Logo PIK Instruments
Telefon +48 22 726 74 96
Koperta kontakt@pik-instruments.pl
Lupa
×
3 równoległe linie
×

PIK Instruments

Kategoria: Mikroskopia elektronowa

Aparatura badawcza i przemysłowa ≻ Mikroskopia elektronowa
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe SEM
Zdjęcie produktu Mikroskopy elektronowe TEM
Zdjęcie produktu Mikroskopowe techniki in-situ / ex-situ
Zdjęcie produktu Preparatyka

Producent:

Tagi:

Detektor Quantax bruker EDS Quantax EBSD FIB detektor EDS Micro-XRF System Quantax WDS badania in-situ IBSS laboratorium automatyzacja analiza składu chemicznego EDS ThermoFisher Scientific mikroskop SEM/TEM analiza próbek w trybie STEM FEG-SEM rutynowe analizy próbek SEM desktop przemysł metalurgiczny Steel PhenomXL PerticleX Steel kontrola jakości analiza wtrąceń ConnectomX mikrotom ultramikrotom do SEM obrazowanie 3D rekonstrukcja modeli 3D badania biologiczne analiza komórek i tkanek Katana mikroskopia elektronowa AXON mikroskop TEM Protochips analiza materiałowa ultramikrotom preparatyka próbek UC Enuity leica interfejs analityczny badanie czystości technicznej w przemyśle automotive Particle X Thermo Scientific ParticleX AM mikroskopia materiałowa phenom analiza czystości analiza pierwiastkowa wysokorozdzielcze obrazowanie Axia ChemiSEM XL G2 szybkie obrazowanie pure Freeze Substitution EM AFS2 Poseidon AX analiza in-situ TEM Triton AX stolik tensometryczny Kammrath & Weiss Fusion AX System grzewczy/elektryczny Delong LVEM 25E niskonapięciowy TEM transmisyjny mikroskop elektronowy analiza mikrostruktury EM TIC3X system preparatyki próbek Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego sem automatyczny procesor tkankowy EM TP Trymer do próbek EM RAPID Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego EM ICE Łamarka do noży szklanych EM KMR3 Urządzenie do witryfikacji EM GP2 LVEM5 Niskonapięciowy transmisyjny mikroskop elektronowy Automatyczna suszarka w punkcie krytycznym EM CPD300 Atmosphere AX System gazowy in-situ napylarka wysokopróżniowa EM ACE600 napylarka niskopróżniowa EM ACE200 TEMLeica kontrastowanie kontrastowania ac20 txp preparatyka
Zdjęcie produktu Leica EM ICE Urządzenie do zamrożenia wysokociśnieniowego
Zdjęcie produktu Leica EM GP2 Urządzenie do witryfikacji
Zdjęcie produktu Leica EM AFS2 Urządzenie do Freeze Substitution
Zdjęcie produktu Leica EM TXP urządzenie do mikropreparatyki próbek
Zdjęcie produktu Leica EM AC20 automatyczne urządzenie do kontrastowania
Zdjęcie produktu Leica EM RAPID Trymer do próbek
Zdjęcie produktu Kammrath & Weiss Moduły do rozciągania / ściskania
Zdjęcie produktu Leica EM TP Automatyczny procesor tkankowy
Zdjęcie produktu Mikromanipulatory MICRO / NANO - Imina Technologies
1 2 3 4

Partnerzy

Dwa groty strzał Dwa groty strzał
Logo serwisu LinkedIn
Logo serwisu YouTube

Informacje
kontaktowe

Dom

PIK Instruments sp. z o.o.

ul. Źródlana 9 05-090 Laszczki, Polska
Kartka papieru

NIP: 1231377998

KRS: 0000705300

REGON: 368854010

Dymek czatu

+48 22 726 74 96

kontakt@pik-instruments.pl

Odwiedź nasze pozostałe
strony internetowe

Odnośnik
https://micro-shop.pl
Odnośnik
https://laboratorium-pik.pl
Odnośnik
https://mikroskopiaswietlna.pl
Odnośnik
https://mikroskopelektronowy.pl
Odnośnik
https://metalografia-pik.pl

Certyfikacja
ISO 9001

Nasza firma posiada certyfikat ISO 9001 (nr 4804600) potwierdzający zgodność naszego systemu zarządzania jakością z międzynarodowymi standardami ISO. Jest to dowód naszego zobowiązania do utrzymania wysokich standardów jakości usług i produktów.

 
 

Copyright © 2026 by PIK Instruments | All Rights Reserved | Design by Pride of Lions

Logo serwisu YouTube
Logo serwisu LinkedIn