uchwyt STEM – PIK Instruments

Telefon

+48 22 726 74 96

Koperta

kontakt@pik-instruments.pl

Lupa

×

3 równoległe linie

uchwyt STEM

Zdjęcie produktu

Tagi:

analiza składu chemicznego CeB6 źródło elektronów detektor EDS kompaktowy mikroskop mikroskop badawczy mikroskop do analizy próbek mikroskop do badań materiałowych mikroskop elektronowy mikroskop laboratoryjny mikroskop przemysłowy mikroskop SEM obrazowanie wysokiej rozdzielczości Phenom ProX G6 skaningowy mikroskop elektronowy spektroskopia EDS emisja polowa FEG FEG-SEM HAADFPhenom Pharos G2 kompaktowy mikroskop SEM mikroskop do badań naukowych mikroskop do obrazowania próbek mikroskop do próbek nieprzewodzących mikroskop FEG mikroskop STEM obrazowanie w polu ciemnym obrazowanie w polu jasnym Phenom Pharos G2 Phenom Pharos G2 FEG-SEM STEM detektor uchwyt STEM wysokorozdzielczy mikroskop SEM Phenom Pro G6 Phenom Pro G6 TFS Phenom Pure rutynowe badania próbek stabilny mikroskop szybkie obrazowanie próbek ekstracja przepływowa Stacja DSR analiza konturów 2D bezkontaktowe pomiary Dr. Heinrich Schneider maszyna pomiarowa CNC metrologia przemysłowa oprogramowanie M2 M3 pomiar optyczny pomiar precyzyjny projektor pionowy MV projektor poziomy MH projektory pomiarowe 2D seria PP-MP telecentryczne obiektywy automatyzacja pomiarów maszyny pomiarowe 3D multisensorowe pomiary oprogramowanie SAPHIR pomiar bezkontaktowy pomiar dotykowy pomiar optyczny 3D pomiary przemysłowe seria PMS współrzędnościowe CMM laser triangulacyjny mikroskop multisensorowy mikroskopy pomiarowe WM1 pomiar 2.5D pomiar CNC pomiar dużych komponentów sonda dotykowa TP200 kontrola jakości one-shot measurement oświetlenie LED pomiar optyczny 2D pomiar seryjny ruchomy stół pomiarowy szybki pomiar detali V-CAD analiza kształtu wałków integracja z robotami kamera matrycowa kontrola jakości produkcji optyczny pomiar 3D oś obrotowa pomiar 3D wałków szybki pomiar 3D telecentryczna optyka telecentryczna optykaWMX WMX analiza geometrii złożonej kompensacja bicia kontrola jakości przemysłowa multisensorowy pomiar optyczny i dotykowy skanowanie dynamiczne sondy TP200 SP25 WMM leica mikroskop materiałoznawczy Visoria akwizycja obrazu automatyczne oświetlenie elektronika ergonomiczny mikroskop metalurgia polimery pomiar skali światło przechodzące światło spolaryzowane Visoria M Eunity analiza geologiczna analiza metali analiza siarki w paliwach analiza składników odżywczych analiza stopów analiza surowców roślinnych analizator fluorescencji rentgenowskiej bruker detektor SDD kontrola RoHS kontrola WEEE laboratorium lekki spektrometr nauka odporna osłona detektora pomiar powłok przemysł przenośne laboratorium recykling metali S1 TITAN spektrometr przenośny szybka analiza XRF analiza ilościowa analizator gazów automatyzacja FT-IR monitorowanie online OMEGA 5 pomiar gazów przemysłowych wysoka rozdzielczość analiza diamentów analiza grafenu farmacja kompaktowy laboratorium badawcze materiały węglowe mikroskop Ramana mineralogia monitorowanie krystaliczności polimorfy API półprzewodniki proces polimeryzacji RAMANwalk tworzywa sztuczne wafle krzemowe analiza 2D analiza 3D analiza kryształów analiza nanostruktur detektor CCD konfokalne obrazowanie krystaliczność leków laboratoria badawcze laser galwanometryczny mapowanie topografii obrazowanie Ramanowskie powierzchnia diamentów przemysł diamentowy RamanTouch spektrograf ultraszybkie skanowanie analiza chemiczna analiza chemiczna Bruker analiza leków badania środowiskowe baterie grafen inżynieria materiałowa konserwacja dzieł sztuki kryminalistyka krzem mikroplastik SENTERRA II SureCal wysoka precyzja zgodność GMP analiza bioprocesów badania naukowe edukacja HTVS kompaktowy przemysł chemiczny QA/QC samodzielny system spektrometr Ramana SuperFlux Raman wysoka czułość analiza procesów analiza w czasie rzeczywistym ATEX automatyzacja procesów automatyzacja procesówHyperFlux PRO Plus biotechnologia HyperFlux PRO Plus IECEx inline monitoring niskie limity detekcji online monitoring petrochemia analiza substancji niebezpiecznych bezprzewodowa transmisja danych BRAVO Duo LASER fluorescencja identyfikacja narkotyków identyfikacja surowców IntelliTip mobilne laboratorium przenośny spektrometr ręczny Raman SSE wygaszanie fluorescencji analiza emisyjności analiza próbek analiza wtrąceń badania life-science badania R&D charakterystyka powierzchni diody LED FTIR QCL HYPERION II kwantowy laser kaskadowy mapowanie chemiczne mikroskop FTIR mikroskop QCL obrazowanie chemiczne obrazowanie komórek obrazowanie w czasie rzeczywistym spektroskopia w podczerwieni wysoka rozdzielczość przestrzenna analiza materiałów wyjściowych analiza procesowa analiza wieloskładnikowa analizator FT-NIR kontrola produktu końcowego mięso modułowy spektrometr monitorowanie mieszania monitorowanie suszenia MPA III nabiał napoje nasiona nieniszcząca analiza oleje jadalne pasze przemysł farmaceutyczny przemysł polimerowy przemysł rolny przemysł spożywczy przyprawy spektroskopia bliskiej podczerwieni spektroskopia NIR szybka analiza NIR wysokoprecyzyjna analiza wysokoprecyzyjna analizaMPA III ziarna analizator przemysłowy analizy zwalniające FT-NIR intuicyjny interfejs intuicyjny interfejsTANGO łatwa obsługa szybkie pomiary TANGO analiza powierzchni ATR detektor FPA FTIR interferometr RockSolid life science LUMOS II odbicie produkcja przemysłowa transmisja DigiTect interferometr UltraScan laboratorium badawczeVERTEX RapidScan spektrometr Step-Scan VERTEX analiza pierwiastków badania materiałowe GDA 150 HR GDOES powłoki profilowanie warstw przemysł metalurgiczny spectruma twarde powłoki analiza warstw GDA 750 HR precyzyjna analiza próby przewodzące i nieprzewodzące profilowanie głębokości wysokorozdzielcza analiza zaawansowane laboratoria CCD GDA 550 HR PMT przewodzące próbki R&D CCD GDA 650 HR nieprzewodzące próbki powłoki cynkowe twarde powłokiGDOES analiza głębokości elastyczność pomiaru GDA-Alpha procesy dyfuzyjne obróbka cieplna powłoki wielowarstwowe wysokorozdzielczość cynkowanie wszechstronność nietypowe próbki powlekanie profil głębokości inspekcja Mitcorp odporność na ciepło odporność na upadki pyłoszczelność sondy wymienne wideoskop wodoodporność wysokiej rozdzielczości obraz wytrzymałość X750 bezpieczeństwo ekran dotykowy energetyka kontrola jakościX2000 obraz i wideo odporność na ścieranie transport trudne warunki X2000 analiza cząstek analiza pierwiastkowa badanie zanieczyszczeń ceramika czystość techniczna EDS ISO 16232 mikroskop Particle X Phenom XL proces produkcyjny przemysł motoryzacyjny raporty techniczne stopy metali ThermoFisher Scientific tlenki metali VDA19 analiza materiałowa analiza materiałowaSteel czystość stali histogramy morfologia wtrąceń pierwiastkowa analiza chemiczna produkcja stali przemysł stalowy raportowanie Steel wizualizacja danych wtrącenia metaliczne wtrącenia niemetaliczne wtrącenia organiczne wtrącenia siarkowe wtrącenia tlenkowe filmy HD inspekcja przemysłowa inspekcja wizualna IP54 IP67 obrazowanie odporność na zarysowania pyłoszczelny sondy wolframowe wodoodporny ConSpector czyszczenie przemysłowe filtracja inspekcja przemysłowaSITA ConSpector kąpiele myjące kąpiele płuczące kontrola zanieczyszczeń monitorowanie kąpieli optymalizacja procesu pomiar poziomu zanieczyszczeń proces przemysłowy SITA stabilizacja kąpieli utrzymanie czystości wydajność produkcji cząstki stałe fotooptyka klasyfikacja cząstek OMT Solutions ParSens 4.0 pomiar zanieczyszczeń badania jakości Cleanpart'ner czystość technologiczna DSS ekstrakcja zanieczyszczeń filtracja powietrza HEPA ISO 5 kontrola czystości przemysł lotniczy analiza energii powierzchniowej badanie powierzchni kąty zwilżania metale pomiar powierzchni przygotowanie powłok Surfaspector szkło urządzenie przenośne zwilżalność powierzchni Dynotester linia produkcyjna monitorowanie procesów napięcie powierzchniowe pomiar kąpieli stężenie środków powierzchniowo-czynnych surfaktant szybki pomiar tensjometr Cleanospector czyszczenie detali inspekcja części metalowych inspekcja powierzchni komponenty motoryzacyjne monitoring linii myjącej powierzchnie funkcjonalne procesy mycia przemysłowego produkcja baterii przemysł medyczny zanieczyszczenia organiczne analiza surowców bezpieczeństwo żywności CTX EDXRF fluorescencja rentgenowska laboratoria mobilne metale szlachetne narzędzie laboratoryjne pomiary terenowe przenośny XRF analiza paliw analiza stopów metali analiza żywności lekkie urządzenie precyzyjna analiza chemiczna ręczny spektrometr RoHS S1 TITAN WEEE XRF przenośny. XRF przenośny.S1 Titan pomiar powłok metalicznych analiza fotoluminescencji detektor Ge detektor InGaAs FT-Raman INVENIO mikroskalowa analiza mikroskopia Raman moduł FT-Raman Nd-YAG 1064 nm OPUS RAM II RamanScope III spektrometr FTIR spektroskopia materiałowa. spektroskopia Raman VERTEX 70v VERTEX 80v akwizycja obrazów automatyzacja SEM badania biomateriałów. ConnectomX diamentowy nóż integracja oprogramowania SEM Katana mikroskopia elektronowa mikrotom nanostruktury biologiczne obrazowanie nanostruktur oscylacyjny nóż ultradźwiękowy piezoelektryczny czujnik rekonstrukcja 3D SBEM SEM 3D seryjne cięcie blokowe szybka instalacja SEM trójwymiarowa wizualizacja ultramikrotom Volume SEM analiza stali analizator wodoru automatyczna kalibracja. AWS A4.3 detektor przewodności cieplnej ekstrakcja gorącym gazem G4 PHOENIX DH ISO 3690 kontrola kruchości wodorowej piec podczerwieni spektrometr masowy TCD ultra niskie stężenia wodoru wodór dyfundujący analiza C i S analiza śladowa analizator węgla i siarki automatyczne czyszczenie pyłu badania materiałowe.G4 ICARUS detektor SO2 UV ekstrakcja gazu filtr przeciwpyłowy G4 ICARUS HighSenseTM kontrola jakości metali piec indukcyjny HF spektrometr przemysłowy ZoneProtectTM analiza gazów w metalach analiza tlen azot wodór analizator ONH ekstrakcja stopu fuzja gazu obojętnego G6 Leonardo IGF materiały magnetyczne produkcja addytywna produkcja addytywna.G6 Leonardo proszki metaliczne analiza gazów w metalu analiza próbek metalowych automatyczny analizator gazów. ekstrakcja z materiału stopionego G8 GALILEO kontrola jakości stali spawy ISO 3690 spektrometria masowa stal wysokowytrzymała TDMS tlen azot wodór 5 kW automatyczne ustawienia cięcia cięcie dużych próbek cięcie komponentów twardych cięcie metali ergonomiczny panel sterowania inteligentny posuw kontrola obciążenia tarczy Lam Plan LAMPLAN porty boczne cięcia.LAMPLAN programowalne cięcie przecinarka 5 przecinarka metalograficzna przecinarka podłogowa tarcze 300-400 mm XYZ przesuw automatyczne cięcie CUTLAM micro 3.0 laboratorium materiałowe obróbka próbek precyzyjne cięcie sterowanie CNC. system chłodzenia CUTLAM micro 2.0 obrabianie delikatnych próbek tarcze diamentowe bezpieczeństwo obsługi. bezpieczeństwo obsługi.Lam Plan chłodzenie recyrkulacyjne CUTLAM micro 1.1 manualny posuw stabilna konstrukcja tarcze do 150 mm tarcze do 150 mmbezpieczeństwo obsługi. automatyczna boczny otwór cięcie 3 osie CUTLAM 3.1 duże próbki joystick manualna pamięć programów podłogowa półautomatyczna tarcze tnące. zmotoryzowana analiza materiałów badania archeologiczne detekcja fluoru dzieła sztuki geochemia laboratoryjny minerały papier pigmenty przenośny. spektrometr XRF szeroki zakres pierwiastków Tracer 5g zawiesiny analiza próbek nieregularnych argon automatyczny stolik detekcja pierwiastków laboratorium metalurgiczne pomiar chemiczny metali Q6 NEWTON RockSteady™ SafeGuard™ SmartSpark™ spektrometr iskrowy stabilizacja temperaturowa analiza azotu analiza tlenu minimalne zanieczyszczenie okna optyki optyka samoogniskująca pakiet do stopów miedzi stabilność analityczna stal niskostopowa wydajność analityczna cyfrowy generator plazmy czystość metalu długość fali 110-800 nm fotopowielacze niskie koszty utrzymania oprogramowanie MCI przepływ argonu Q8 MAGELLAN rozkład ziaren siarczki spektrometr próżniowy stolik iskrzenia tlenki kontrola jakości metali.wysoka precyzja optymalizacja wzbudzenia pierwiastki lekkie pierwiastki lekkiespektrometr iskrowy Q4 Tasman samoogniskowanie optyki stopów metali badania klimatyczne badania terenowe. badania terenowe.analizator gazów CH₄ CO2 emisje gazów cieplarnianych kontrola jakości powietrza MGA mobilny analizator gazów monitoring środowiskowy monitorowanie emisji N₂O NH₃ NOₓ podczerwień pomiary w czasie rzeczywistym przenośny analizator QCL SO₂ technologia laserów kwantowych analiza gazów analiza śladowych zanieczyszczeń badania katalityczne bezkalibracyjna analiza kontrola czystości gazów laboratoria MATRIX MG II monitoring emisji oprogramowanie OPUS GA spektrometr FT-IR spektroskopia podczerwieni spektroskopia podczerwieni.Bruker materiAŁY WĘGLOWE analiza inline analiza online bioprocesy Modbus TCP/IP odporność ATEX/IECEx OPC UA Process Guardian Raman przemysłowy PC. węglowodory wytrzymała konstrukcja analiza próbek wrażliwych na podgrzewanie. MultiRAM optyka defokusująca RockSolid interferometr spektroskopia Ramana wygaszanie fluorescencjianaliza substancji niebezpiecznych MATRIX-MF mid-IR spektrometr podczerwieni światłowodowa sonda analiza ciał stałych analiza cieczy duplex emisja NIR kontrola procesu MATRIX-F II optymalizacja procesu.Bruker pomiary inline pomiary online przemysł polimerów sondy światłowodowe spektrometr NIR BEAM ciała stałe detekcja NIR. IP65 monitoring procesu pomiar inline przemysł paszowy system automatyzacji detekcja NIR.Bruker optymalizacja produkcji pomiar ciał stałych pomiar cieczy pomiar w reaktorach pomiar w rurociągach badania life-science wysoka rozdzielczość przestrzennaanaliza emisyjności odbicie analiza precyzyjna analiza w laboratorium analiza w przemyśle badania i rozwój charakterystyka materiałów chemia detektory MIR/NIR/FIR mikroskopia FT-IR monitorowanie reakcji MultiTect ochrona środowiska pomiar in-situ. QC/QA spektroskopia spektroskopia czasowo-rozdzielcza spektroskopia modulacji amplitudy spektroskopia niskotemperaturowa ALPHA II analiza porównawcza analiza produktów gotowych. analiza produktów gotowych.Bruker analiza produktów pośrednich analiza rutynowa badania kryminalistyczne identyfikacja próbek kompaktowy spektrometr laboratoryjna analiza laser diodowy OPUS-TOUCH stabilność temperaturowa preparatyka txp elektronowy phenom pure sem thermofisher przemysłowy PC.Bruker Brukeranaliza próbek wrażliwych na podgrzewanie. ac20 kontrastowania kontrastowanie laserowej

Zdjęcie produktu

Mikroskop elektronowy Phenom Pharos G2 - ThermoFisher Scientific

Partnerzy

Dwa groty strzał

Dwa groty strzał

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska

Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik

https://laboratorium-pik.pl/

Odnośnik

https://metalografia-pik.pl/

Odnośnik

https://micro-shop.pl/

Odnośnik

https://mikroskopelektronowy.pl/

Odnośnik

https://nanoczastki.pl/

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4899438) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

Copyright © 2025 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions