analitycznie wzorów dyfrakcyjnych.
• Ograniczenie efektów dynamicznych – technika PED redukuje wpływ efektów dynamicznych typowych dla konwencjonalnej dyfrakcji elektronowej.
• Więcej informacji z każdego punktu – uzyskiwanie bardziej użytecznych analitycznie wzorów dyfrakcyjnych, co przekłada się na lepszą jakość analizy.
• Szeroki zakres zastosowań – identyfikacja faz krystalicznych, określanie orientacji krystalograficznej, analiza nanokryształów, mapowanie odkształceń, rekonstrukcja przestrzeni odwrotnej, tomografia dyfrakcyjna 3D.

Kompleksowy ekosystem analityczny

• DigiSTAR – Cyfrowy system precesji wiązki

  Cyfrowy system przeznaczony do zastosowań w TEM, umożliwiający generowanie wzorów PED. Może być integrowany z większością współczesnych mikroskopów TEM i stanowi podstawę rozwiązań ASTAR, TOPSPIN oraz 3D Electron Diffraction Tomography.

• ASTAR – Mapowanie orientacji i faz

  Łączy dyfrakcję i precesję wiązki z automatycznym mapowaniem orientacji krystalograficznej i identyfikacją faz. Tworzy mapy orientacji i faz materiału z rozdzielczością sięgającą skali nanometrów.

• TOPSPIN – Platforma 4D-STEM

  Cyfrowa akwizycja danych 4D-STEM, łącząca skanowanie wiązki z precesją elektronową i synchroniczną rejestracją danych dyfrakcyjnych. Umożliwia mapowanie orientacji i faz, analizę odkształceń oraz zaawansowaną analizę sygnałów EDX/EELS.

• 3D Electron Diffraction Tomography

  Rekonstrukcja trójwymiarowej przestrzeni odwrotnej i określenie parametrów komórki elementarnej. Umożliwia rozwiązanie struktury krystalicznej nanokryształów.

Rozwiązania NanoMEGAS

• DigiSTAR – cyfrowy system do dyfrakcji z precesją wiązki (Precession Electron Diffraction)
• ASTAR – automatyczne mapowanie orientacji i faz
• TOPSPIN – platforma 4D-STEM i zaawansowanej analizy danych
• 3D Electron Diffraction Tomography / MicroED – analiza struktury nanokryształów
• Strain Mapping – mapowanie odkształceń w skali nanometrycznej
• ePDF – analiza lokalnego uporządkowania materiałów amorficznych i nanokrystalicznych
• Enhanced EDS/EELS – rozszerzona analiza spektroskopowa z wykorzystaniem precesji

Specyfikacja techniczna

• Technologia – Precession Electron Diffraction (PED), 4D-STEM
• Kompatybilność – integracja z większością komercyjnych mikroskopów TEM/STEM, w tym z systemami z korekcją aberracji
• Rozdzielczość mapowania – skala nanometrów
• Czułość mapowania odkształceń – do 0,02% w konfiguracjach FEG-TEM
• Tryby pracy – PED, 4D-STEM, skanowanie, tomografia dyfrakcyjna 3D
• Analiza – orientacja krystalograficzna, identyfikacja faz, mapowanie odkształceń, analiza struktury nanokryształów, ePDF, EDS/EELS

Obszary zastosowań

ASTAR – Mapowanie orientacji i faz – analiza mikrostruktury i tekstury materiałów, granic ziaren, rozkładu faz, nanostruktur, materiałów półprzewodnikowych, metali i stopów, materiałów ceramicznych, materiałów bateryjnych i energetycznych.

Mapowanie odkształceń w skali nano – badania półprzewodników, heterostruktur, nanostruktur, materiałów elektronicznych, materiałów funkcjonalnych, lokalnych naprężeń i odkształceń w kryształach.

3D Electron Diffraction Tomography – określanie parametrów komórki elementarnej, rozwiązanie struktury krystalicznej nanokryształów.

Analiza materiałów amorficznych i nanokrystalicznych – technika ePDF umożliwiająca analizę lokalnego uporządkowania atomowego na podstawie danych dyfrakcyjnych uzyskanych w TEM. W połączeniu z danymi 4D-STEM możliwe jest przestrzenne mapowanie zmian lokalnej struktury.

Rozszerzone możliwości EDS i EELS – łączenie precesji z EDS/EDX oraz EELS, ograniczenie efektów związanych z kanałowaniem elektronów, modelowa analiza ilościowa danych EELS w TOPSPIN.