maszyna pomiarowa CNC – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

maszyna pomiarowa CNC

Zdjęcie produktu

Tagi:

ACE200 AFM badania materiałowe EM hydrofilizacja laboratorium materiałowe leica mikroskopia elektronowa mikroskopia świetlna moduł pomiaru grubości nanoszenie warstw przewodzących. napylanie metaliczne napylanie węglowe napylarka niskopróżniowa powłoki przewodzące powtarzalność wyników przygotowanie próbek sem stolik planetarny stolik rotacyjny TEM tryb wyładowania jarzeniowego wymienne głowice wymienne głowiceACE200 rutynowa analiza próbek; obrazowanie SEM; analiza składu chemicznego EDS ThermoFisher Scientific FEG-SEM wysokorozdzielcze obrazowanie SEM; analiza próbek w trybie STEM; badania próbek cienkich i nieprzewodzących rutynowe analizy próbek; szybkie obrazowanie w laboratoriach dydaktycznych i przemysłowych SEM desktop Cleanpartner ekstracja przepływowa Stacja DSR Dr. Heinrich Schneider Messtechnik kontrola wymiarowa detali w produkcji i laboratoriach metrologicznych Projektor pomiarowy / maszyna 2D lotniczym medycznym i stomatologicznym multisensoryczna kontrola wymiarowa elementów w przemyśle motoryzacyjnym Współrzędnościowa maszyna pomiarowa 3D Mikroskop pomiarowy multisensorowy precyzyjna kontrola wymiarowa i analiza powierzchni elementów przemysłowych Projektor pomiarowy 2D szybka kontrola wymiarowa i inspekcja elementów płaskich w produkcji i kontroli jakości Maszyna pomiarowa 3D szybka i precyzyjna kontrola wałków i komponentów obrotowo-symetrycznych wszechstronny pomiar wałków i elementów obrotowych z kompensacją bicia i skanowaniem dynamicznym mikroskop materiałoznawczy Visoria analiza materiałów metalurgicznych elektronicznych i polimerowych mikroskop optyczny badania naukowe elastyczna aktualizacja Enuity innowacyjne narzędzia laboratoryjne. komora kriogeniczna komora mrożeniowa kontrola temperatury kriosfera Leica Microsystems mikromanipulatory mikrotomia modułowa konstrukcja powtarzalne wyniki precyzyjne skrawki skrawki biologiczne skrawki materiałowe UC ultramikrotom ultramikrotomia zautomatyzowana mikrotomia analiza stopów metali analiza żywności i paliw bruker geologia grubość powłok kontrola RoHS/WEEE Przenośny spektrometr XRF analiza ilościowa związków gazowych analiza w czasie rzeczywistym Analizator gazów FT-IR monitorowanie gazów przemysłowych pomiary w wysokim ciśnieniu analiza chemiczna 2D/3D mikroskop Ramana obrazowanie topografii powierzchni szybka akwizycja danych analiza 2D analiza 3D analiza kryształów analiza nanostruktur automatyzacja pomiarów detektor CCD farmacja konfokalne obrazowanie kontrola jakości krystaliczność leków laboratoria badawcze laser galwanometryczny mapowanie topografii mineralogia obrazowanie Ramanowskie półprzewodniki powierzchnia diamentów przemysł diamentowy RamanTouch spektrograf ultraszybkie skanowanie wafle krzemowe wysoka rozdzielczość analiza chemiczna szybka i zautomatyzowana akwizycja danych praca w laboratoriach i przemyśle spektrometr Ramana szybka i czuła akwizycja danych ATEX/IECEx laboratoria i przemysł monitoring procesów online/inline precyzyjna analiza chemiczna wysoka czułość i szybka akwizycja danych analiza substancji niebezpiecznych bezprzewodowa transmisja danych BRAVO Duo LASER fluorescencja identyfikacja narkotyków identyfikacja surowców IntelliTip kryminalistyka mobilne laboratorium przenośny spektrometr ręczny Raman SSE wygaszanie fluorescencji analiza emisyjności analiza próbek analiza wtrąceń badania life-science badania R&D charakterystyka powierzchni diody LED FTIR QCL HYPERION II inżynieria materiałowa kwantowy laser kaskadowy mapowanie chemiczne mikroplastik mikroskop FTIR mikroskop QCL obrazowanie chemiczne obrazowanie komórek obrazowanie w czasie rzeczywistym polimery spektroskopia w podczerwieni tworzywa sztuczne wysoka rozdzielczość przestrzenna analiza materiałów wyjściowych analiza procesowa analiza wieloskładnikowa analizator FT-NIR kontrola produktu końcowego mięso modułowy spektrometr monitorowanie mieszania monitorowanie suszenia MPA III nabiał napoje nasiona nieniszcząca analiza oleje jadalne pasze petrochemia przemysł chemiczny przemysł farmaceutyczny przemysł polimerowy przemysł rolny przemysł spożywczy przyprawy spektroskopia bliskiej podczerwieni spektroskopia NIR szybka analiza NIR wysokoprecyzyjna analiza wysokoprecyzyjna analizaMPA III ziarna analizator przemysłowy analizy zwalniające biotechnologia FT-NIR intuicyjny interfejs intuicyjny interfejsTANGO łatwa obsługa szybkie pomiary TANGO analiza powierzchni ATR automatyzacja badania środowiskowe detektor FPA FTIR interferometr RockSolid life science LUMOS II odbicie produkcja przemysłowa transmisja DigiTect FT-IR interferometr UltraScan laboratorium badawcze laboratorium badawczeVERTEX RapidScan spektrometr Step-Scan VERTEX analiza pierwiastków GDA 150 HR GDOES powłoki profilowanie warstw przemysł metalurgiczny spectruma twarde powłoki analiza warstw GDA 750 HR precyzyjna analiza próby przewodzące i nieprzewodzące profilowanie głębokości wysokorozdzielcza analiza zaawansowane laboratoria CCD GDA 550 HR PMT przemysł przewodzące próbki R&D CCD GDA 650 HR nieprzewodzące próbki powłoki cynkowe twarde powłokiGDOES analiza głębokości elastyczność pomiaru GDA-Alpha procesy dyfuzyjne obróbka cieplna powłoki wielowarstwowe wysokorozdzielczość cynkowanie wszechstronność wysoka precyzja nietypowe próbki powlekanie profil głębokości inspekcja Mitcorp odporność na ciepło odporność na upadki pyłoszczelność sondy wymienne wideoskop wodoodporność wysokiej rozdzielczości obraz wytrzymałość X750 bezpieczeństwo ekran dotykowy energetyka kontrola jakościX2000 obraz i wideo odporność na ścieranie transport trudne warunki X2000 analiza cząstek analiza pierwiastkowa badanie zanieczyszczeń ceramika czystość techniczna EDS ISO 16232 mikroskop Particle X Phenom XL proces produkcyjny przemysł motoryzacyjny raporty techniczne stopy metali tlenki metali VDA19 analiza materiałowa analiza materiałowaSteel czystość stali histogramy morfologia wtrąceń pierwiastkowa analiza chemiczna produkcja stali przemysł stalowy raportowanie Steel wizualizacja danych wtrącenia metaliczne wtrącenia niemetaliczne wtrącenia organiczne wtrącenia siarkowe wtrącenia tlenkowe filmy HD inspekcja przemysłowa inspekcja wizualna IP54 IP67 obrazowanie odporność na zarysowania pyłoszczelny sondy wolframowe wodoodporny ConSpector czyszczenie przemysłowe filtracja inspekcja przemysłowaSITA ConSpector kąpiele myjące kąpiele płuczące kontrola zanieczyszczeń monitorowanie kąpieli optymalizacja procesu pomiar poziomu zanieczyszczeń proces przemysłowy SITA stabilizacja kąpieli utrzymanie czystości wydajność produkcji cząstki stałe fotooptyka klasyfikacja cząstek OMT Solutions ParSens 4.0 pomiar zanieczyszczeń badania jakości Cleanpart'ner czystość technologiczna DSS ekstrakcja zanieczyszczeń filtracja powietrza HEPA ISO 5 kontrola czystości laboratorium przemysł lotniczy analiza energii powierzchniowej badanie powierzchni kąty zwilżania metale pomiar powierzchni przygotowanie powłok Surfaspector szkło urządzenie przenośne zwilżalność powierzchni Dynotester linia produkcyjna monitorowanie procesów napięcie powierzchniowe pomiar kąpieli stężenie środków powierzchniowo-czynnych surfaktant szybki pomiar tensjometr Cleanospector czyszczenie detali elektronika inspekcja części metalowych inspekcja powierzchni komponenty motoryzacyjne monitoring linii myjącej powierzchnie funkcjonalne procesy mycia przemysłowego produkcja baterii przemysł medyczny zanieczyszczenia organiczne analiza surowców bezpieczeństwo żywności CTX EDXRF fluorescencja rentgenowska laboratoria mobilne metale szlachetne narzędzie laboratoryjne pomiary terenowe przenośny XRF szybka analiza analiza geologiczna analiza paliw analiza żywności detektor SDD lekkie urządzenie pomiar powłok recykling metali ręczny spektrometr RoHS S1 TITAN WEEE XRF przenośny. XRF przenośny.S1 Titan pomiar powłok metalicznych spektrometr przenośny analiza fotoluminescencji detektor Ge detektor InGaAs FT-Raman INVENIO mikroskalowa analiza mikroskopia Raman moduł FT-Raman Nd-YAG 1064 nm OPUS RAM II RamanScope III SENTERRA II spektrometr FTIR spektroskopia materiałowa. spektroskopia Raman VERTEX 70v VERTEX 80v wysoka czułość akwizycja obrazów automatyzacja SEM badania biomateriałów. ConnectomX diamentowy nóż integracja oprogramowania SEM Katana mikrotom nanostruktury biologiczne obrazowanie nanostruktur oscylacyjny nóż ultradźwiękowy piezoelektryczny czujnik rekonstrukcja 3D SBEM SEM 3D seryjne cięcie blokowe szybka instalacja SEM trójwymiarowa wizualizacja Volume SEM analiza stali analizator wodoru automatyczna kalibracja. AWS A4.3 detektor przewodności cieplnej ekstrakcja gorącym gazem G4 PHOENIX DH ISO 3690 kontrola kruchości wodorowej metalurgia piec podczerwieni spektrometr masowy TCD ultra niskie stężenia wodoru wodór dyfundujący analiza C i S analiza śladowa analizator węgla i siarki automatyczne czyszczenie pyłu badania materiałowe.G4 ICARUS detektor SO2 UV ekstrakcja gazu filtr przeciwpyłowy G4 ICARUS HighSenseTM kontrola jakości metali piec indukcyjny HF spektrometr przemysłowy ZoneProtectTM analiza gazów w metalach analiza tlen azot wodór analizator ONH ekstrakcja stopu fuzja gazu obojętnego G6 Leonardo IGF materiały magnetyczne produkcja addytywna produkcja addytywna.G6 Leonardo proszki metaliczne analiza gazów w metalu analiza próbek metalowych automatyczny analizator gazów. ekstrakcja z materiału stopionego G8 GALILEO kontrola jakości stali spawy ISO 3690 spektrometria masowa stal wysokowytrzymała TDMS tlen azot wodór 5 kW automatyczne ustawienia cięcia cięcie dużych próbek cięcie komponentów twardych cięcie metali ergonomiczny panel sterowania inteligentny posuw kontrola obciążenia tarczy Lam Plan LAMPLAN porty boczne cięcia.LAMPLAN programowalne cięcie przecinarka 5 przecinarka metalograficzna przecinarka podłogowa tarcze 300-400 mm XYZ przesuw automatyczne cięcie CUTLAM micro 3.0 obróbka próbek precyzyjne cięcie sterowanie CNC. system chłodzenia CUTLAM micro 2.0 obrabianie delikatnych próbek tarcze diamentowe bezpieczeństwo obsługi. bezpieczeństwo obsługi.Lam Plan chłodzenie recyrkulacyjne CUTLAM micro 1.1 manualny posuw stabilna konstrukcja tarcze do 150 mm tarcze do 150 mmbezpieczeństwo obsługi. automatyczna boczny otwór cięcie 3 osie CUTLAM 3.1 duże próbki joystick manualna pamięć programów podłogowa półautomatyczna tarcze tnące. zmotoryzowana analiza materiałów badania archeologiczne detekcja fluoru dzieła sztuki geochemia laboratoryjny minerały papier pigmenty przenośny. spektrometr XRF szeroki zakres pierwiastków Tracer 5g zawiesiny analiza metali analiza próbek nieregularnych analiza stopów argon automatyczny stolik detekcja pierwiastków laboratorium metalurgiczne pomiar chemiczny metali Q6 NEWTON RockSteady™ SafeGuard™ SmartSpark™ spektrometr iskrowy stabilizacja temperaturowa analiza azotu analiza tlenu minimalne zanieczyszczenie okna optyki optyka samoogniskująca pakiet do stopów miedzi stabilność analityczna stal niskostopowa wydajność analityczna cyfrowy generator plazmy czystość metalu długość fali 110-800 nm fotopowielacze niskie koszty utrzymania oprogramowanie MCI przepływ argonu Q8 MAGELLAN rozkład ziaren siarczki spektrometr próżniowy stolik iskrzenia tlenki kontrola jakości metali.wysoka precyzja optymalizacja wzbudzenia pierwiastki lekkie pierwiastki lekkiespektrometr iskrowy Q4 Tasman samoogniskowanie optyki stopów metali analizator gazów badania klimatyczne badania terenowe. badania terenowe.analizator gazów CH₄ CO2 emisje gazów cieplarnianych kontrola jakości powietrza MGA mobilny analizator gazów monitoring środowiskowy monitorowanie emisji N₂O NH₃ NOₓ podczerwień pomiary w czasie rzeczywistym przenośny analizator QCL SO₂ technologia laserów kwantowych analiza gazów analiza śladowych zanieczyszczeń badania katalityczne bezkalibracyjna analiza kontrola czystości gazów laboratoria MATRIX MG II monitoring emisji oprogramowanie OPUS GA spektrometr FT-IR spektroskopia podczerwieni spektroskopia podczerwieni.Bruker analiza inline analiza online automatyzacja procesów bioprocesy HTVS Modbus TCP/IP odporność ATEX/IECEx OPC UA Process Guardian Raman przemysłowy PC. węglowodory wytrzymała konstrukcja analiza próbek wrażliwych na podgrzewanie. MultiRAM optyka defokusująca RockSolid interferometr spektroskopia Ramana wygaszanie fluorescencjianaliza substancji niebezpiecznych MATRIX-MF mid-IR spektrometr podczerwieni światłowodowa sonda analiza ciał stałych analiza cieczy duplex emisja NIR kontrola procesu MATRIX-F II optymalizacja procesu.Bruker pomiary inline pomiary online przemysł polimerów sondy światłowodowe spektrometr NIR BEAM ciała stałe detekcja NIR. IP65 monitoring procesu pomiar inline przemysł paszowy system automatyzacji detekcja NIR.Bruker optymalizacja produkcji pomiar bezkontaktowy pomiar ciał stałych pomiar cieczy pomiar w reaktorach pomiar w rurociągach badania life-science wysoka rozdzielczość przestrzennaanaliza emisyjności odbicie analiza precyzyjna analiza w laboratorium analiza w przemyśle badania i rozwój charakterystyka materiałów chemia detektory MIR/NIR/FIR mikroskopia FT-IR monitorowanie reakcji MultiTect ochrona środowiska pomiar in-situ. QC/QA spektroskopia spektroskopia czasowo-rozdzielcza spektroskopia modulacji amplitudy spektroskopia niskotemperaturowa ALPHA II analiza ilościowa analiza porównawcza analiza produktów gotowych. analiza produktów gotowych.Bruker analiza produktów pośrednich analiza rutynowa badania kryminalistyczne identyfikacja próbek kompaktowy spektrometr laboratoryjna analiza laser diodowy OPUS-TOUCH stabilność temperaturowa AXON badania in-situ eksperymenty TEM ex-situ in-situ korekcja dryfu modułowa platforma monitorowanie warunków środowiskowych. obrazowanie TEM przetwarzanie danych publikacje naukowe transmisyjny mikroskop elektronowy uczenie maszynowe wsparcie ostrości zaawansowane powiększenia zarządzanie dawką elektronów zarządzanie metadanymi preparatyka txp analiza mikrostruktury Auger EBSD EM TIC 3X Leica EM TXP materiał biologiczny materiał geologiczny materiał przemysłowy port dokujący Leica VCT powierzchnie płaskie. preparatyka jonowa przekroje poprzeczne stoliki na próbki transport próbek w gazie obojętnym transport próbek w próżni WDS ACE600 badania materiałowe.Leica EM ACE600 badania SEM laboratorium biologiczne ładowanie próbek od przodu napylanie kriogeniczne napylarka wysokopróżniowa niezawodność oszczędność czasu powlekanie próbek preparatyka próbek procesy kriogeniczne przygotowanie próbek do SEM zaawansowane napylanie zautomatyzowane powlekanie Axia ChemiSEM edukacja i szkolenia SEM. integracja SEM i EDS mapowanie pierwiastków materiałoznawstwo mikroanaliza pierwiastkowa ochrona próbek SE/BSE SEM-EDS skaningowy mikroskop elektronowy szybka akwizycja wrażliwe materiały wysokoprzepustowa analiza wysokorozdzielcze obrazowanie zaawansowane algorytmy Additive Manufacturing analiza cząsteczek analiza morfologiczna proszku metalowego analiza rozkładu wielkości cząstek automatyczna analiza chemiczna Desktop SEM druk 3D klasyfikacja cząsteczek kontrola jakości materiałów laboratorium przemysłowe łatwa obsługa SEM mikroskopia elektronowa kompaktowa optymalizacja procesu AM. optymalizacja procesu AM.Phenom ParticleX AM Phenom ParticleX AM produkcja proszków metalowych sortowanie proszków szybka charakterystyka materiałów szybkie uzyskiwanie obrazów analiza czystości technicznej analiza próbek filtrów 47 mm analiza struktury próbek identyfikacja źródeł zanieczyszczeń klasyfikacja materiałowa cząstek kontrola jakości produkcji mikroskop skaningowy SEM obrazowanie SEM optymalizacja procesów produkcyjnych raportowanie zgodne z normami szybka analiza cząstek. szybka analiza cząstek.Particle X elektronowy mikroskop elektronowy phenom pure thermofisher przemysłowy PC.Bruker Brukeranaliza próbek wrażliwych na podgrzewanie. edukacja i szkolenia SEM.ThermoFisher Scientific ac20 kontrastowania kontrastowanie laserowej

Zdjęcie produktu

Ultramikrotom Leica Enuity

Zdjęcie produktu

Mikroskop elektronowy Phenom XL G2 - ThermoFisher Scientific

Zdjęcie produktu

Mikroskop stereoskopowy Leica Ivesta 3

Zdjęcie produktu

Leica EM ACE900 Napylarka do Freeze Fracture

Zdjęcie produktu

Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Leica DM6 M LIBS do badania czystości technicznej

Zdjęcie produktu

Leica EM ACE200 Napylarka niskopróżniowa

Zdjęcie produktu

Mikroskop elektronowy Phenom ProX G6 - ThermoFisher Scientific

Zdjęcie produktu

Mikroskop elektronowy Phenom Pharos G2 - ThermoFisher Scientific

Zdjęcie produktu

Phenom Pro G6 Mikroskop elektronowy - ThermoFisher Scientific

Zdjęcie produktu

Stacja DSR do ekstrakcji przepływowej

Powrót Conference on Applied Crystallography – PIK Instruments jako Platynowy Sponsor

Zdjęcie produktu

Seria PP-MP – Klasyczne pomiary optyczne w nowoczesnym wydaniu Dr. Schneider

Zdjęcie produktu

Seria PMS – Trójwymiarowa precyzja bez kompromisów Dr. Schneider

Zdjęcie produktu

Mikroskopy pomiarowe Dr. Schneider serii WM1

Zdjęcie produktu

Seria V-CAD – Szybkość pomiaru w najwyższej rozdzielczości - Dr. Schneider

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl/

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl/

Odnośnik

https://micro-shop.pl/

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl/

Odnośnik

https://nanoczastki.pl/

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions