Model 180 XTEM Prep Kit – zestaw do przygotowania próbek XTEM – Fischione Instruments

Model 180 XTEM Prep Kit jest przeznaczony do przygotowania próbek typu XTEM (Cross-Section Transmission Electron Microscopy), umożliwiających analizę przekrojów poprzecznych materiałów i struktur.

Rozwiązanie znajduje zastosowanie m.in. w badaniach cienkich warstw, struktur wielowarstwowych, interfejsów, powłok oraz elementów półprzewodnikowych. Odpowiednie przygotowanie przekroju pozwala zachować rzeczywistą geometrię poszczególnych warstw i umożliwia ich analizę w TEM.