Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia elektronowa

Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe SEM
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe TEM
Zdjęcie produktu Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Zdjęcie produktu Preparatyka

Producent:

Tagi:

laboratorium mikrotom microTec CUT4060 E CUT4060 CUT4055 CUT4050 bruker EDS Detektor Quantax EBSD Quantax detektor EDS FIB System Quantax Micro-XRF WDS automatyzacja badania in-situ IBSS ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza składu chemicznego EDS FEG-SEM analiza próbek w trybie STEM SEM desktop rutynowe analizy próbek PerticleX Steel kontrola jakości analiza wtrąceń przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM obrazowanie 3D rekonstrukcja modeli 3D Protochips analiza materiałowa AXON mikroskop TEM leica ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity Particle X interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive phenom Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa analiza czystości Axia ChemiSEM analiza pierwiastkowa wysokorozdzielcze obrazowanie XL G2 szybkie obrazowanie pure EM AFS2 Freeze Substitution TEM Poseidon AX analiza in-situ Triton AX Kammrath & Weiss stolik tensometryczny Fusion AX System grzewczy/elektryczny transmisyjny mikroskop elektronowy Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek EM TP automatyczny procesor tkankowy EM RAPID Trymer do próbek EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM KMR3 Łamarka do noży szklanych EM GP2 Urządzenie do witryfikacji LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym in-situ Atmosphere AX System gazowy napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 TEMLeica napylarka niskopróżniowa EM ACE200 ac20 kontrastowanie kontrastowania preparatyka txp
Zdjęcie produktu Ultramikrotom Leica Enuity
Zdjęcie produktu Leica EM KMR3 Łamarka do noży szklanych
Zdjęcie produktu Leica EM CPD300 Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym
Zdjęcie produktu Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego
Zdjęcie produktu Leica EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego
Zdjęcie produktu Leica EM GP2 Urządzenie do witryfikacji
Zdjęcie produktu Leica EM AFS2 Urządzenie do Freeze Substitution
Zdjęcie produktu Leica EM TXP urządzenie do mikropreparatyki próbek
Zdjęcie produktu Leica EM AC20 automatyczne urządzenie do kontrastowania
1 2 3 4 5

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Projekty

Konstrukcja nanotwardościomierza opartego o metalowy czujnik mikrosił wytworzony metodami przyrostowymi opartymi na elektrochemii

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn