Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

IMC21 2026 – PIK Instruments na kongresie mikroskopii

Obrazek wyróżniający we wpisie na blogu

Data publikacji: 17 września 2026

IMC21 2026 – PIK Instruments na kongresie mikroskopii

PIK Instruments na IMC21 2026 – najważniejszym wydarzeniu świata mikroskopii

Rozwój nowoczesnej mikroskopii wymaga nieustannego poszerzania wiedzy, poznawania nowych technologii i wymiany doświadczeń. Dlatego przedstawiciele PIK Instruments uczestniczyli w International Microscopy Congress (IMC21) 2026, który odbył się w Liverpoolu w Wielkiej Brytanii.

IMC21 – międzynarodowe spotkanie świata mikroskopii

International Microscopy Congress to jedno z najważniejszych międzynarodowych wydarzeń poświęconych mikroskopii. Kongres organizowany jest raz na kilka lat i gromadzi specjalistów, naukowców oraz przedstawicieli firm technologicznych z całego świata.

IMC21 w Liverpoolu był doskonałą okazją do poznania najnowszych kierunków rozwoju technik mikroskopowych, zapoznania się z innowacyjnymi rozwiązaniami oraz rozmów z ekspertami reprezentującymi różne obszary tej dziedziny.

PIK Instruments na IMC21 2026
Podczas kongresu szczególną uwagę poświęciliśmy nowościom w mikroskopii elektronowej, technikom preparatyki próbek oraz rozwiązaniom in-situ.

Nowe technologie i wymiana doświadczeń

Przedstawiciele PIK Instruments z zainteresowaniem śledzili prezentowane rozwiązania i dyskusje dotyczące przyszłości mikroskopii. Wśród obszarów szczególnie istotnych dla naszej działalności znalazły się:

  • Mikroskopia elektronowa – rozwój technologii obrazowania i możliwości analizy materiałów na poziomie mikro- i nanometrycznym.
  • Preparatyka próbek – rozwiązania wspierające przygotowanie materiału do badań mikroskopowych i uzyskiwanie wiarygodnych wyników.
  • Techniki in-situ – metody umożliwiające obserwację i analizę procesów zachodzących w materiałach w kontrolowanych warunkach.

Udział w wydarzeniu tej rangi to nie tylko możliwość poznania nowych technologii. To także przestrzeń do rozmów o wyzwaniach badawczych, wymiany praktycznych doświadczeń i budowania relacji, które mają znaczenie dla dalszego rozwoju branży.

Spotkania z partnerami i polskim środowiskiem mikroskopistów

Jednym z najważniejszych elementów IMC21 były dla nas spotkania z partnerami technologicznymi oraz przedstawicielami polskiego środowiska naukowego. Cieszymy się, że podczas kongresu mogliśmy porozmawiać z polskimi mikroskopistami, wymienić doświadczenia i wspólnie przyjrzeć się kierunkom rozwoju tej dziedziny.

Dziękujemy naszym partnerom za zaufanie, współpracę i inspirujące rozmowy:

  • 3D-Micromac AG
  • Agar Scientific
  • ConnectomX
  • Delmic
  • Delong Instruments
  • Fischione Instruments
  • ibss Group, Inc.
  • Kammrath & Weiss GmbH
  • NanoMEGAS
  • Quantum Detectors Ltd.
  • Thermo Fisher Scientific
  • TOUSIMIS
Wiedza, doświadczenie i współpraca
Jesteśmy przekonani, że bezpośredni kontakt z ekspertami i producentami technologii pozwala nam jeszcze lepiej rozumieć potrzeby laboratoriów oraz wspierać klientów w wyborze odpowiednich rozwiązań badawczych.

PIK Instruments – blisko najnowszych technologii

Udział w International Microscopy Congress to kolejny element naszego zaangażowania w rozwój kompetencji i śledzenie światowych trendów w mikroskopii. Poznawanie nowych rozwiązań, rozmowy z producentami i wymiana doświadczeń ze środowiskiem naukowym pomagają nam rozwijać ofertę oraz kompetencje zespołu.

IMC21 2026 w Liverpoolu był dla nas intensywnym i inspirującym spotkaniem ze światem nowoczesnej mikroskopii. Dziękujemy wszystkim, z którymi mieliśmy okazję się spotkać!

Porozmawiajmy o rozwiązaniach dla Twojego laboratorium

Szukasz mikroskopu elektronowego, systemu do preparatyki próbek lub specjalistycznego wyposażenia badawczego? Skontaktuj się z zespołem PIK Instruments.

Skontaktuj się z nami

Udostępnij:

SIE 29

MicroXRF w praktyce – mapa pierwiastkowa banana

MicroXRF w praktyce – mapa pierwiastkowa banana | PIK Instruments Zwykły banan pod lupą microXRF – co kryje mapa pierwiastkowa? Banan to jeden z najpopularniejszych owoców. Na pierwszy rzut oka jego przekrój wydaje się dość jednolity. Jednak analiza z wykorzystaniem spektrometrii microXRF pokazuje, że wewnątrz kryje się znacznie bardziej złożony obraz. Dzięki mapowaniu pierwiastkowemu możemy zobaczyć nie tylko, jakie pierwiastki znajdują się w próbce, ale również gdzie dokładnie występują. Co kryje się wewnątrz banana? Do zobrazowania rozmieszczenia pierwiastków w przekroju banana wykorzystano technologię microXRF dostępną w systemach Atlas firmy IXRF Systems. Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej w skali mikro umożliwia analizę składu pierwiastkowego próbki z zachowaniem informacji o przestrzennym rozmieszczeniu poszczególnych składników. Wyniki można przedstawić w postaci map pierwiastkowych, na których różne kolory odpowiadają obecności wybranych pierwiastków. Mapa pierwiastkowa – trzy pierwiastki, trzy kolory Na przedstawionej mapie pierwiastkowej banana zobrazowano rozmieszczenie trzech pierwiastków: Wapń (Ca) – oznaczony kolorem czerwonym i pomarańczowym, Mangan (Mn) – przedstawiony w kolorze zielonym, Potas (K) – oznaczony kolorem niebieskim. Poszczególne mapy pozwalają dostrzec różnice w rozmieszczeniu pierwiastków pomiędzy skórką a miąższem, a także prześledzić przebieg struktur przewodzących i obszary ich lokalnej koncentracji. Co pokazuje analiza microXRF? Mapa pierwiastkowa dostarcza informacji nie tylko o obecności określonych pierwiastków, ale również o ich przestrzennym rozmieszczeniu w badanym materiale. Dzięki temu można analizować niejednorodności składu i powiązać je z budową próbki. MicroXRF – nie tylko skład, ale również rozmieszczenie pierwiastków Jedną z największych zalet techniki microXRF jest możliwość połączenia analizy składu pierwiastkowego z obrazowaniem jego przestrzennego rozkładu. W przeciwieństwie do metod dostarczających wyłącznie informacji o uśrednionym składzie próbki, mapowanie microXRF pozwala zobaczyć, jak poszczególne pierwiastki rozmieszczone są w różnych jej obszarach. Takie podejście znajduje zastosowanie w wielu dziedzinach nauki i przemysłu, między innymi w: badaniach biologicznych i roślinnych – analizie rozmieszczenia pierwiastków w tkankach, nauce o materiałach – badaniu niejednorodności składu i rozkładu pierwiastków, geologii i mineralogii – analizie składu mineralnego i rozmieszczenia pierwiastków w próbkach, przemyśle i kontroli jakości – lokalizowaniu obszarów o różnym składzie chemicznym. Systemy microXRF Atlas firmy IXRF Systems W ofercie PIK Instruments znajdują się systemy microXRF firmy IXRF Systems, w tym: ATLAS APEX M – spektrometr microXRF, ATLAS APEX X – spektrometr microXRF. Rozwiązania te pozwalają prowadzić zaawansowane analizy pierwiastkowe i tworzyć mapy obrazujące przestrzenne rozmieszczenie składników w badanych próbkach. Każda próbka ma swoją historię Przykład zwykłego banana pokazuje, jak wiele informacji może kryć się w pozornie jednorodnym materiale. Dzięki technologii microXRF możemy odkrywać jego wewnętrzną strukturę chemiczną i lepiej rozumieć rozmieszczenie poszczególnych pierwiastków. To właśnie siła mapowania pierwiastkowego – nie tylko informacja o tym, co znajduje się w próbce, ale również możliwość zobaczenia, gdzie dokładnie występują poszczególne składniki. Chcesz dowiedzieć się więcej o spektrometrii microXRF? Skontaktuj się z zespołem PIK Instruments. Pomożemy dobrać rozwiązanie IXRF Systems do specyfiki próbek i wymagań prowadzonych analiz. Skontaktuj się z nami
SIE 13

Analiza azbestu metodą SEM-EDS – Phenom XL G3 i AsbestoMetric

Analiza azbestu metodą SEM-EDS – Phenom XL G3 i AsbestoMetric Analiza azbestu metodą SEM-EDS – Phenom XL G3 i oprogramowanie AsbestoMetric Azbest nadal stanowi istotne wyzwanie podczas modernizacji, remontów i rozbiórek budynków. Mimo ograniczeń i zakazów jego stosowania materiały zawierające azbest wciąż występują w istniejącej infrastrukturze. Dlatego wiarygodna identyfikacja włókien ma kluczowe znaczenie dla bezpieczeństwa oraz prawidłowego prowadzenia prac analitycznych. Jednym z rozwiązań wspierających laboratoria jest połączenie skaningowego mikroskopu elektronowego Phenom XL G3 z oprogramowaniem AsbestoMetric. Dlaczego analiza azbestu wymaga precyzyjnych metod? Materiały zawierające azbest mogą występować w różnych elementach infrastruktury budowlanej. Ich identyfikacja wymaga odpowiednich metod analitycznych, które pozwalają ocenić charakterystykę obserwowanych włókien i zweryfikować ich skład. W analizie azbestu istotną rolę odgrywa skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), która umożliwia uzyskiwanie obrazów o wysokiej rozdzielczości. Uzupełnieniem obrazowania jest analiza składu chemicznego z wykorzystaniem spektroskopii dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (EDS). Połączenie tych technik pozwala analitykowi oceniać morfologię włókien oraz uzyskiwać informacje o ich składzie chemicznym. Dzięki temu możliwa jest bardziej kompleksowa charakterystyka badanych próbek. Phenom XL G3 SEM i AsbestoMetric – zintegrowany workflow analityczny Mikroskop Phenom XL G3 firmy Thermo Fisher Scientific w połączeniu z oprogramowaniem AsbestoMetric oferuje dedykowany workflow wspierający analizę włókien azbestowych. Oprogramowanie prowadzi użytkownika przez kolejne etapy procesu analitycznego, ułatwiając organizację pracy, pozyskiwanie obrazów, weryfikację włókien i dokumentowanie wyników. Najważniejsze możliwości oprogramowania AsbestoMetric Automatyczne pozyskiwanie obrazów SEM – usprawnienie procesu akwizycji obrazów badanych próbek. Zarządzanie wieloma próbkami – wygodna organizacja pracy i dokumentacji analitycznej. Identyfikacja i weryfikacja włókien – wsparcie analityka przy ocenie obserwowanych struktur, z zachowaniem jego kontroli nad procesem. Analiza składu chemicznego EDS – wykorzystanie informacji o składzie pierwiastkowym do dalszej oceny włókien. Porównywanie widm z biblioteką referencyjną – dodatkowe wsparcie procesu identyfikacji. Klasyfikacja włókien – uporządkowanie wyników analizy. Automatyczne raportowanie – przygotowywanie kompletnej dokumentacji z przeprowadzonych analiz. SEM + EDS + AsbestoMetric Połączenie wysokiej jakości obrazowania elektronowego, analizy składu chemicznego i dedykowanego oprogramowania pozwala uporządkować kolejne etapy analizy azbestu oraz usprawnić dokumentowanie wyników. Analiza azbestu a normy i procedury laboratoryjne Istotną cechą rozwiązania AsbestoMetric jest workflow opracowany z uwzględnieniem norm i procedur wykorzystywanych w analizie azbestu. Wśród uwzględnianych dokumentów znajdują się: ISO 14966 – dotycząca ilościowego oznaczania włókien nieorganicznych w powietrzu z wykorzystaniem skaningowej mikroskopii elektronowej, VDI 3866 – seria wytycznych dotyczących oznaczania azbestu w materiałach technicznych, VDI 3492 – wytyczne dotyczące oznaczania włókien nieorganicznych w powietrzu. Laboratoria mogą korzystać z przygotowanych standardów akwizycji lub dostosowywać procedury analityczne do własnych wymagań i stosowanych wytycznych. Oprogramowanie wspiera organizację procesu, jednak dobór właściwej metody, interpretacja wyników i ocena zgodności z wymaganiami pozostają po stronie laboratorium i uprawnionego analityka. Mikroskopia elektronowa w nowoczesnych laboratoriach analitycznych Rosnące znaczenie wiarygodnej identyfikacji materiałów zawierających azbest sprawia, że laboratoria poszukują rozwiązań łączących precyzję pomiarów z wydajną organizacją pracy. Mikroskopia elektronowa SEM w połączeniu z analizą EDS pozwala rozszerzyć możliwości charakterystyki włókien i wspierać proces ich identyfikacji. Zastosowanie dedykowanego oprogramowania dodatkowo usprawnia zarządzanie próbkami, weryfikację wyników oraz przygotowywanie raportów. To istotne wsparcie dla laboratoriów zajmujących się analizą azbestu i badaniem materiałów budowlanych. Phenom XL G3 z AsbestoMetric – rozwiązanie dla laboratoriów Połączenie mikroskopu Phenom XL G3 SEM z oprogramowaniem AsbestoMetric stanowi kompleksowe narzędzie wspierające analizę włókien azbestowych. Rozwiązanie łączy obrazowanie, analizę chemiczną i uporządkowany workflow, pomagając laboratoriom usprawniać codzienną pracę oraz dokumentowanie wyników. Szukasz rozwiązania do analizy azbestu w swoim laboratorium? Skontaktuj się z zespołem PIK Instruments. Przedstawimy możliwości mikroskopu Phenom XL G3 i oprogramowania AsbestoMetric oraz pomożemy ocenić ich przydatność w Twoim procesie analitycznym. Skontaktuj się z nami
SIE 01

Suszenie w punkcie krytycznym – preparatyka aerożeli

Suszenie w punkcie krytycznym – preparatyka aerożeli | PIK Instruments Preparatyka mikroskopowa w praktyce – jak zachować strukturę aerożeli? Przygotowanie próbek do obserwacji mikroskopowej ma ogromne znaczenie dla jakości i wiarygodności uzyskiwanych wyników. Szczególnym wyzwaniem jest preparatyka materiałów o bardzo rozwiniętej strukturze porowatej, takich jak aerożele. W ich przypadku tradycyjne suszenie może prowadzić do nieodwracalnego uszkodzenia delikatnej nanostruktury. Rozwiązaniem jest suszenie w punkcie krytycznym z wykorzystaniem specjalistycznej aparatury, takiej jak Leica EM CPD300. Dlaczego tradycyjne suszenie może niszczyć strukturę aerożeli? Wyobraźmy sobie materiał porowaty – aerożel oparty na kowalencyjnej strukturze organicznej (COF), charakteryzujący się trójwymiarową, hierarchicznie uporządkowaną siecią porów. Jego wyjątkowe właściwości wynikają między innymi z dużej powierzchni właściwej i rozbudowanej struktury wewnętrznej. Problem pojawia się na etapie przygotowania próbki. Podczas tradycyjnego suszenia, polegającego na odparowywaniu rozpuszczalnika, na granicy cieczy i gazu tworzy się menisk. Powstające w jego obrębie siły kapilarne oddziałują na delikatny szkielet materiału, mogąc doprowadzić do zapadania się porów, skurczu i utraty pierwotnej struktury. W mezoporach i mikroporach ciśnienie kapilarne może osiągać wartości od kilku do nawet 22 MPa. Przy wytrzymałości mechanicznej delikatnego szkieletu aerożelu szacowanej na poziomie 0,01–0,1 MPa takie obciążenia stanowią poważne zagrożenie dla zachowania jego struktury. Co dzieje się podczas tradycyjnego suszenia? zapadanie się porów i deformacja struktury, skurcz materiału, zmniejszenie powierzchni właściwej, utrata właściwości, które decydują o potencjale badawczym materiału. Suszenie w punkcie krytycznym – sposób na zachowanie porowatości Alternatywą dla tradycyjnego odparowywania rozpuszczalnika jest suszenie w punkcie krytycznym (Critical Point Drying, CPD). Metoda ta pozwala wyeliminować granicę faz ciecz–gaz, a tym samym ograniczyć działanie sił kapilarnych odpowiedzialnych za deformację delikatnych struktur. Proces polega na doprowadzeniu medium roboczego do warunków nadkrytycznych, w których zanika napięcie powierzchniowe charakterystyczne dla granicy faz ciecz–gaz. Dzięki temu usuwanie cieczy z porów może odbywać się bez powstawania menisku wywołującego naprężenia w materiale. Ma to szczególne znaczenie podczas przygotowywania próbek o bardzo rozwiniętej powierzchni i delikatnym szkielecie, w których nawet niewielkie zmiany strukturalne mogą istotnie wpłynąć na wyniki późniejszych analiz. Leica EM CPD300 – precyzyjna preparatyka próbek W opisywanym przypadku do przygotowania próbek wykorzystano suszarkę w punkcie krytycznym Leica EM CPD300 firmy Leica Microsystems. Urządzenie umożliwia przeprowadzenie procesu suszenia w warunkach nadkrytycznych, co pomaga zachować delikatną strukturę materiałów porowatych. Efekty badań pokazują wyraźną różnicę pomiędzy tradycyjnym suszeniem a zastosowaniem metody CPD. W przypadku opisywanego aerożelu suszenie w powietrzu skutkowało spadkiem powierzchni właściwej BET do około 78 m²/g. Po zastosowaniu suszenia w punkcie krytycznym udało się zachować ją na poziomie około 750 m²/g. Porównanie wyników: Suszenie tradycyjne: około 78 m²/g powierzchni właściwej BET. Suszenie w punkcie krytycznym: około 750 m²/g powierzchni właściwej BET. W tym przypadku zastosowanie metody CPD pozwoliło zachować znacznie większą powierzchnię właściwą badanego materiału. Praktyczne zastosowanie w badaniach naukowych Badania zostały przeprowadzone na Wydziale Technologii Chemicznej Politechniki Poznańskiej. Dziękujemy zespołowi za podzielenie się wynikami i pokazanie, jak istotną rolę odgrywa odpowiednio dobrana preparatyka w pracy z zaawansowanymi materiałami. Przykład ten pokazuje, że jakość przygotowania próbki jest równie ważna jak sama technika obrazowania. W przypadku materiałów o delikatnej, porowatej strukturze właściwy dobór metody suszenia może zdecydować o tym, czy podczas dalszych badań uda się zaobserwować ich rzeczywiste właściwości. Preparatyka mikroskopowa z PIK Instruments Odpowiednie przygotowanie próbek to jeden z kluczowych etapów pracy w nowoczesnym laboratorium. PIK Instruments oferuje rozwiązania Leica Microsystems wspierające preparatykę i przygotowanie materiałów do badań mikroskopowych. Pracujesz z materiałami porowatymi lub próbkami wymagającymi specjalistycznej preparatyki? Skontaktuj się z zespołem PIK Instruments. Pomożemy dobrać rozwiązanie odpowiadające specyfice próbek i wymaganiom prowadzonych badań. Skontaktuj się z nami
LIP 31

SPEA 13 – mikroskopia i spektroskopia w badaniach naukowych

PIK Instruments na SPEA 13 – mikroskopia i spektroskopia w badaniach naukowych PIK Instruments na SPEA 13 – mikroskopia i spektroskopia w badaniach naukowych PIK Instruments uczestniczył w 13th European Conference on Solar Chemistry and Photocatalysis: Energy and Environmental Applications (SPEA 13), organizowanej przez Uniwersytet Jagielloński w Krakowie. Wydarzenie zgromadziło ekspertów, naukowców i młodych badaczy zajmujących się fotochemią, fotokatalizą oraz technologiami wspierającymi zrównoważony rozwój i ochronę środowiska. Nowoczesna aparatura dla współczesnych laboratoriów Podczas konferencji prezentowaliśmy możliwości aparatury badawczej renomowanych producentów – Leica Microsystems oraz Bruker. Przedstawiane rozwiązania obejmowały: mikroskopy świetlne Leica Microsystems – wspierające precyzyjne obrazowanie i obserwację mikrostruktury materiałów, spektrometry Bruker – umożliwiające prowadzenie zaawansowanych analiz chemicznych i materiałowych. Połączenie technik obrazowania i analizy chemicznej pozwala uzyskać szerszy obraz badanych próbek. Jest to szczególnie istotne w projektach naukowych, w których charakterystyka materiału wymaga uwzględnienia zarówno jego struktury, jak i składu. Kompleksowa charakterystyka materiałów Mikroskopia i spektroskopia dostarczają uzupełniających się informacji o badanych próbkach. Ich wykorzystanie wspiera prowadzenie badań podstawowych, analizę materiałową oraz prace nad rozwojem nowych technologii. Fotochemia i fotokataliza – wyzwania dla nowoczesnej analityki Tematyka SPEA 13 koncentrowała się wokół fotochemii, fotokatalizy oraz zastosowań tych dziedzin w energetyce i ochronie środowiska. Rozwój technologii w tych obszarach wymaga nie tylko innowacyjnych materiałów, ale również odpowiednich metod ich badania i oceny. Precyzyjne obrazowanie, zaawansowana analiza chemiczna i kompleksowa charakterystyka materiałów odgrywają ważną rolę na kolejnych etapach prac badawczych – od poznawania właściwości materiałów po rozwój i optymalizację nowych rozwiązań technologicznych. Spotkania, wymiana doświadczeń i współpraca naukowa Udział w konferencji był dla nas doskonałą okazją do rozmów z przedstawicielami środowiska naukowego oraz poznania wyzwań, z którymi mierzą się współczesne laboratoria. Cieszymy się, że mogliśmy wymienić doświadczenia i zaprezentować rozwiązania wspierające rozwój badań naukowych. Dziękujemy wszystkim uczestnikom za odwiedziny, zainteresowanie prezentowaną aparaturą i inspirujące rozmowy. Szczególne podziękowania kierujemy również do Organizatorów SPEA 13 za stworzenie przestrzeni sprzyjającej wymianie wiedzy i współpracy naukowej. Do zobaczenia podczas kolejnych spotkań z nauką i technologią! Szukasz aparatury do swojego laboratorium? PIK Instruments oferuje szeroki wybór rozwiązań do mikroskopii, spektroskopii i analizy materiałowej. Skontaktuj się z nami, aby dobrać aparaturę dopasowaną do potrzeb prowadzonych badań. Skontaktuj się z nami
LIP 19

Domeny magnetyczne – jak obserwować je pod mikroskopem?

Domeny magnetyczne – jak obserwować je pod mikroskopem? | PIK Instruments Czy da się zobaczyć domeny magnetyczne? Mikroskopia świetlna i efekt Kerra Domeny magnetyczne są niewidoczne gołym okiem, ale ich obserwacja jest możliwa dzięki odpowiednio dobranym technikom mikroskopowym. Jednym z rozwiązań jest mikroskopia świetlna wykorzystująca efekt magnetooptyczny Kerra, pozwalająca analizować strukturę domenową materiałów ferromagnetycznych, takich jak stal. Dlaczego warto badać domeny magnetyczne? Właściwości materiałów magnetycznych mają bezpośredni wpływ na wydajność i niezawodność wielu urządzeń elektrycznych oraz elektronicznych. Dotyczy to między innymi transformatorów, cewek, elektromagnesów i zaawansowanych nośników danych. W przypadku materiałów ferromagnetycznych, takich jak wybrane stopy stali, istotną rolę odgrywa ich mikrostruktura magnetyczna. Materiał jest podzielony na obszary nazywane domenami magnetycznymi. W obrębie każdej z nich momenty magnetyczne są uporządkowane w określonym kierunku. Analiza wielkości, kształtu i orientacji domen pozwala lepiej zrozumieć zachowanie materiału oraz oceniać jego właściwości magnetyczne. Ma to znaczenie zarówno w pracach badawczo-rozwojowych, jak i w kontroli jakości materiałów wykorzystywanych w przemyśle. Jak obserwować domeny magnetyczne pod mikroskopem? Jedną z metod umożliwiających obrazowanie domen magnetycznych jest mikroskopia magnetooptyczna wykorzystująca efekt Kerra. Polega on na zmianie stanu polaryzacji światła odbitego od namagnesowanej powierzchni materiału. W zależności od lokalnej orientacji namagnesowania światło odbite od poszczególnych obszarów próbki może wykazywać różnice w polaryzacji. Po zastosowaniu odpowiedniego układu optycznego i analizatora różnice te przekładają się na kontrast widoczny na obrazie mikroskopowym. Co można zaobserwować? Na obrazie mikroskopowym pojawiają się jasne i ciemne obszary odpowiadające różnym orientacjom namagnesowania. Dzięki temu możliwa jest obserwacja układu domen magnetycznych na powierzchni badanego materiału. Leica DM6 M – obrazowanie domen magnetycznych Przykładem możliwości mikroskopii świetlnej w badaniach materiałów magnetycznych jest obraz uzyskany z wykorzystaniem mikroskopu Leica DM6 M firmy Leica Microsystems. Odpowiednio skonfigurowany układ optyczny pozwala wykorzystać zjawiska magnetooptyczne do obrazowania domen i analizowania ich układu. To przydatne narzędzie dla laboratoriów zajmujących się badaniami materiałowymi, analizą mikrostruktury oraz rozwojem i kontrolą jakości materiałów magnetycznych. Mikroskopia w badaniach materiałowych Obserwacja domen magnetycznych to jeden z przykładów wykorzystania mikroskopii świetlnej w zaawansowanej analizie materiałów. Odpowiednio dobrana konfiguracja mikroskopu pozwala rozszerzyć zakres prowadzonych badań i uzyskać informacje, których nie dostarcza standardowa obserwacja mikrostruktury. Jeśli chcesz dowiedzieć się więcej o możliwościach mikroskopii świetlnej Leica Microsystems i jej zastosowaniach w badaniach materiałowych, skontaktuj się z zespołem PIK Instruments. Szukasz rozwiązania do badań materiałowych? Pomożemy dobrać konfigurację mikroskopu do specyfiki próbek, metod badawczych i potrzeb Twojego laboratorium. Skontaktuj się z nami
LIP 01

Elektroanaliza 2026 – PIK Instruments prezentuje mikroskop SEM Phenom XL G3

Elektroanaliza 2026 – PIK Instruments prezentuje mikroskop SEM Phenom XL G3 PIK Instruments na konferencji Elektroanaliza 2026 – prezentacja mikroskopu Phenom XL G3 Za nami konferencja Elektroanaliza 2026, która odbyła się na Wydziale Chemii Uniwersytetu Jagiellońskiego w Krakowie. PIK Instruments uczestniczył w wydarzeniu jako wystawca, prezentując nowoczesne rozwiązania dla laboratoriów badawczych i przemysłowych, w tym nabiurkowy skaningowy mikroskop elektronowy Phenom XL G3 firmy Thermo Fisher Scientific. Phenom XL G3 – mikroskopia elektronowa w kompaktowej formie Podczas konferencji Maciej Bazarnik prezentował możliwości mikroskopu Phenom XL G3 – najnowszego nabiurkowego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) z oferty Thermo Fisher Scientific. Urządzenie łączy wysoką jakość obrazowania, intuicyjną obsługę oraz zaawansowane możliwości analizy materiałów w kompaktowej konstrukcji. Dzięki temu mikroskopia elektronowa może być wykorzystywana w codziennej pracy laboratoriów, jednostek naukowych i przedsiębiorstw przemysłowych. Phenom XL G3 to rozwiązanie dla użytkowników, którzy potrzebują dostępu do możliwości skaningowej mikroskopii elektronowej w wygodnej, nabiurkowej konfiguracji. Poznaj mikroskop Phenom XL G3. Mikroskopia elektronowa – zastosowania w nauce i przemyśle Konferencja Elektroanaliza 2026 była doskonałą okazją do rozmów z przedstawicielami środowiska naukowego i przemysłu. Wymiana doświadczeń pozwoliła przyjrzeć się praktycznym zastosowaniom mikroskopii elektronowej w różnych obszarach badań i działalności laboratoryjnej. Techniki SEM znajdują zastosowanie między innymi w: badaniach naukowych – obserwacji i charakterystyce różnorodnych materiałów, analizie materiałowej – badaniu struktury i właściwości próbek, kontroli jakości – ocenie materiałów i identyfikacji niezgodności, rozwoju nowych materiałów – wspieraniu prac badawczo-rozwojowych. Dziękujemy za spotkania i rozmowy Dziękujemy wszystkim osobom, które odwiedziły stoisko PIK Instruments, podzieliły się swoimi doświadczeniami i porozmawiały z nami o możliwościach wykorzystania mikroskopii elektronowej w praktyce. Serdeczne podziękowania kierujemy również do Organizatorów konferencji Elektroanaliza 2026 za profesjonalne przygotowanie wydarzenia i stworzenie przestrzeni do wymiany wiedzy między przedstawicielami nauki i przemysłu. Cieszymy się, że mogliśmy zaprezentować rozwiązania wspierające rozwój nowoczesnych laboratoriów badawczych i przemysłowych. Do zobaczenia na kolejnych wydarzeniach! Chcesz dowiedzieć się więcej o mikroskopie Phenom XL G3? Skontaktuj się z zespołem PIK Instruments. Pomożemy dobrać rozwiązanie dopasowane do potrzeb Twojego laboratorium i zakresu prowadzonych badań. Skontaktuj się z nami

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn